這個(gè)春天，“新質(zhì)生產(chǎn)力”成為當(dāng)之無愧的頂流，持續(xù)霸占熱詞榜Top 1。當(dāng)上能電氣遇上“新質(zhì)生產(chǎn)力”，又會(huì)迸發(fā)出什么樣的火花？

在國(guó)內(nèi)大力提倡新質(zhì)生產(chǎn)力的背景下，有著創(chuàng)新基因，目標(biāo)是展示光電行業(yè)創(chuàng)新技術(shù)和先進(jìn)制造能力的慕尼黑上海光博會(huì)，受到遠(yuǎn)超以往的關(guān)注。

2024年全國(guó)兩會(huì)期間，“新質(zhì)生產(chǎn)力”成為備受各界關(guān)注的高頻熱詞。 2023年9月，新質(zhì)生產(chǎn)力首次被提出；2024年，新質(zhì)生產(chǎn)力被寫入政府工作報(bào)告，要“大力推進(jìn)現(xiàn)代化產(chǎn)業(yè)體系建設(shè)，加快發(fā)展新質(zhì)生產(chǎn)力

測(cè)試元件 邏輯探針，20MHz

測(cè)試元件 邏輯探針，50MHz

3月13日，“聚焦高質(zhì)量，打造新質(zhì)生產(chǎn)力——億緯鋰能V圓柱電池達(dá)產(chǎn)儀式”在荊門舉行。市委書記胡亞波出席并宣布億緯鋰能V圓柱電池全面達(dá)產(chǎn)，市委副書記、市長(zhǎng)陳家偉講話，億緯鋰能董事長(zhǎng)劉金成博士致辭。

今年兩會(huì)期間，“新質(zhì)生產(chǎn)力”成為“榜一”熱詞。 何為新質(zhì)生產(chǎn)力？簡(jiǎn)單來說，就是基于科技創(chuàng)新發(fā)揮主導(dǎo)作用的新型生產(chǎn)力，可以看作是傳統(tǒng)生產(chǎn)力依托新興技術(shù)實(shí)現(xiàn)的躍遷。比如，制造業(yè)利用人工智能技術(shù)為設(shè)備插上

以新質(zhì)生產(chǎn)力為牽引，PC產(chǎn)業(yè)正在迎來全面革新

EMC測(cè)試整改：提升產(chǎn)品合規(guī)性和市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力？|深圳比創(chuàng)達(dá)電子在當(dāng)前的產(chǎn)品研發(fā)和制造領(lǐng)域，電磁兼容（EMC）測(cè)試是確保產(chǎn)品符合法規(guī)要求并能夠在各種電磁環(huán)境下正常工作的重要環(huán)節(jié)。然而，很多企業(yè)在進(jìn)行

工業(yè)級(jí)路由器是提高你的生產(chǎn)力和工作效率的關(guān)鍵工具。它們提供了強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理能力、無縫的網(wǎng)絡(luò)連接、實(shí)時(shí)安全防護(hù)、易于使用和管理、強(qiáng)大的兼容性和長(zhǎng)期穩(wěn)定性和可靠性。

近日，上海韜盛科技旗下的蘇州晶晟微納宣布推出其最新研發(fā)的N800超大規(guī)模AI算力芯片測(cè)試探針卡。這款高性能探針卡采用了前沿的嵌入式合金納米堆疊技術(shù)，旨在滿足當(dāng)前超大規(guī)模AI算力芯片的高精度測(cè)試需求。

科技創(chuàng)新能夠催生新產(chǎn)業(yè)、新模式、新動(dòng)能是發(fā)展新質(zhì)生產(chǎn)力的核心要素。必須加強(qiáng)科技創(chuàng)新，特別是原創(chuàng)性、顛覆性科技創(chuàng)新，加快實(shí)現(xiàn)高水平科技自立自強(qiáng)，打好關(guān)鍵核心技術(shù)攻堅(jiān)戰(zhàn)，使原創(chuàng)性、顛覆性科技創(chuàng)新成果競(jìng)相涌現(xiàn)，培育發(fā)展新質(zhì)生產(chǎn)力的新動(dòng)能。

新質(zhì)生產(chǎn)力的發(fā)展主要集中在新能源、新材料、先進(jìn)制造、電子信息等戰(zhàn)略性新興產(chǎn)業(yè)。 新質(zhì)生產(chǎn)力作為先進(jìn)生產(chǎn)力的具體體現(xiàn)形式，是馬克思主義生產(chǎn)力理論的中國(guó)創(chuàng)新和實(shí)踐，是科技創(chuàng)新交叉融合突破所產(chǎn)生的根本性

PT500典型工程裝備動(dòng)力傳動(dòng)系統(tǒng)故障模擬及測(cè)試平臺(tái)是一種用于模擬和測(cè)試工程裝備動(dòng)力傳動(dòng)系統(tǒng)故障的設(shè)備。以下是一些應(yīng)用場(chǎng)景

