一、摘要
晶體管測量儀器是以通用電子測量儀器為技術基礎,以半導體器件為測量對象的電子儀器。用它可以測試晶體三極管(NPN型和PNP型)的共發射極、共基極電路的輸入特性、輸出特性;測試各種反向飽和電流和擊穿電壓,還可以測量場效管、穩壓管、二極管、單結晶體管、可控硅等器件的各種參數。下面以XJ4810型晶體特性圖示儀為例介紹晶體管圖示儀的使用方法。
二、晶體管測試儀作用
可測試儀性能穩定,能自動讀出準確數據,使用方便,適用于電子愛好者、電子開發者、設計者、與電子維修者必需小儀器。它可測各種二極管,三極管,可控硅,MOS場效應管;能判斷器件類型,引腳的極性,輸出HFE,閥電壓,場效應管的結電容,附加條件可測電容和電阻等。特別適合晶體管配對和混雜表貼元件識別。
三、XJ4810型晶體管特性圖示儀面板功能介紹
XJ4810型晶體管特性圖示儀面板如圖A-23所示:
1. 集電極電源極性按鈕,極性可按面板指示選擇。
2. 集電極峰值電壓保險絲:1.5A。
3. 峰值電壓%:峰值電壓可在0~10V、0~50V、0~100V、0~500V之連續可調,面板上的標稱值是近似值,參考用。
4. 功耗限制電阻:它是串聯在被測管的集電極電路中,限制超過功耗,亦可作為被測半導體管集電極的負載電阻。
5. 峰值電壓范圍:分0~10V/5A、0~50V/1A、0~100V/0.5A、0~500V/0.1A四擋。當由低擋改換高擋觀察半導體管的特性時,須先將峰值電壓調到零值,換擋后再按需要的電壓逐漸增加,否則容易擊穿被測晶體管。
AC擋的設置專為二極管或其他元件的測試提供雙向掃描,以便能同時顯示器件正反向的特性曲線。
6. 電容平衡:由于集電極電流輸出端對地存在各種雜散電容,都將形成電容性電流,因而在電流取樣電阻上產生電壓降,造成測量誤差。為了盡量減小電容性電流,測試前應調節電容平衡,使容性電流減至最小。
7. 輔助電容平衡:是針對集電極變壓器次級繞組對地電容的不對稱,而再次進行電容平衡調節。
8. 電源開關及輝度調節:旋鈕拉出,接通儀器電源,旋轉旋鈕可以改變示波管光點亮度。
9. 電源指示:接通電源時燈亮。
10. 聚焦旋鈕:調節旋鈕可使光跡最清晰。
11. 熒光屏幕:示波管屏幕,外有座標刻度片。
12. 輔助聚焦:與聚焦旋鈕配合使用。
13. Y軸選擇(電流/度)開關:具有22擋四種偏轉作用的開關。可以進行集電極電流、基極電壓、基極電流和外接的不同轉換。
14. 電流/度×0.1倍率指示燈:燈亮時,儀器進入電流/度×0.1倍工作狀態。
15. 垂直移位及電流/度倍率開關:調節跡線在垂直方向的移位。旋鈕拉出,放大器增益擴大10倍,電流/度各擋IC標值×0.1,同時指示燈14亮。
16. Y軸增益:校正Y軸增益。
17. X軸增益:校正X軸增益。
18.顯示開關:分轉換、接地、校準三擋,其作用是:
⑴轉換:使圖像在Ⅰ、Ⅲ象限內相互轉換,便于由NPN管轉測PNP管時簡化測試操作。
⑵接地:放大器輸入接地,表示輸入為零的基準點。
?、切剩喊聪滦舒I,光點在X、Y軸方向移動的距離剛好為10度,以達到10度校正目的。
19. X軸移位:調節光跡在水平方向的移位。
20. X軸選擇(電壓/度)開關:可以進行集電極電壓、基極電流、基極電壓和外接四種功能的轉換,共17擋。
21. “級/簇”調節:在0~10的范圍內可連續調節階梯信號的級數。
22. 調零旋鈕 :測試前,應首先調整階梯信號的起始級零電平的位置。當熒光屏上已觀察到基極階梯信號后,按下測試臺上選擇按鍵“零電壓”,觀察光點停留在熒光屏上的位置,復位后調節零旋鈕,使階梯信號的起始級光點仍在該處,這樣階梯信號的零電位即被準確校正。
23. 階梯信號選擇開關:可以調節每級電流大小注入被測管的基極,作為測試各種特性曲線的基極信號源,共22擋。一般選用基極電流/級,當測試場效應管時選用基極源電壓/級。
24. 串聯電阻開關:當階梯信號選擇開關置于電壓/級的位置時,串聯電阻將串聯在被測管的輸入電路中。
25. 重復--關按鍵:彈出為重復,階梯信號重復出現;按下為關,階梯信號處于待觸發狀態。
26. 階梯信號待觸發指示燈:重復按鍵按下時燈亮,階梯信號進入待觸發狀態。
27. 單簇按鍵開關:單簇的按動其作用是使預先調整好的電壓(電流)/級,出現一次階梯信號后回到等待觸發位置,因此可利用它瞬間作用的特性來觀察被測管的各種極限特性。
28. 極性按鍵:極性的選擇取決于被測管的特性。
29. 測試臺:其結構如圖A-24所示。
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