1.LTE技術概述
LTE的正式名稱是3G Long Term Evolution(LTE),即3GPP長期演進(LTE)項目。 3GPP長期演進(LTE)項目是近兩年來3GPP啟動的最大的新技術研發項目,以OFDM/FDMA為核心的技術,與其說是3G技術的“演進”(evolution),不如說是“革命”(revolution)。LTE系統支持FDD和TDD兩種雙工方式。在這兩種雙工方式下,系統的大部分設計,尤其是高層協議方面是一致的。另一方面,在系統底層設計,尤其是物理層的設計上,由于FDD和TDD兩種雙工方式在物理特性上所固有的不同,LTE系統為TDD的工作方式進行了一系列專門的設計,這些設計在一定程度上參考和繼承了3G TD-SCDMA的設計思想。 LTE著重考慮的方面主要包括降低時延、提高用戶的數據率、增大系統容量和覆蓋范圍以及降低運營成本等。LTE的目標主要包括以下的內容:
– 支持1.25MHz~20MHz帶寬;
– 極大提高峰值數據速率(在20MHz帶寬下支持下行100Mbps、上行50Mbps的峰值速率);
– 在保持現有基站位置的同時提高小區邊緣比特速率;
– 有效提高頻譜效率(3GPP版本6的2~4倍);
– 將接入網時延降低到10ms以下;將控制平面時延降低到100ms以內;
– 降低空中接口和網絡架構的成本;
– 支持增強的IP多媒體子系統(IP Multimedia Sub-system,IMS)和核心網;盡可能保證后向兼容,有效地支持多種業務類型,尤其是分組域(PS-Domain)業務(如VoIP等);
– 優化系統為低移動速度終端提供服務,同時也應支持高移動速度終端;
– 支持增強型的廣播多播業務;
– 系統應該能工作在對稱和非對稱頻段;盡可能簡化處于相鄰頻帶運營商共存的問題
2.TD-LTE技術特點
LTE系統支持FDD和TDD兩種雙工方式。在這兩種雙工方式下,系統的大部分設計,尤其是高層協議方面是一致的。另一方面,在系統底層設計,尤其是物理層的設計上,由于FDD和TDD兩種雙工方式在物理特性上所固有的不同,LTE系統為TDD的工作方式進行了一系列專門的設計,這些設計在一定程度上參考和繼承了TD-SCDMA的設計思想,下面我們對這些設計進行簡要的描述與討論。
3GPP LTE和之前的系統在空中接口上存在很大的不同,所以對于測試就提出了新的要求?;谠?G測試領域的豐富經驗和領先地位,安捷倫對于LTE標準從早期的研發階段就開始跟蹤研究,積累了豐富的經驗成果,目前不僅可以為LTE FDD,而且也可以為TD-LTE無線設備研發提供了完整的測試產品線。設備制造商自始自終都可以依賴于安捷倫公司的產品和專家級的支持。
無線幀結構
因為TDD采用時間來區分上、下行,資源在時間上是不連續的,需要保護時間間隔來避免上下行之間的收發干擾,所以LTE分別為FDD和TDD設計了各自的幀結構,即Type1和Type2,其中Type1用于FDD,而Type2用于TDD。
在FDD Type1中,10ms的無線幀分為10個長度為1ms的子幀,每個子幀由兩個長度為0.5ms的slot組成。 在TDD Type2中,10ms的無線幀由兩個長度為5ms的半幀組成,每個半幀由5個長度為1ms的子幀組成,其中有4個普通的子幀和1個特殊子幀。普通子幀由兩個0.5ms的slot組成,特殊子幀由3個特殊時隙(UpPTS,GP和DwPTS)組成。
在LTE中TDD與FDD幀結構最顯著的區別在于:在TDDType2幀結構中存在1ms的特殊子幀,該子幀由三個特殊時隙組成:DwPTS,GP和UpPTS,其含義和功能與TD-SCDMA系統相類似,其中DwPTS始終用于下行發送,UpPTS始終用于上行發送,而GP作為TDD中下行至上行轉換的保護時間間隔。,三個特殊時隙的總長度固定為1ms,而其各自的長度可以根據網絡的實際需要進行配置。
上下行的時間分配
TDD另外一個顯著區別于FDD的物理特征是,FDD依靠頻率區分上下行,因此其單方向的資源在時間上是連續的;而TDD依靠時間來區分上下行,所以其單方向的資源在時間上是不連續的,時間資源在兩個方向上進行了分配。
下圖是LTE TDD中支持的7種不同的上、下行時間配比,從將大部分資源分配給下行的“9:1”到上行占用資源較多的“2:3”,在實際使用時,網絡可以根據業務量的特性靈活的選擇配置。這樣,在資源組成上TDD與FDD所固有的不同,成為了LTE中另一部分為TDD所進行的專門設計的原因。這一部分設計主要包括“物理層HARQ的相關機制”,以及“采用頻分的隨機接入信道”。