ArkTS是鴻蒙生態(tài)的應(yīng)用開發(fā)語言 ArkTS提供了聲明式UI范式、狀態(tài)管理支持等相應(yīng)的能力，讓開發(fā)者可以以更簡(jiǎn)潔、更自然的方式開發(fā)應(yīng)用。 同時(shí)，它在保持TypeScript（簡(jiǎn)稱TS）基本語法風(fēng)格的基礎(chǔ)上，進(jìn)一步通過規(guī)范強(qiáng)化靜態(tài)檢查和分析，使得在程序運(yùn)行之前的開發(fā)期能檢測(cè)更多錯(cuò)誤，提升代碼健壯性，并實(shí)現(xiàn)更好的運(yùn)行性能。 針對(duì)JavaScript（簡(jiǎn)稱JS）/TS并發(fā)能力支持有限的問題，ArkTS對(duì)并發(fā)編程API和能力進(jìn)行了增強(qiáng)。 ArkTS支持與JS/TS高效互操作，兼容JS/TS生態(tài)。 ArkTS設(shè)計(jì)理念 為更好地支持HarmonyOS應(yīng)用的開發(fā)和運(yùn)行，從Harmony OS NEXT Developer Preview 0版本開始，ArkTS在TS的基礎(chǔ)上，進(jìn)一步通過規(guī)范強(qiáng)化靜態(tài)檢查和分析，這樣做有兩個(gè)好處：許多錯(cuò)誤在編譯時(shí)可以被檢測(cè)出來，不用等到運(yùn)行時(shí)，這大大降低了代碼運(yùn)行錯(cuò)誤的風(fēng)險(xiǎn)，有利于程序的健壯性；2.減少運(yùn)行時(shí)的類型檢查，從而降低了運(yùn)行時(shí)負(fù)載，有助于提升執(zhí)行性能。 ArkTS保留了TS大部分的語法特性，這可以幫助開發(fā)者更容易上手ArkTS。同時(shí)，對(duì)于已有的標(biāo)準(zhǔn)TS代碼，開發(fā)者僅需對(duì)少部分代碼進(jìn)行ArkTS語法適配，大部分代碼可以直接復(fù)用。 ArkTS支持與標(biāo)準(zhǔn)JS/TS的高效互操作，兼容JS/TS生態(tài)。HarmonyOS也提供了標(biāo)準(zhǔn)JS/TS的執(zhí)行環(huán)境支持，在“更注重已有生態(tài)直接復(fù)用”的場(chǎng)景下，開發(fā)者可以選擇使用標(biāo)準(zhǔn)JS/TS進(jìn)行代碼復(fù)用或開發(fā)，更方便兼容現(xiàn)有生態(tài)。 ArkTS相比TS特性差異 ArkTS通過規(guī)范約束了TS中過于靈活而影響開發(fā)正確性或者給運(yùn)行時(shí)帶來不必要額外開銷的特性，下面通過代碼片段說明部分約束特性。 1.不支持在運(yùn)行時(shí)更改對(duì)象布局 以上TS代碼片段展示了如何在運(yùn)行時(shí)通過添加和刪除某些屬性來更改對(duì)象的布局。運(yùn)行時(shí)支持此類特性需要大量的性能開銷，ArkTS不支持在運(yùn)行時(shí)更改對(duì)象的布局。 在ArkTS中，可以使用可選屬性和給該屬性賦值undefined的方式來替代。 2.對(duì)象字面量須標(biāo)注類型 以上TS代碼片段展示了沒有類型的場(chǎng)景。如果編譯器不知道變量point的確切類型，由于對(duì)象布局不能確定，編譯器無法深度地優(yōu)化這段代碼，造成性能瓶頸。沒有類型也會(huì)造成屬性的類型缺少限制，例如point.x的類型在此時(shí)為number，它也可以被賦值成其他類型，造成額外的運(yùn)行時(shí)檢查和開銷。 在ArkTS中，需要為對(duì)象字面量標(biāo)注類型。 3.不支持structural typing 以上TS代碼片段展示了structural typing特性。在ArkTS已經(jīng)采用了nominal typing類型系統(tǒng)的前提下，如果額外支持structural typing給語言實(shí)現(xiàn)和開發(fā)者均會(huì)帶來不必要的復(fù)雜度。在示例中，foo雖然聲明參數(shù)類型是C，但也可以傳遞類型D的變量，這種靈活性可能不符合開發(fā)者的意圖，容易帶來程序行為的正確性問題。另外，由于類型D和類型C布局不同，那么foo中對(duì)c.s這個(gè)屬性訪問就不能被優(yōu)化成根據(jù)固定偏移量訪問的方式，從而給運(yùn)行時(shí)性能造成瓶頸。

