可靠性試驗(yàn)分類方法及試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 1.如可靠性測(cè)試以環(huán)境條件來(lái)劃分,可分為包括各種應(yīng)力條件下的模擬試驗(yàn)和現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn);2.可靠性試驗(yàn)以試驗(yàn)項(xiàng)目劃分，可分為環(huán)境試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)、加速試驗(yàn)和各種特殊試驗(yàn);3.
2017-01-20 09:59:00
蘇州納米所可靠性與失效分析中心秉承加工平臺(tái)公共服務(wù)方面的特性，在對(duì)外提供支撐和服務(wù)過(guò)程中多方發(fā)現(xiàn)用戶的共性需求，以檢測(cè)能力與市場(chǎng)需求完美契合為目標(biāo)不斷完善。目前本中心在電子材料、元器件、封裝、SMT
2018-06-04 16:13:50
被發(fā)現(xiàn)和避免的。 可靠性試驗(yàn) 1．可靠性試驗(yàn)是對(duì)產(chǎn)品的可靠性進(jìn)行調(diào)查、分析和評(píng)價(jià)的一種手段。對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行可靠性試驗(yàn)，主要的目的有：1. 驗(yàn)證產(chǎn)品的可靠性水平，確認(rèn)是否符合可靠性定量要求； 2.
2011-11-24 16:28:03
設(shè)計(jì)(使用冗余技術(shù))，使用故障診斷技術(shù)等。可靠性主要包括電路可靠性及元器件的選型有必要時(shí)用一定儀器檢測(cè)。可靠性試驗(yàn)是對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行可靠性調(diào)查、分析和評(píng)價(jià)的一種手段。試驗(yàn)結(jié)果為故障分析、研究采取的糾正措施
2015-08-04 11:04:27
可靠性是軍用嵌入式系統(tǒng)的重要因素軍用嵌入式系統(tǒng)的可靠性考慮
2021-04-23 06:24:35
電路器件與系統(tǒng)的可靠性預(yù)計(jì)和分配評(píng)估 第二章 電子產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)技術(shù)1、概述：環(huán)境試驗(yàn)的發(fā)展、環(huán)境試驗(yàn)的目的和應(yīng)用范圍、環(huán)境試驗(yàn)和可靠性試驗(yàn)2、環(huán)境試驗(yàn)的基礎(chǔ)知識(shí)和術(shù)語(yǔ)3、環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
2010-08-27 08:25:03
電子可靠性資料匯編內(nèi)容： 降額設(shè)計(jì)規(guī)范；電子工藝設(shè)計(jì)規(guī)范；電氣設(shè)備安全通用要求設(shè)計(jì)規(guī)范 ；嵌入式
2010-10-04 22:31:56
HALT & HASS是由美國(guó)軍方所延伸出的設(shè)計(jì)質(zhì)量驗(yàn)證與制造質(zhì)量驗(yàn)證的試驗(yàn)方法，現(xiàn)已成為美國(guó)電子業(yè)界的標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品驗(yàn)證方法。它將原需花費(fèi)6個(gè)月甚至1年的新產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)縮短至一周，且在這
2015-08-04 17:38:43
線路、版圖、工藝、封裝結(jié)構(gòu)等可靠性設(shè)計(jì)的同時(shí)，要進(jìn)行可靠性評(píng)價(jià)的設(shè)計(jì)，以便在研制過(guò)程中，用可靠性評(píng)價(jià)電路通過(guò)快速評(píng)價(jià)試驗(yàn)，對(duì)各項(xiàng)可靠性設(shè)計(jì)進(jìn)行可靠性評(píng)價(jià)，為樣品的可靠性設(shè)計(jì)評(píng)審提供依據(jù)；根據(jù)評(píng)審意見(jiàn)
2009-05-24 16:49:57
比較實(shí)用的可靠性設(shè)計(jì)
2014-03-05 00:01:00
可靠性是我們?cè)陂_(kāi)展電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)過(guò)程中常常繞不開(kāi)的問(wèn)題。例如，客戶需要我們提供相關(guān)的可靠性預(yù)計(jì)報(bào)告，客戶需要我們的產(chǎn)品提供相應(yīng)的可靠性試驗(yàn)報(bào)告，或者企業(yè)內(nèi)部需要控制產(chǎn)品質(zhì)量，制定了一系列的可靠性工作
2017-12-08 10:47:19
當(dāng)組件上板后進(jìn)行一系列的可靠性驗(yàn)證，可靠性驗(yàn)證過(guò)程中產(chǎn)品失效時(shí)，透過(guò)板階整合失效分析能快速將失效接口找出，宜特協(xié)助客戶厘清真因后能快速改版重新驗(yàn)證來(lái)達(dá)到產(chǎn)品通過(guò)驗(yàn)證并如期上市。 透過(guò)板階整合失效分析
2018-08-28 16:32:38