允許同一時間上存在多個隨機接入信道(頻分)是TDD上下行時分的結構形成的又一設計結果。在LTEFDD的設計中,同一時刻只允許一個隨機接入信道的存在,即僅在時間域上改變隨機接入信道的數量。而在TDD中,時間資源已經在上下行進行了分配,同時由于不同的上下行配比的存在,可能存在上行子幀數目很少的情況(如DL:UL=9:1),因此在TDD中需要支持頻分的隨機接入信道,即在同一時間位置上采用不同頻率的區分提供多個隨機接入信道,以為系統提供足夠的隨機接入的容量。
在FDD的情況下,上、下行的資源在單方向上都是連續的,而且子幀數目相等。因此,以下行為例,在進行物理層的HARQ時,下行數據與上行的ACK/NAK之間可以建立一對一的對應關系。與此不同的是,在TDD的情況下,單方向的資源不是連續的,因此可能無法獲得對應的時間上的資源。另外,上下行配比的設置可能使得上下行的子幀數目不相等,因此無法建立一一對應的關系,所以這些都需要進行針對性的設計。在TD-LTE,為了解決以上問題,引入了Multiple ACK/NAK的概念,即使用一個ACK/NAK完成對前續若干個下行數據的反饋,這樣就解決了上下行時隙不對稱帶來的反饋問題。在另一個方面,同時還減小了數據的傳輸時延,數據無需再等待到下一個上行時隙以進行反饋了。當然,該方案可能引起的不必要的過多重傳也需要引起注意。
同步信道
同步信道是另一項體現不同雙工方式的設計。LTE中用于小區搜索的同步信道包括“主同步信號”和“輔同步信號”。在兩種幀結構中,同步信號具有不同的位置:在FDDType1中兩個同步信號連接在一起,位于子幀0和5的中間位置;而TDD Type2中,輔同步信號位于子幀0的末尾,主同步信號位于特殊子幀,即DwPTS的第三個符號。在兩種幀結構中,同步信號在無線幀中的絕對位置不相同,更為重要的是,主、輔同步信號的相對位置不同:在FDD中兩個信號連接在一起,而在TDD中兩個信號之間有兩個符號的時間間隔。由于同步信號是終端進行小區搜索時最先檢測的信號,這樣不同的相對位置的設計使得終端在接入網絡的最開始階段就可以檢測出網絡的雙工方式,即FDD或者TDD。
隨機接入前導
隨機接入前導(Random Access preamble)的設計是LTE對TDD的另一項特殊設計。在LTE中,隨機接入序列采用如下圖所示的5種隨機接入序列格式。其中最后一種隨機接入序列格式是TDD所特有的,由于其長度明顯短于其它的4種格式,因此又稱為“短RACH”。采用短RACH的原因也是與TDD關于特殊時隙的設計相關的,如同圖中所描述的,短RACH在特殊時隙的最后部分(即UpPTS)進行發送,這樣利用這一部分的資源完成上行隨機接入的操作,避免占用正常子幀的資源。采用短RACH時,需要注意的一個主要問題是其鏈路預算所能夠支持的覆蓋半徑,由于其長度要大大的小于其它格式的RACH序列,因此其鏈路預算相對較低,相應的適用于覆蓋半徑較小的場景(根據網絡環境的不同,約700m~2km)。
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是德科技TD-LTE基站性能測試方案
引言
LTE(Long Term Evolution長期演進)技術是第三代移動通信演進的主要方向。作為一種先進的技術,LTE系統在提高峰值數據速率、小區邊緣速率、頻譜利用率、控制 面和用戶面時延以及降低運營和建網成本等方面擁有巨大的優勢。同時,LTE系統與現有系統(2G/2.5G/3G)能夠共存,并且實現平滑演進。
LTE系統按照雙工方式分為頻分雙工(FDD)和時分雙工(TDD)兩種。其中LTE-TDD制式相對于FDD制式具有頻譜利用靈活、支持非對稱業務等諸多優勢,是中國通信業界力推的國際標準。
系統吞吐率是衡量TD-LTE基站綜合性能的重要指標。吞吐率的測試需要基站(eNB)與測試儀器(模擬UE)之間實現實時反饋并動態調整。測試儀器不 僅需要能夠生成符合3GPP標準的TD-LTE 上行信號,同時還需要模擬相應的信道衰落模型,并且根據基站下發的ACK/NACK指令實時地調整發射信號的編碼冗余因子,以模擬真實的通信環境。本方案 采用是德科技基帶信號發生器與信道仿真儀N5106A PXB或是德科技最新信號發生器N5182B/N5172B作為測試平臺,通過Real-time版本的Signal Studio N7625 for LTE TDD生成TD-LTE測試信號并經過信道衰落后送給基站進行解碼從而可以統計出基站的吞吐率。
1 HARQ測試原理
1.1 上行HARQ方式
LTE系統將在上行鏈路采用同步非自適應HARQ技術。雖然異步自適應HARQ技術與同步非自適應技術比較,在調度方面的靈活性更高,但是后者所需的信 令開銷更少。由于上行鏈路的復雜性,來自其他小區用戶的干擾是不確定的,因此基站無法精確估測出各個用戶實際的信干比(SINR)值。由于SINR值的不 準確性導致上行鏈路對于調制編碼模式(MCS)的選擇不夠精確,所以更多地依賴HARQ技術來保證系統的性能。因此,上行鏈路的平均傳輸次數會高于下行鏈 路。所以,考慮到控制信令的開銷問題,在上行鏈路使用同步非自適應HARQ技術。