作者：Jeff Shepard 投稿人：DigiKey 北美編輯 為了進(jìn)一步提高能效、安全性、生產(chǎn)力并降低總體成本，向工業(yè) 4.0 或工業(yè)物聯(lián)網(wǎng) (IIoT) 的轉(zhuǎn)變?nèi)栽诔掷m(xù)進(jìn)行。此項(xiàng)工作的關(guān)鍵是

探針測(cè)試臺(tái)是一種用于測(cè)試集成電路（IC）的設(shè)備，工作原理是將待測(cè)試的IC芯片安裝在測(cè)試座上，然后通過探針接觸到芯片的引腳，以測(cè)試芯片的功能和性能。在測(cè)試過程中，探針測(cè)試臺(tái)會(huì)生成一系列的測(cè)試信號(hào)，通過

PMT-C水光針刺穿力測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介PMT-C穿刺力測(cè)試儀是醫(yī)藥包裝系列專業(yè)用于膠塞穿刺力檢測(cè)的儀器。亦可進(jìn)行薄膜、復(fù)合膜、人造皮膚、組合蓋、口服 液蓋的穿刺力測(cè)試。參數(shù)設(shè)置滿足國(guó)標(biāo)和醫(yī)藥

中央經(jīng)濟(jì)工作會(huì)議提出，要以科技創(chuàng)新推動(dòng)產(chǎn)業(yè)創(chuàng)新，特別是以顛覆性技術(shù)和前沿技術(shù)催生新產(chǎn)業(yè)、新模式、新動(dòng)能，發(fā)展新質(zhì)生產(chǎn)力。會(huì)議還強(qiáng)調(diào)，要深化重點(diǎn)領(lǐng)域改革，促進(jìn)中小企業(yè)專精特新發(fā)展。 推動(dòng)專精特新企業(yè)

作為芯片晶圓測(cè)試階段的重要工具之一，探針卡在不斷更新迭代。為滿足更高需求的晶圓測(cè)試，針卡類型也逐漸從懸臂針卡向垂直針卡升級(jí)。

軟件測(cè)試這個(gè)過程的實(shí)施主體就是測(cè)試工程師。那么多少個(gè)測(cè)試工程師比較合適呢，或者換句話說如上的事情必須要測(cè)試工程師完成嗎？

ACp65是一種常用的探針，被廣泛用于研究細(xì)胞衰老、疾病發(fā)展和治療等領(lǐng)域。在本文中，我們將詳細(xì)介紹ACp65探針的參數(shù)、應(yīng)用以及未來的發(fā)展。 ACp65探針的基本參數(shù) ACp65探針是一種標(biāo)記于抗原

網(wǎng)絡(luò)安全測(cè)試工具是指用于評(píng)估和檢測(cè)系統(tǒng)、網(wǎng)絡(luò)和應(yīng)用程序的安全性的一類軟件工具。這些工具可以幫助組織和企業(yè)發(fā)現(xiàn)潛在的安全漏洞和威脅，以便及時(shí)采取措施加固和修復(fù)。根據(jù)不同的功能和用途，網(wǎng)絡(luò)安全測(cè)試工

探秘四軸按鍵測(cè)試機(jī)：提高生產(chǎn)效率的利器？|深圳磐石

自動(dòng)化按鍵測(cè)試模組技術(shù)規(guī)格書：提高生產(chǎn)效率的利器？|深圳磐石

綜上所述，用電源模塊自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試電源，不僅提高了測(cè)試速度和測(cè)試準(zhǔn)確性，而且還可以幫助用戶實(shí)現(xiàn)智能改造，以數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)生產(chǎn)力。

【中國(guó)，沈陽，2023年12月12日】以“形成新質(zhì)生產(chǎn)力 增強(qiáng)發(fā)展新動(dòng)能”為主題的沈陽渾南區(qū)發(fā)展新質(zhì)生產(chǎn)力投資促進(jìn)大會(huì)圓滿舉辦，華為高級(jí)副總裁、數(shù)字能源全球營(yíng)銷服體系總裁楊友桂受邀出席并發(fā)表“立足

Redis是一種高性能的內(nèi)存鍵值存儲(chǔ)系統(tǒng)，它被廣泛應(yīng)用于各種互聯(lián)網(wǎng)應(yīng)用和大規(guī)模的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)中。為了評(píng)估Redis在不同場(chǎng)景下的性能，我們需要使用一些性能測(cè)試工具來對(duì)Redis集群進(jìn)行基準(zhǔn)測(cè)試和負(fù)載測(cè)試

-產(chǎn)品詳情-PMT-B卡式瓶折斷力測(cè)試儀PMT-B 折斷力測(cè)試儀是醫(yī)藥包裝系列專業(yè)用于安瓿瓶折斷力檢測(cè)的儀器，滿足GB2637、YBB00332002標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)安瓿瓶的易折安瓿折斷力裝置要求。該儀器

提供了認(rèn)識(shí)和改造世界的新能力。數(shù)據(jù)資源的極大豐富與數(shù)字技術(shù)的深入應(yīng)用，給人類勞動(dòng)工具和勞動(dòng)方式帶來了顛覆性變革，推動(dòng)了勞動(dòng)生產(chǎn)力的大幅躍升。一方面是對(duì)傳統(tǒng)生產(chǎn)力的數(shù)字化和智能化改造

據(jù)傳感器專家網(wǎng)獲悉，近日，和林微納在接受機(jī)構(gòu)調(diào)研時(shí)表示，線針、MEMS晶圓測(cè)試探針均進(jìn)入部分客戶驗(yàn)證環(huán)節(jié)。 和林微納進(jìn)一步稱，半導(dǎo)體探針業(yè)務(wù)受行業(yè)及經(jīng)濟(jì)環(huán)境等綜合影響，營(yíng)業(yè)收入較往年有較大的變化

為什么需要芯片靜態(tài)功耗測(cè)試？如何使用芯片測(cè)試工具測(cè)試芯片靜態(tài)功耗？ 芯片靜態(tài)功耗測(cè)試是評(píng)估芯片功耗性能和優(yōu)化芯片設(shè)計(jì)的重要步驟。在集成電路設(shè)計(jì)中，靜態(tài)功耗通常是指芯片在不進(jìn)行任何操作時(shí)消耗的功率

效率，提高產(chǎn)品質(zhì)量，降低測(cè)試成本。本文將詳細(xì)介紹如何通過LED電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)提高測(cè)試效率。 一、引言 隨著LED技術(shù)的不斷發(fā)展和應(yīng)用的普及，LED電源的性能和質(zhì)量要求越來越高。傳統(tǒng)的手工測(cè)試方式效率低且易受人為因素影響，無法滿足大批量生產(chǎn)的

作為一名測(cè)試工程師，你的工作并不容易。降低成本和提高系統(tǒng)吞吐量的壓力一直存在。本文中，我們將討論影響系統(tǒng)吞吐量的關(guān)鍵因素以及如何降低ATE測(cè)試成本。

筆記本轉(zhuǎn)軸扭力測(cè)試儀是實(shí)用的測(cè)試工具嗎？|深圳磐石測(cè)控

。「美能光伏」為此生產(chǎn)了美能在線四探針電阻測(cè)試儀，該設(shè)備可在完成沉積工藝等眾多與電池方阻/電阻率有關(guān)的生產(chǎn)工藝后快速、精準(zhǔn)的對(duì)電池進(jìn)行檢測(cè)，保證在達(dá)到良好接觸率的同

針尖穿刺力測(cè)試儀注射針針尖刺穿力測(cè)試儀是一款專門用于檢測(cè)注射針針尖刺穿力的儀器，它在醫(yī)療、科研和工業(yè)制造等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。本文將介紹注射針針尖刺穿力測(cè)試儀的功能、原理和使用方法。注射針針尖刺穿力

今天浩道跟大家分享Linux下一款強(qiáng)大的壓力測(cè)試工具------stress-ng，這款測(cè)試工具對(duì)于運(yùn)維工程師或者測(cè)試工程師，還是比較受歡迎的。本文帶你安裝部署，并且列舉出它常用的測(cè)試命令，真正做到拿來即用，看完就沒有你不會(huì)用的！

電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《如何使PLC的設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn)達(dá)到更高的效率和生產(chǎn)力.pdf》資料免費(fèi)下載

工廠生產(chǎn)過程中，電力是不可或缺的重要資源。為了提高生產(chǎn)效率和生產(chǎn)質(zhì)量，工廠需要確保充足的電力供應(yīng)，并采取一系列措施來提高有功功率。那么，哪有有效的措施可以提高工廠生產(chǎn)用電的有功功率呢？

AT32F407_RTThreadStdio網(wǎng)絡(luò)測(cè)試工程演示AT32F407使用RTThread Stdio網(wǎng)絡(luò)測(cè)試工程。

Azure 有哪些工具和資源有助于提高開發(fā)者生產(chǎn)力？本篇文章 一次性放送 10+ 開發(fā)者工具 ，助您將安全性納入開發(fā)工作流程、了解如何簡(jiǎn)化測(cè)試、提升編碼速度，以及學(xué)習(xí)與 AI 協(xié)作的新技巧。 面向

2023上，基于大模型重構(gòu)的百度文庫(kù)升級(jí)發(fā)布，李彥宏表示百度文庫(kù)將變身生產(chǎn)力工具，在理解資料、撰寫文章、PPT智能生成的方面都在升級(jí)。 另外還有一個(gè)特別重要的是文心大模型4.0正式發(fā)布，而且文心同步開啟邀請(qǐng)測(cè)試。企業(yè)用戶可以登陸百度智能云官網(wǎng)，在千帆大模型平臺(tái)申請(qǐng)