1.2 上行HARQ時序
LTE TDD制式的上下行信號在時域上交錯分布,因此其HARQ時序映射關系較FDD更為復雜。根據3GPP TS 36.213規定,TDD制式不同UL/DL Configuration下,下行子幀只在規定位置發送ACK/NACK指令,每個位置發送的ACK/NACK指令對應特定的上行子幀信號,如表1所 示。
3GPP TS 36.141規定性能測試只需在配置1下進行,因此可以根據表1的描述得到配置1時的時序圖:
在配置1時,上行只在子幀2、3、7和8四個位置發送上行信號;下行由基站在子幀1、4、6和9發送ACK/NACK指令,指令的指示對象及重傳位置關系如圖1所示。
2 測試平臺
2.1 硬件平臺
性能測試目的在于模擬實際環境下的系統吞吐率,因此需要基站與測試儀器進行聯調。硬件測試平臺包括:支持2天線接收的TD-LTE eNB基站、是德科技基帶信號發生器與信道仿真儀PXB、是德科技矢量信號發生器MXG(主要用于上變頻)以及一臺四通道示波器(用于系統調試)。測試系 統結構如下:
圖2 N5106 PXB測試系統
PXB實時產生TD-LTE上行信號并經過特定信道模型下的衰落后,輸出的基帶I/Q信號經過MXG上變頻分別送入基站的兩根接收天線?;径藢邮盏?的射頻信號進行解調解碼,并以RS232C的串行通信方式將反饋結果(ACK/NACK指令)傳回至PXB,PXB根據ACK/NACK指令實時調整RV 因子重新發送數據包或選擇放棄當前數據包(當eNB發送ACK信號或是已達到最大重傳次數)。最后基站端統計得到系統的吞吐率。
如果測試環境確實希望使用外置信道仿真器,則只需使用是德科技N5182B/N5172B射頻信號發生器即可完成上述系統的測試。典型的測量系統如圖3所示。
圖3 N5182B/72B MXG-B測試系統 2.2 軟件平臺
PXB或N5182B/72B通過Signal Studio N7625B-WFP for LTE TDD 軟件產生特定的參考測試信號,并實時地調整編碼冗余因子。
圖4 上行信號配置
圖5 HARQ設置 2.3 反饋信號格式
基站下發給PXB或N5182B/72B的ACK/NACK信號以RS232C串行通信的數據格式進行編碼,PXB或N5182B/72B根據相同的編 碼速率和格式進行解碼得到ACK/NACK值。反饋信號由8個比特組成,1個起始位,1個停止位,無奇偶校驗位。具體的數據格式如表2所示。
3 測試結果
按照測試結構圖搭建好測試系統并配置軟件平臺,啟動基站及PXB或N5182B/72B,同時在示波器和基站控制端觀察測試結果。
圖6 PXB或N5182B/72B實時響應圖
6為示波器上觀察到的PXB或N5182B/72B實時響應。通道1、2、3和4分別為上行信號幀頭、ACK/NACK指令序列、上行信號I/Q數據以 及 PXB或N5182B/72B的ACK/NACK響應(高電平為ACK,低電平為NACK)。如圖所示,HARQ時序響應與標準協議完全相符。
基站端對上行射頻信號進行分集接收并解調,然后通過CRC校驗對接收結果作出判斷,最后得到在特定衰落模型下的系統吞吐率。
根據3GPP TS 36.141規定,選取PUSCH,20MHz帶寬信號作為測試案例。在2根接收天線,Normal CP下,按照列出的前10個Case依次測試,結果如下:
4 結論
結果表明,系統完全滿足標準測試要求。測試過程透明可見,結果顯示直觀可信。同時,該測試系統在不添加任何硬件配置的情況下,僅僅通過軟件配置即可實現 1×2,2×2,2×4及4×2的MIMO配置,從而實現基站HARQ,Timing Adjustment以及PUCCH性能測試,是TD-LTE基站性能測試的理想平臺。
推薦方案:是德科技基帶信號發生器與信道仿真儀 N5106A PXB配合信號發生器MXG和signal studio N7625B可以提供一站式的整體解決方案;如果測試系統已有專用信道仿真器,則可使用是德科技信號發生器N5182B/72B及signal studio N7625B完成最終測試。1 前言
LTE系統支持FDD和TDD兩種雙工方式。在這兩種雙工方式下,系統 的大部分設計,尤其是高層協議方面是一致的。另一方面,在系統底層設計,尤其是物理層的設計上,由于FDD和TDD兩種雙工方式在物理特性上所固有的不 同,LTE系統為TDD的工作方式進行了一系列專門的設計,這些設計在一定程度上參考和繼承了TD-SCDMA的設計思想,下面我們對這些設計進行簡要的 描述與討論。
3GPP LTE和之前的系統在空中接口上存在很大的不同,所以對于測試就提出了新的要求。基于在3G測試領域的豐富經驗和領先地位,是德科技對于LTE標準從早期 的研發階段就開始跟蹤研究,積累了豐富的經驗成果,目前不僅可以為LTE FDD,而且也可以為TD-LTE無線設備研發提供了完整的測試產品線。設備制造商自始自終都可以依賴于是德科技的產品和專家級的支持。
如下圖所示,我們可以看到是德科技在LTE FDD/TD-LTE各個領域以及客戶研發設備的整個生命周期都能給出完整的解決方案,適合不同客戶的需求。
圖一 Keysight LTE整體解決方案
2 Keysight TD-LTE測試解決方案
干擾信號和有效信號還有另外一個特點,那就是干擾信號和有效信號會隨著車速、風速的快慢而改變。抗干擾的方法如圖4所示,首先由RC 組成的低通濾波器濾除高頻干擾信號,并對輸入信號的幅值進行限幅與整形,再由光電隔離器件實現數據采集器與變頻器之間的隔離,從而實現數字信號通道的抗干擾要求。
Keysight的接收機端測試系統
通過signal studio波形生成軟件生成LTE波形下載到PXB進行播放,通過PXB模擬MIMO Fading信道狀況,并利用另外兩臺EXG/MXG分別輸出兩路MIMO射頻信號,來測試在有干擾和多徑的情況下的LTE接收機接收信號和抗干擾的能力。
圖二 LTE接收機測試
PXB MIMO接收機測試系統
是德科技的N5106A PXB MIMO 接收機測試儀能夠有效地解決在實際無線信道條件下多天線信號產生和信道仿真的需求(圖 1)。它可以快速生成真實條件下的 MIMO 環境和 MIMO 信道,并可生成包括路徑衰落和信道相關在內的實際衰落場景。PXB MIMO 接收機測試儀提供多達 4 個基帶發生器(BBG)、8 個衰落產生器(fader)、業內最寬的120 MHz 帶寬、能夠模擬寬帶的無線信道特性,比如時變的多徑時延擴展,多普勒擴展,快衰落,陰影衰落等。用戶還可自己定制 MIMO 相關性設置(例如,預定義的信道模型、天線方位圖和相關矩陣)并可支持 2x2、2x4 和 4x2 MIMO 的信號產生和信道仿真。
圖1:N5106A多通道基帶信號源
3、TD-LTE 發射機端測試方案
Keysight TD-LTE發射端測試系統
Keysight TD-LTE MIMO發射端測試系統
是德科技借助PXB N5106A多通道信道衰落仿真器,MXG N5182A矢量調制信號源以及MXA/EXA系列信號分析儀搭建的LTE MIMO測試系統可真實模擬和仿真3GPP協議最新標準的MIMO測試,如上圖所示,該系統通過PXB N5106A連接MXG 5182A產生TD-LTE標準的2*2MIMO信號,然后通過2臺MXA進行發射端分析,借助89601A軟件平臺可對3GPP Conformance規范的各項MIMO指標進行嚴格的標定及測試。
Keysight TD-LTE BBIC/RFIC測試系統方案
針對目前LTE的終端BBIC和RFIC測試需求,是德科技除了可以通過邏輯分析儀加89601A矢量分析軟件實現數字基帶域的分析以外,還可通過N5343A和N5344A分別實現數字基帶域的DigRF v3和v4標準接口協議的激勵和分析。
4 總結
1. 是德科技借助其在無線,數字以及射頻測試領域多年的積累和經驗第一時間時間推出LTE解決方案,可以真正幫助可以對于基站收發信機、基站功放、直放站、終 端射頻芯片、基帶芯片分別用不同的測試系統來完成,目前國內做LTE相關設備廠商如大唐、普天、中興、華為等相關廠商均選擇是德科技的測試方案作為其 LTE相關研發測試的工具。
2. 是德科技強大的研發工具矢量信號分析軟件89601A可連接是德科技從基帶端的示波器到邏輯分析儀再到中頻射頻端的頻譜分析儀、信號源,甚至連LTE綜測 儀都可通過該軟件連接控制,并分別對數字基帶、模擬基帶、中頻、射頻信號進行分析,從而使得我們的客戶可以在研發中快速準確定位其問題所在。
干擾信號和有效信號還有另外一個特點,那就是干擾信號和有效信號會隨著車速、風速的快慢而改變??垢蓴_的方法如圖4所示,首先由RC 組成的低通濾波器濾除高頻干擾信號,并對輸入信號的幅值進行限幅與整形,再由光電隔離器件實現數據采集器與變頻器之間的隔離,從而實現數字信號通道的抗干擾要求。
文章詳情:4G TD-LTE測試解決方案全方位解讀
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思博倫4G LTE測試解決方案