從UBB目標(biāo)網(wǎng)革新，窺見智能時(shí)代的生產(chǎn)力變革

光伏逆變器是太陽能發(fā)電系統(tǒng)中非常重要的組件之一，它負(fù)責(zé)將直流電轉(zhuǎn)換為交流電以供家庭或公司使用。由于逆變器的功能極其重要，所以測(cè)試工作也是必不可少的。下面將對(duì)光伏逆變器測(cè)試工作內(nèi)容進(jìn)行詳細(xì)介紹。

的技術(shù)理解，生產(chǎn)了可對(duì)沉積ITO薄膜后的太陽能電池實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)多點(diǎn)掃描測(cè)量的美能四探針電阻測(cè)試儀，大大提高了太陽能電池在產(chǎn)業(yè)化生產(chǎn)中的質(zhì)量檢測(cè)效率。本期「美能光伏」

測(cè)試程序及測(cè)試板（loadboard）的開發(fā)是測(cè)試工程師最主要的工作，作為一個(gè)測(cè)試新手，你開發(fā)的東西也許在工程階段看不出什么問題，但一旦進(jìn)入大批量生產(chǎn)階段，就有可能會(huì)出現(xiàn)諸如測(cè)試不穩(wěn)定、測(cè)試

兩家公司擴(kuò)大合作，依托跨行業(yè)的生成式 AI 應(yīng)用和解決方案提供提高生產(chǎn)力所需的專業(yè)知識(shí)與技術(shù)；全新卓越中心將為 5 萬名 Infosys 員工提供 NVIDIA AI 技術(shù)培訓(xùn)。 9 月 20

兩家公司擴(kuò)大合作，依托跨行業(yè)的生成式AI應(yīng)用和解決方案提供提高生產(chǎn)力所需的專業(yè)知識(shí)與技術(shù)；全新卓越中心將為 5萬名 Infosys員工提供NVIDIA AI技術(shù)培訓(xùn)。 ? ? 印度班加羅爾和加

PW-US16T 探針式初粘力測(cè)試儀又叫探針式初粘力試驗(yàn)機(jī)(ProbeTackTester)，是膠帶初粘力測(cè)試的方式之一，主要用于各種膠帶、粘合劑類等各種不同產(chǎn)品的初始粘著力測(cè)試，產(chǎn)品滿足ASTM

制造工藝：制造高頻探針需要高度精密的工藝。通常，鎢粉與其他金屬粉末混合，然后通過拉拔機(jī)械等工藝加工成所需的尺寸和形狀。這確保了探針的尺寸精度和表面光滑度，以滿足高頻測(cè)試的要求。

薄膜穿刺力測(cè)試儀 隨著科技的飛速發(fā)展，各種薄膜在日常生活和工業(yè)生產(chǎn)中的應(yīng)用越來越廣。無論是食品包裝、電子設(shè)備還是新能源領(lǐng)域，薄膜都發(fā)揮著重要的作用。在這些薄膜的使用過程中，穿刺力是衡量其

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T900原廠提供了“串口測(cè)試工具”，以便更好地評(píng)估T900的相關(guān)性能。下面就簡(jiǎn)單談下該工具如何使用。

STM32Cube是STMicroelectronics獨(dú)創(chuàng)的一項(xiàng)計(jì)劃，旨在通過減少開發(fā)來顯著提高開發(fā)人員的生產(chǎn)力努力、時(shí)間和成本。STM32Cube涵蓋了整個(gè)STM32產(chǎn)品組合。 STM32卡套管

在SMT行業(yè)中，對(duì)pcba電子測(cè)試工程師必需具備基本的學(xué)士學(xué)位和豐富的工作履歷。電子工程師是SMT加工行業(yè)中生產(chǎn)制造和高端電子產(chǎn)品和項(xiàng)目開發(fā)團(tuán)隊(duì)中不可缺的一部分。

LCR-Reader 是加拿大專業(yè)團(tuán)隊(duì)多年經(jīng)驗(yàn)，開發(fā)的一款適合做電子開發(fā)工程師的一款測(cè)試工具。這是一款專業(yè)的四線，多功能電子電路測(cè)量工具。具有自動(dòng)測(cè)量電容/電阻/電感，電壓測(cè)試，頻率發(fā)生器，示波器

"去嵌"是一種高頻測(cè)試中常用的技術(shù)，旨在消除測(cè)量中探針或連接線等外部元件的影響，以便更準(zhǔn)確地測(cè)量被測(cè)試器件的性能。

有用。 在為嵌入式系統(tǒng)開發(fā)軟件時(shí)，準(zhǔn)確和高效的測(cè)試是必不可少的，特別是對(duì)于持續(xù)集成和功能安全流。 來自全面回歸測(cè)試套件的快速通過或失敗結(jié)果使團(tuán)隊(duì)能夠開發(fā)高質(zhì)量的軟件，而無需浪費(fèi)工程資源等待測(cè)試完成運(yùn)行