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多數LTE部署很可能要升級,因此LTE設備和服務需要與現有的網絡技術實現無縫的兼容性。選擇LTE設備的消費者希望此類設備能夠從服務部署 的第 一天起便開始提供完善的服務,因此要想實現成功,其中的秘訣便是在設計、開發和部署階段對網絡組件及設備進行全面的LTE測試和驗證。而且所有這一切都需 要在巨大的入市時間壓力背景下盡快完成。
移動性
在語音和視頻等服務中,理想的終端用戶體驗質量(QoE)在很大程度上取決于LTE網絡和設備支持無縫技術內和技術間(UMTS、GPRS、CDMA等)移動性的能力。在部署前,必須在實驗室中對這一系列復雜的場景進行測試。
性能
多模式LTE設備必須在LTE、UMTS和/或CDMA網絡上提供無縫的性能,同時還要支持GPS和Wi-Fi等其它信號。盡管運營商承諾的速率每天都在增長,但要想實現這一目標,空中接口的多天線MIMO實施所具備的性能是必不可少的關鍵因素。
LTE網絡中演進包核心(EPC)的組件必須具備很高的容量和出色的IP性能。這就要求采用新的代的專用高擴展性移動核心設備,而且需要在EPC實施項目的設計和測試過程中具備強大的IP專業能力。
移動回傳網的演進
由于LTE蜂窩站點要求更高的容量,原生以太網被用作連接和傳輸此類服務的的物理接口,因此移動回傳網必須面對巨大的變化。用以太網來替代TDM線路將意味著必須努力實現更高的計時和同步精度,只有這樣才能盡可能減少對服務的干擾并且消滅呼叫丟失的隱患。
相關解決方案
VR5:在MIMO/波束塑型測試中實現前所未有的易用性
VR5 HD空間信道仿真器不高天線數MIMO/ 波束塑型設備和基站測試帶來了前所未有的易用性。利用這種臺頂單元,8x4 MIMO、TD-LTE、高級LTE,以及雙向或交接測試都變成了一些很容易應付的挑戰。VR5提供無與倫比的集成度和高性能,以及新的硬件在帶寬、輸出 功率和動態范圍,從而改變了整個游戲的格局。
在單臺6U單元中實現數十種鏈路
該系統專為解決現代和未來MIMO技術日益提高的復雜性而設計,將數十個仿真無線電鏈路集合到單臺6U單元中。目前,即使最復雜的雙向MIMO或交接測試也可以在幾秒內完成設置,而且不需要機架、分離器、循環器或板載放大器。
簡化復雜MIMO場景的管理
集成的觸摸屏可提供控制和反饋功能。這種界面基于一種全新的設計哲學,是專門為簡化復雜MIMO場景的管理而開發的。利用按部就班式的圖形 化引導和反饋,可以優化配置并防止出現錯誤。目前,即使最缺乏經驗的用戶也可以迅速建立和運行LTE、高級LTE等技術在移動和基站測試中所需的復雜RF 環境。
復制真實的條件
VR5還具備業界中最為有效的真實條件復制方法。MIMO空中(MIMO-OTA)技術、思博倫的虛擬試駕轉換工具、衰退實驗室(集成衰退數據回放)和業界領先的動態環境仿真(DEE)都可以隨時提供定制的移動性場景。
SR5500:用于精確測試的最完整、最有效的測試方案
由業內RF衰退技術專家研發的 SR5500 無線信道仿真器是目前市場上用于精確測試包括 E-UTRA (LTE) 、 HSPA 、 HSPA+ 、 EV-DO 、 WLAN 和 WiMAX 在內的無線接收機的最完整、最有效的測試方案。
SR5500 無線信道仿真器使用先進的衰退技術來最優化無線接收機的性能,它可以加速上市時間并且使網絡部署后的問題減到最少。該模擬器能夠復制實際的空中信道環境,在開發和設計驗證的早期階段就能夠及時發現并隔離存在的性能問題。
SR5500 是為精確重現射頻衰退和干擾影響而研發的。 SR5500 模擬了寬帶無線信道特性,在加入 AWGN 之后,更進一步增強了 SR5500 仿真真實網絡的性能。思博倫獨有的衰退實驗室和動態環境模擬 (DEE)——SR5500 的這兩項特性是基于客戶 15 年來的意見反饋所積累的豐富經驗開發完成的,因而 SR5500 是同類產品中最先進并且最適合用戶的產品。
8100定位技術:全面的端到端式定位技術測試
思博倫的8100定位技術是思博倫ULTS解決方案自然演進的成果。它為測試具備A-GPS/GLONASS能力的GSM、UMTS和 LTE設備提供了最先進、最全面的環境。除CDMA設備外,Spirent C2K-ATS平臺的LBS測試能力還可提供完整和全面的測試覆蓋。在主要的標準制訂機構中,思博倫也在開發定位技術的測試要求和規格方面扮演著舉足輕重 的角色。
關鍵測試領域
-協議驗證
-RF性能
-一致性/認證
-運營商驗收
-芯片組開發
定位測試可針對具備Wi-Fi、Cell ID和ECID的獨立或混合式A-GPS和A-GLONASS定位技術執行多種測試。這種靈活且可配置的全自動化解決方案可提供控制層和用戶層實施,其中也包括SUPL支持。
適用于室內和室外LBS的GNSS和Wi-Fi環境仿真
8100定位技術解決方案包括基于思博倫業界領先衛星導航解決方案的A-GPS、A-GLONASS和Wi-Fi測試。該系統有助于確保定位服務在所有地點的成功應用,其中也包括極富挑戰性的室內位置,而這將是提供極具吸引力的用戶體驗時必備的關鍵能力。
8100位置技術包括GSS6560、GSS6700 或GSS8000這幾種思博倫領先的衛星導航解決方案所具備的A-GPS和A-GLONASS能力。除GNSS外,思博倫GSS5700Wi-Fi仿真器 和測試儀還有助于確保定位服務在各種地點成功應用,其中包括更具挑戰性的室內位置,而這將是提供極具吸引力的用戶體驗時必備的關鍵能力。
8100 LTE
思博倫8100系統是當今UMTS/LTE移動設備和芯片組測試領域的最佳解決方案。它支持廣泛的應用、定位和無線電接入測試領域,而且其基于選項的靈活設計還使您能夠在需要的時候添加所需的新能力。
思博倫的8100系統涵蓋了移動設備生命周期的多個階段 ,而非只著眼于最低的認證要求。8100解決方案提供多種可選的可擴展、成本效益選項,從最基本的臺頂到全集成平臺幾乎無所不包。
交鑰匙式的8100可為設計驗證和運營商驗收測試提供完整的、現成可運行的自動化,并且包含思博倫的世界級真實網絡和無線電條件仿真。對于那些需求更高靈活性的研發工程師,思博倫開發庫則可提供一種開放式的環境,實現快速定制的測試開發過程。
無論是什么樣的配置或使用案例,8100強大的報告能力和根源分析工具都能確保對測試結果進行迅速、簡便的解讀,并且確定設備性能的完整特性。
8100具備同時仿真多種技術(LTE、CDMA/EV-DO、UMTS)和多個蜂窩網絡的獨特能力,其中也包括增強分組核心(EPC)仿真能力。這樣便可實現盡可能廣泛的LTE多模式設備性能測試,其中也包括RF/MIMO、數據吞吐量、RAT間測試等。
思博倫C2K-ATS或8100-UMTS系統的現有用戶將發現可利用該系統很便捷地升級并添加LTE測試。
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Aeroflex應用于LTE基帶、RF和協議的測試解決方案
概述
要想徹底和高效地測試LTE設備,就需要進行包括RF、基帶和協議在內的全面測試。Aeroflex通過提供不斷增加的產品系列幫助應對這些挑戰。
長期致力于LTE測試領域使Aeroflex對LTE標準、決定系統性能的基本因素以及保證順利部署的關鍵測試要求有深刻的理解。
Aeroflex的完整LTE測試解決方案系列涵蓋LTE測試的所有方面。它們跨越從研發到制造的整個LTE設備供應鏈。Aeroflex的LTE測試解決方案可用于從芯片組到最終用戶服務(包括基站和手機)的一切測試。
LTE基站測試儀
艾法斯推出LTE和LTE-A基站測試產品,是支持 3GPP當前LTE及今后LTE-A技術發展邁出的重要一步。TM 500 LTE/LTE-A基于可擴展的軟件定義無線平臺,為 3GPP LTE和LTE-A基礎設施設備的開發、測試和驗證提供方案。首款LTE TM 500產品于 2007年推出,此后,為滿足LTE網絡測試的各種要求不斷擴充產品范圍。系列產品目前具備單UE、多UE (針對調度、負載和容量測試) 及多小區測試功能。系統全面融合FDD和TDD 3GPP標準,提供完整的測試功能 (從RF到協議)。最近增加了LTE-A支持,同時繼續跟蹤 5GPP技術規格的快速發展。
系統通過專用頻段無線卡 (支持實驗室和空中傳輸),或多頻段無線卡 (頻率范圍 400 MHz – 4GHz,僅適用于實驗室測試) 支持 3GPP標準所有RF頻段。
目前,TM 500已被全球各大基礎設施供應商廣泛采用,成為領先的E-UTRA基站測試設備。利用分層測試和自動接口,TM 500 LTE和LTE-A可在自動或包圍測試配置環境下工作。
LTE UE測試儀
7100綜合測試儀是一種LTE網絡仿真擬器,適用于無線設備射頻、基帶和協議層測試。7100是射頻設計與認證、功能測試、集成和衰落測試部門的理想解決方案。7100的易用性、綜合測試功能、快速和低成本可使這些部門從中受益。
7100模擬E-UTRAN接入網和EPC (增強型分組核心網),為LTE終端提供真實的測試環境。測試程序控制仿真網絡的特性,可創建大量重復使用的測試環境。測試儀可集成衰落模擬器和加性高斯 白噪聲 (AWGN) 源選件,可在實驗室中建立實際環境下的信號條件。
LTE在呼叫模式支持功能和應用測試
測試儀具有用來描述LTE移動設備性能的所有關鍵測試功能,無論無線接口端,還是協議棧,包括PDCP層,核心網和IMS層。7100網絡仿真模式可準 確評估設備端到端性能,以及正確的空閑模式和連接模式行為。在呼叫 (Call Box) 模式配有測試活動管理器,可通過7011觸摸屏GUI定義和執行測試排序。