近年來，隨著電池廠商對(duì)太陽能電池生產(chǎn)的要求越來越高，在生產(chǎn)中太陽能電池的效率和性能也愈發(fā)重要。為了更好的判斷太陽能電池的效率和性能是否符合生產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)，「美能光伏」研發(fā)了美能四探針電阻測(cè)試儀，可對(duì)

四探針電阻測(cè)試儀，憑借其超寬的測(cè)量范圍、超高的測(cè)量精度，以及多種測(cè)量方案等優(yōu)點(diǎn)，致力于在測(cè)量和檢驗(yàn)方面保證產(chǎn)品質(zhì)量。本期「美能光伏」給您介紹測(cè)量薄層電阻的四探針法！四

半導(dǎo)體：生產(chǎn)過程主要可分為（晶圓制造 Wafer Fabrication） 、（封裝工序 Packaging）、（測(cè)試工序 Test） 幾個(gè)步驟。

AI 技術(shù)的進(jìn)步將改變汽車生命周期，大大提高生產(chǎn)力，并激發(fā)創(chuàng)新。 生成內(nèi)容和代碼、創(chuàng)建圖像和視頻、使用合成數(shù)據(jù)測(cè)試算法等生成式 AI 技術(shù)與應(yīng)用可為各行各業(yè)帶來生產(chǎn)力與創(chuàng)造力的飛躍。這在交通運(yùn)輸業(yè)

半導(dǎo)體：生產(chǎn)過程主要可分為（晶圓制造 Wafer Fabrication） 、（封裝工序 Packaging）、（測(cè)試工序 Test） 幾個(gè)步驟。

原文標(biāo)題：主打自動(dòng)分析數(shù)據(jù)，DesignDash憑什么拉升芯片設(shè)計(jì)生產(chǎn)力？ 文章出處：【微信公眾號(hào)：新思科技】歡迎添加關(guān)注！文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。

e絡(luò)盟攜手全球自動(dòng)化測(cè)試和測(cè)量系統(tǒng)領(lǐng)先制造商N(yùn)I亮相2023慕尼黑上海電子展。二者會(huì)共同展示NI一系列精選測(cè)試與測(cè)量產(chǎn)品，以滿足工程師日益增長(zhǎng)的測(cè)試測(cè)量需求。 NI持續(xù)致力于提供模塊化硬件、軟件

在工業(yè) 4.0 時(shí)代，診斷數(shù)據(jù)量逐年遞增，使系統(tǒng)變得更智能，能夠保持更長(zhǎng)的在線時(shí)間，并最終提高生產(chǎn)力。在可編程邏輯控制器 （PLC）系統(tǒng)、機(jī)器人和機(jī)床行業(yè)，傳統(tǒng)上仍然缺乏診斷數(shù)據(jù)的一個(gè)領(lǐng)域是 24 VDC 電源，它用于為工廠中的不同控制系統(tǒng)配電。

1、引言 測(cè)試工具千千萬，有專為硬件服務(wù)的萬用表、示波器之類，也有各種串口調(diào)試工具，于是萌生了想要DIY一個(gè)用于各種接口測(cè)試用的工具，說實(shí)話對(duì)于單片機(jī)的這些串口、IIC接口、SPI接口、ADC

6月28日上午，在2023 MWC上海大會(huì)上，華為輪值董事長(zhǎng)孟晚舟表示，數(shù)字生產(chǎn)力的本質(zhì)在于為社會(huì)創(chuàng)造新的活力和新動(dòng)力，隨著工業(yè)企業(yè)的5G滲透率不斷提升，我們有理由相信5G技術(shù)將持續(xù)躍升數(shù)字生產(chǎn)力。從消費(fèi)領(lǐng)域和工業(yè)領(lǐng)域的發(fā)展情況，我們看到5G正在跨越從量變向質(zhì)變的拐點(diǎn)。

半導(dǎo)體：生產(chǎn)過程主要可分為（晶圓制造 Wafer Fabrication） 、（封裝工序 Packaging）、（測(cè)試工序 Test） 幾個(gè)步驟。

CI/CT(Continuous Integration/Continuous Test，持續(xù)集成/持續(xù)測(cè)試)是一種軟件開發(fā)實(shí)踐。核心是通過一系列測(cè)試工具鏈的組合與自動(dòng)化測(cè)試工程結(jié)合，提交新版軟件

滲透字典 滲透測(cè)試工程師精簡(jiǎn)化字典，適用于常見場(chǎng)景。 字典目錄 ├── all-attacks│?? ├── all-attacks-payloads.txt

當(dāng)前，極片電阻的評(píng)價(jià)研發(fā)與生產(chǎn)中逐漸成為主流，主要基于其在提高電池開發(fā)效率與生產(chǎn)可靠性及降低降低開發(fā)與生產(chǎn)成本方面；ACCFILM膜片電阻測(cè)試系統(tǒng)集成高精密質(zhì)量傳感器，實(shí)現(xiàn)極片電阻、厚度、壓實(shí)密度、面密度等多參數(shù)測(cè)量一站式測(cè)量，綜合效率提高60%y以上，成本降低60%以上（四個(gè)測(cè)試工序合并成一個(gè)）