LTE RF參數測試
7100可在信令和 非信令模式下執行完整的LTE RF測量。7100在呼叫模式提供輕松操作的界面,可在設備接入模擬網絡時測量、監控LTE設備的運行狀態。內置頻譜分析儀為解決復雜的問題提供測量工 具。同時,測試活動管理器可進行3GPP 36.S21-1 LTE FDD和TDD RF測試。
實際環境條件性能測試和數據吞吐量測試
7100具有LTE基帶衰落、AWGN和內置RRM測試功能,可在實驗室模擬各種實際環境下的信號條件。采用這種基于軟件的創新無線技術,不僅可以減少增加衰退測試環境的成本,而且可在設計過程中提前完成測試,降低后期重新設計的費用,并減少現場實驗的成本和時間。
專門用于協議記錄與分析的LTE開發模式
7100開發模式專門支持協議棧開發和集成,L1、L2和L3協議層記錄功能,可用于調試和解決開發過程中出現的問題。信息過濾和搜索功能便于導航。利用“場景向導”提供的簡易拖放圖形界面可輕松創建采用所有LTE子層的定制測試場景。
UE和基站LTE參數測試
3410系列數字射頻信號發生器: 3410是一款靈敏的小體積射頻信號發生器,它集寬廣頻率覆蓋與高性能矢量調制功能于一體,是用于無線通信系統及部件測試的理想解決方案。為滿足針對 802.11a、WiMAX、LTE或多載波UMTS等寬帶寬調制系統測試的苛刻要求,所有3410系列數字射頻信號發生器現在都具有增強的EVM性能。
LTE UE制造測試儀PXI
PXI 3000系列為LTE設備和組件廠商應對LTE生產測試中的挑戰提供成熟、快速、靈活的解決方案。艾法斯設計的LTE制造測試解決方案,充分利用了艾法斯 PXI 3000為全球領先移動設備和芯片組廠商帶來的優點。
PXI 3000 LTE測量套件在艾法斯率先推出的研發測試系統成功經驗基礎上構建,具有模塊化PXI平臺相同的測量性能,并提高了速度和靈活性,有助于LTE廠商順利完成產品開發到量產的過渡,快速滿足LTE設備不斷增長的需求,同時保證產品質量并降低測試成本。
PXI 3000采用多種技術最大化設備測試的生產能力和產量,快速滿足市場需求。
PXI 3000 LTE測試功能
LTE分析支持1.4 MHz至20 MHz所有帶寬以及QPSK、QAM16和QAM64調制類型的 FDD和TDD上行鏈路(SC-FDMA) 傳輸。艾法斯 PXI RF數字化儀與信號發生器任意組合可對所有3GPP頻段進行LTE測試。
除數值測量結果,LTE測量套件還提供頻譜包絡、互補累積分布函數 (CCDF)、星座圖、EVM對載波 (EVM vs.Carrier) 和EVM對符號 (EVM vs. Symbol) 跟蹤顯示功能。采用VB、C++或 .NET的全面可編程軟件界面便于用戶針對特定要求修改、調整測試系統。LTE產品所用部件也可采用IQCreator波形生成軟件進行上行鏈路和下行鏈 路 LTE FDD與TDD激勵響應測量。IQCreator是各種AeroflexPXI數字射頻信號發生器模塊的一種附加選產品。
模塊化PXI 3000平臺可以隨著測試要求的增長逐步擴展測試能力。系統可首先用來測試單天線設備,當開始生產帶有多個發射天線的UE時,系統可通過簡單的升級擴展MIMO支持。作為全球創新通信測試與測量解決方案供應商,安立生產的眾多測試設備已為世界多家移動通信設備制造商采用,對移動通信系統的發展做出了巨大貢獻。本文是關于安立LTE測試解決方案的精華集錦。
一 支持LTE-A基站載波聚合和多標準無線(MSR)測試
LTE-Advanced基站測試增加對載波聚合和多標準無線(MSR)的支持。安立公司新一代的矢量信號源MG3710A可以用更簡單的方式完成此類復雜的測試。此外,MG3710A具有出色的能和極具競爭力的價格。
MG3710A是一款業內頂級的高性能矢量信號源,它具有出色的射頻和基帶性能。兩路射頻輸出端口,并且每路內置兩個基帶存儲器,使得MG3710A可以在一個射頻端口輸出兩種不同調制方式的信號。單臺儀表可以最多輸出四路不同調制方式的矢量信號。
新一代獨特的測試創新領袖產品MG3710A 矢量信號源
相關數據手冊、產品手冊及配置指南:【詳見】。
二 支持TD-LTE&TD-SCDMA&GSM信令連接及射頻測試的綜測儀
中國運營商計劃在基于TD-SCDMA/GSM的網絡上部署TD-LTE網絡,這就需要大量的多制式的支持TD-LTE/TD-SCDMA/GSM網絡的終端。
安立公司的全制式綜測儀MT8820支持以上制式在內的信令及非信令的所有測試。無論對于研發還是生產,都是測試TD-LTE/TD-SCDMA/GSM終端理想的高性價比產品。
三 用于智能手機研發的多?;痉抡鎯x:MD8475A同時支持TD-LTE和TD-SCDMA模式
作為生產基站模擬器的領先企業,安立生產的信令測試儀(基站模擬器)已為世界多家移動通信設備制造商采用,對移動通信系統的發展做出了巨大貢獻。尤其 是 W-CDMA 領域,占據了整個市場 70% 以上的份額。信令測試儀 MD8475 更是融合了多項安立積累的技術和經驗,為新智能手機產品早日投入市場、提高品質及降低開發成本做出貢獻。
中國電信運營商預計開始推出 4G 系統 TD-LTE (LTE TDD) 服務。隨著 TD-LTE 服務投入使用,預計將同時提供支持現有 TD-SCDMA (3G)、GSM (2G) 系統的智能手機。
因此,智能手機制造商需要對支持 TD-LTE、TD-SCDMA、GSM 這 3 種方式的智能手機進行評估 安立生產的信令測試儀 MD8475A 是一款基站模擬器,它可以通過無線連接(Over-the-Air)進行智能手機產品化所需的各項評估,如 2-cell Testing、Throughput Test、Battery Management 等。
使用這 1 臺小巧的機器即可對支持 TD-LTE、TD-SCDMA、GSM 這 3 種方式的智能手機進行評估,為面向中國的新智能手機產品早日投入市場、提高品質及降低開發成本做出貢獻。
智能手機的未來測試需求
智能手機首先是一部移動電話,因此確保其移動性是一個絕對條件。例如,從 TD-LTE 服務區移動到 TD-SCDMA 或 GSM 服務區時,智能手機必須從 TD-LTE 的基站連接無縫切換至 TD-SCDMA 或 GSM 的基站連接。
評估在基站間移動的智能手機時,需要將所提供的全部通信標準組合進行。
另外,諸如以電路交換方式或數據包交換方式進行通信的過程中發生基站切換等時,智能手機的評估除了其待機狀態(Idle State)之外,還包括多個項目。
MD8475A 可通過用戶界面的設定和終端操作輕松進行 TD-LTE 和 TD-SCDMA 之間、TD-LTE 和 GSM 之間等不同無線通信系統之間的切換測試。無需制作并執行冗繁復雜的測試方案。
TD-LTE 方式可以實現高速吞吐性能(Downlink: 87 Mbps)
高速化后可以使用大量能發揮智能手機特長的應用,如下載大數據量的視頻文件、訪問使用了語音識別技術的云數據等。因此,能否穩定地實現良好的吞吐性能也是評估智能手機的一項重要指標。
MD8475A 可以通過下列智能手機開發者所必須的各種切入方式,對吞吐量性能的最大化與運行穩定性進行驗證。尤其是可滿足且穩定評估重要的最大吞吐量,且能在包括 IP 等級在內的各階段把握吞吐量性能及 L3 級信令信息,適用于支持 TD-LTE、TD-SCDMA 及 GSM 終端等級的吞吐量評估。
? RF 前端硬件性能確認? U-Plane 數據的流水線處理
? 安裝 MAC 和 L3 級協議? 優化智能手機的操作系統
? 驅動級調整? 應用軟件的穩定化
MD8475A 可在所內置的電腦中構建 FTP 數據服務器或應用程序,進行 TD-LTE 方式下高速下行的數據性能評估。
通過用戶界面軟件“SmartStudio”設定測試參數,可對極限值和穩定性進行評估。
無需制作方案,通過簡單操作即可進行智能手機的評估,可有效提高智能手機開發過程中,評估工作的效率。
電池管理功能
除了通話功能,智能手機還具備數碼相機、導航等功能,手機會經常使用這些功能,并處于與網絡連接的環境中。另外,還可以利用大屏幕提供卓越的操作環境。 用戶一方面享受著這些特長帶來的出色應用,另一方面對電池消耗很不滿意。智能手機的開發者需要對電池消耗進行定量評估,設計出兼顧功能又省電的產品。
圖 參數設定
MD8475A 與“SmartStudio”可對基站所需的站點相關的參數進行任意設置,因此可根據各通信運營商指定的站點條件和模擬實驗進行個別設定,輕松評估電池消耗情況。
“SmartStudio”可輕松進行 Neighbor Cell 和 Paging 相關的參數設定。
設定 TD-LTE 方式時,可進行 Periodic Update Timer、Paging Cycle、DRX 模式設定,Uplink 的 Transmit Power Control 等設定。另外,還可以通過各無線承載對 Paging 發送的 SIB(System Information Block) 進行編輯或設定。
信令測試儀MD8475產品傳單和應用說明,見【詳情】
文章詳情:安立LTE測試解決方案精華集錦
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