新唐的Nu-Link系列的調(diào)試工具有Nu-Link-Me (ICE), Nu-Link-Pro (ICE), Nu-Link (ICE)，支持1T的8051 IC例如N76E003, N76E616, N76E885…等，其他型號(hào)較舊的8051 IC目前并沒有支持，需使用另外的工具進(jìn)行調(diào)試。

據(jù)《經(jīng)濟(jì)日?qǐng)?bào)》報(bào)道，芯片測(cè)試設(shè)備制造企業(yè)穎崴科技6月14日在高雄舉行了高雄第二工廠竣工儀式。公司方面表示：“為生產(chǎn)用于半導(dǎo)體測(cè)試的探針芯片，將于今年年底在臺(tái)元科技園區(qū)建設(shè)新工廠。將擴(kuò)大現(xiàn)有生產(chǎn)能力。”繼新工廠啟動(dòng)之后，預(yù)計(jì)明年將以探針卡業(yè)績(jī)加倍為目標(biāo)。

現(xiàn)在，工業(yè)4.0（也稱為工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)或IIoT）浪潮正如火如荼，工業(yè)客戶更專注于部署解決方案以增加設(shè)備正常運(yùn)行時(shí)間，降低運(yùn)營(yíng)成本，延長(zhǎng)設(shè)備壽命，提高工人生產(chǎn)率。預(yù)測(cè)性維護(hù)解決方案結(jié)合檢測(cè)技術(shù)來收集設(shè)備

新唐的Nu-Link系列的調(diào)試工具有Nu-Link-Me (ICE), Nu-Link-Pro (ICE), Nu-Link (ICE)，支持1T的8051 IC例如N76E003, N76E616, N76E885…等，其他型號(hào)較舊的8051 IC目前并沒有支持，需使用另外的工具進(jìn)行調(diào)試。

Dude Suite 是一款集成化的Web滲透測(cè)試工具集，包含了Web滲透測(cè)試活動(dòng)中使用頻率非常高的功能，可以幫助我們高效地完成對(duì)Web應(yīng)用程序的滲透測(cè)試和攻擊。測(cè)試人員可依據(jù)自身對(duì)漏洞及滲透測(cè)試

未來幾年內(nèi)，數(shù)百萬的勞動(dòng)者，包括醫(yī)生、律師、經(jīng)理和銷售人員等，將會(huì)經(jīng)歷劃時(shí)代的轉(zhuǎn)變，利用人工智能顯著提高他們的生產(chǎn)力。最新一代人工智能系統(tǒng)的潛力可以從ChatGPT的廣泛傳播中生動(dòng)展現(xiàn)出來，這個(gè)

磁場(chǎng)探針臺(tái)主要用于半導(dǎo)體材料、微納米器件、磁性材料、自旋電子器件及相關(guān)技術(shù)領(lǐng)域的電、磁學(xué)特性測(cè)試,能夠提供磁場(chǎng)或變溫環(huán)境,并進(jìn)行高精度的直流/射頻測(cè)量。

介紹 H4滲透盒子是由@H4CKBU7EER開發(fā)，基于安卓的滲透測(cè)試工具集！使網(wǎng)安愛好者在手機(jī)上不必使用拗口的英文軟件和看群蟻白字的手機(jī)終端的便攜工具。 調(diào)用工具 在V1版本中，沒有在軟件里集成工具

探針臺(tái)的主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)測(cè)試平臺(tái)，探針臺(tái)可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個(gè)可調(diào)測(cè)試針以及探針座，配合測(cè)量?jī)x器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè)

詳解半導(dǎo)體封裝測(cè)試工藝

在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的制造流程上，主要可分成IC設(shè)計(jì)、晶圓制程、晶圓測(cè)試及晶圓封裝四大步驟。 其中所謂的晶圓測(cè)試，就是對(duì)晶圓上的每顆晶粒進(jìn)行電性特性檢測(cè)，以檢測(cè)和淘汰晶圓上的不合格晶粒。 下面我們一起來了解一下半導(dǎo)體晶圓測(cè)試的核心耗材——探針卡，以及探針卡與LTCC/HTCC技術(shù)有著怎樣的聯(lián)系。

這些簡(jiǎn)單而通用的3 LED邏輯探針電路可用于測(cè)試數(shù)字電路板，如CMOS、TTL或類似電路板，以排除IC和相關(guān)級(jí)的邏輯功能故障。

Multisim的虛擬測(cè)試儀器中還有電流探針，模擬鉗式電流表，其原理是電流互感器原理。與傳統(tǒng)電流表不一樣，鉗式電流表不需要串聯(lián)接入電路中，而只需要將其前端的鉗子（電流夾）打開，使得待測(cè)電流導(dǎo)線與鉗子相互環(huán)繞，利用變壓器變電流的原理測(cè)量電流。其特點(diǎn)就是可以實(shí)現(xiàn)在線測(cè)量。

高級(jí)副總裁、ICT戰(zhàn)略與Marketing總裁彭松發(fā)表了“躍升數(shù)字生產(chǎn)力，共促高質(zhì)量發(fā)展”的主題發(fā)言。 主要發(fā)言內(nèi)容如下 數(shù)字中國(guó)的不斷推進(jìn)對(duì)數(shù)字基礎(chǔ)設(shè)施提出了新的需求，也推動(dòng)產(chǎn)業(yè)快速變化 數(shù)字經(jīng)濟(jì)的高質(zhì)量發(fā)展一定要討論數(shù)字生產(chǎn)力如何去提升。

晶圓測(cè)試的方式主要是通過測(cè)試機(jī)和探針臺(tái)的聯(lián)動(dòng)，在測(cè)試過程中，測(cè)試機(jī)臺(tái)并不能直接對(duì)待測(cè)晶圓進(jìn)行量測(cè)，而是透過探針卡（Probe Card）中的探針（Probe）與晶圓上的焊墊（Pad）或凸塊（Bump）接觸而構(gòu)成電性接觸

探針卡是半導(dǎo)體晶圓測(cè)試過程中需要使用的重要零部件，被認(rèn)為是測(cè)試設(shè)備的“指尖”。由于每一種芯片的引腳排列、尺寸、間距變化、頻率變化、測(cè)試電流、測(cè)試機(jī)臺(tái)有所不同，針對(duì)不同的芯片都需要有定制化的探針卡

晶圓測(cè)試的方式主要是通過測(cè)試機(jī)和探針臺(tái)的聯(lián)動(dòng)，在測(cè)試過程中，測(cè)試機(jī)臺(tái)并不能直接對(duì)待測(cè)晶圓進(jìn)行量測(cè)，而是透過探針卡（Probe Card）中的探針（Probe）與晶圓上的焊墊（Pad）或凸塊（Bump）接觸而構(gòu)成電性接觸。

的邊界，創(chuàng)作者可以生產(chǎn)出過去無法想出的杰出創(chuàng)意。 技術(shù)倫理成為發(fā)展的重要關(guān)注點(diǎn) AIGC技術(shù)的發(fā)展無疑是革命性的。它可以改善我們的日常生活，提高生產(chǎn)力，但也面臨著諸多技術(shù)倫理方面的挑戰(zhàn)。 一個(gè)典型

模型動(dòng)態(tài)測(cè)試工具TPT 19 新特性速覽，助您提升測(cè)試效率！

自動(dòng)化測(cè)試工具是指能夠自動(dòng)執(zhí)行測(cè)試任務(wù)、記錄測(cè)試結(jié)果和產(chǎn)生測(cè)試報(bào)告的軟件工具，其主要目的是用來提高測(cè)試效率、降低測(cè)試成本、提高測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。

思達(dá)科技多年來致力在MEMS探針的技術(shù)研發(fā)，持續(xù)推出先進(jìn)的測(cè)試探針卡，以滿足各種行業(yè)的產(chǎn)業(yè)測(cè)試需求，Virgo Prima系列是專為微型化程序IC而設(shè)計(jì)，用在產(chǎn)線WAT（晶圓驗(yàn)收）/ 電性測(cè)試

摘要 : 講述EMC的定義，EMC在單片機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)的測(cè)試方法，EMC新器件新材料的應(yīng)用以及故障排除技術(shù)。只要從事電子產(chǎn)品的研發(fā)、生產(chǎn)或者供應(yīng)。就必須進(jìn)行EMC電磁兼容的檢測(cè)工作。引言所謂 EMC

嗨，團(tuán)隊(duì)，我們?cè)?s32k 項(xiàng)目中使用 BIST，因?yàn)?bist 會(huì)在測(cè)試完成后導(dǎo)致功能重置。和1. 我們想知道如何在s32k 執(zhí)行功能重置時(shí)使用調(diào)試工具（例如trace32）來跟蹤軟件。2. 并且，如何在功能重置后重新初始化 s32k。因?yàn)槲易⒁獾?ram 變成了“？？？” 功能重置后：

BLEgatewaywebsokettesttools是研為通訊最近上線的一款針對(duì)研為通訊旗下easywphy品牌系列藍(lán)牙網(wǎng)關(guān)的測(cè)試工具，支持線上web訪問使用，該工具采用可視化界面方式，簡(jiǎn)化藍(lán)牙

射頻探針（RF Probe）是一種用于測(cè)量射頻電路參數(shù)的測(cè)試工具。它通常由一個(gè)金屬探頭和一個(gè)接收器組成，金屬探頭用于接觸被測(cè)對(duì)象，接收器用于測(cè)量電路參數(shù)。