目前，無(wú)論是ARM、DSP、FPGA等大多數(shù)封裝基本上都是BGA或MBGA，BGA在PCB布線上的可靠性還都基本上能滿足，但是MBGA封裝的：間距在0.5mm一下的，在PCB中布線到PCB加工制成，特別對(duì)于高速信號(hào)來(lái)說(shuō)，布線會(huì)造成信號(hào)完整性的問(wèn)題及制版質(zhì)量問(wèn)題，請(qǐng)教各位大俠，如何解決？？？
2022-04-23 23:15:51
作者：Sandeep Bahl 最近，一位客戶問(wèn)我關(guān)于氮化鎵（GaN）可靠性的問(wèn)題：“JEDEC（電子設(shè)備工程聯(lián)合委員會(huì)）似乎沒(méi)把應(yīng)用條件納入到開(kāi)關(guān)電源的范疇。我們將在最終產(chǎn)品里使用的任何GaN器件
2018-09-10 14:48:19
、15min關(guān)的循環(huán)測(cè)試到壽命終了，對(duì)LED產(chǎn)品的測(cè)量顯然不現(xiàn)實(shí)。因此有必要對(duì)LED產(chǎn)品采用加速老化壽命試驗(yàn)[1]，同時(shí)，也應(yīng)當(dāng)測(cè)試LED的熱學(xué)特性、環(huán)境耐候性、電磁兼容抗擾度等與壽命和可靠性密切相關(guān)
2015-08-04 17:42:14
誰(shuí)來(lái)闡述一下PCB設(shè)計(jì)中電路可靠性設(shè)計(jì)準(zhǔn)則？
2020-01-10 15:55:08
可靠性是另一關(guān)注的重點(diǎn)。目前，環(huán)球儀器SMT工藝實(shí)驗(yàn)室正在進(jìn)行的另一個(gè)項(xiàng)目就是堆疊裝配可靠性研究。從目前采用跌落測(cè)試的研究結(jié)果來(lái)看，失效主要發(fā)生在兩層元件之間的連接。位置主要集中在元件角落處
2018-09-06 16:24:30
。CCS TDDB（Constant Current Stress Time Dependent Dielectric Breakdown：恒流經(jīng)時(shí)絕緣擊穿）試驗(yàn)中，柵極氧化膜可靠性的指標(biāo)–QBD
2018-11-30 11:30:41
半導(dǎo)體材料的歷史不長(zhǎng)，與Si功率元器件相比其實(shí)際使用業(yè)績(jī)還遠(yuǎn)遠(yuǎn)無(wú)法超越，可能是其可靠性水平還未得到充分認(rèn)識(shí)。一般人對(duì)于新事物、缺少實(shí)際業(yè)績(jī)驗(yàn)證的產(chǎn)品都容易抱有偏見(jiàn)，希望下面給出的數(shù)據(jù)能夠有助于解除疑慮
2018-11-30 11:50:49
strcpy()函數(shù)標(biāo)準(zhǔn)該如何去實(shí)現(xiàn)呢？TCP協(xié)議如何保證可靠性呢？
2021-12-24 06:10:04
電子可靠性資料匯編內(nèi)容： 降額設(shè)計(jì)規(guī)范；電子工藝設(shè)計(jì)規(guī)范；電氣設(shè)備安全通用要求設(shè)計(jì)規(guī)范 ；嵌入式
2010-10-04 22:34:14
費(fèi)舍爾科技有限公司，專注與環(huán)境與可靠性試驗(yàn)設(shè)備的研發(fā)、生產(chǎn)與銷售，產(chǎn)品有：鹽霧試驗(yàn)箱、高低溫（交變）濕熱試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、紫外光耐氣候試驗(yàn)箱、氙燈耐氣候試驗(yàn)箱、臭氧老化試驗(yàn)箱、熱老化試驗(yàn)
2008-09-22 16:46:32
知道這些基本元器件、部件的可靠性和由其構(gòu)成的系統(tǒng)的可靠性的關(guān)系。 描述基本元器件、部件的可靠性的基本數(shù)據(jù)可由生產(chǎn)廠家提供、或通過(guò)試驗(yàn)獲得、或通過(guò)實(shí)際觀察的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)或經(jīng)驗(yàn)得到。基本元器件、部件的可靠性
2016-09-03 15:47:58
、軍事、電子等軍工工業(yè)，隨后逐漸擴(kuò)展到民用工業(yè)。60年代，隨著航空航天工業(yè)的迅速發(fā)展，可靠性設(shè)計(jì)和試驗(yàn)方法被接受和應(yīng)用于航空電子系統(tǒng)中，可靠性工程得到迅速發(fā)展！1965年，美國(guó)頒發(fā)了《系統(tǒng)與設(shè)備
2020-07-03 11:09:11
狀況下變得更難。4 可靠性評(píng)定為了研究當(dāng)經(jīng)受溫度循環(huán)時(shí)BGA封裝的可靠性狀況，應(yīng)說(shuō)明循環(huán)失效的數(shù)目，這些試驗(yàn)的結(jié)果為凸點(diǎn)形狀的標(biāo)準(zhǔn)。焊點(diǎn)的壽命與循環(huán)失效的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)目是成比例的，三種不同的測(cè)試進(jìn)一步證實(shí)了
2018-08-23 17:26:53
的電子產(chǎn)品一度曾因可靠性差造成客戶大量退貨，甚至幾近被迫退出國(guó)際市場(chǎng)。二戰(zhàn)之后，日本總結(jié)教訓(xùn)，不斷提升了電子產(chǎn)品的可靠性水平，最終得以大幅提升了市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力，強(qiáng)勢(shì)搶占了龐大的國(guó)際市場(chǎng)份額。受到金融危機(jī)及新冠疫情
2020-07-08 17:10:00
1952年3月便提出了具有深遠(yuǎn)影響的建議；研究成果首先應(yīng)用于航天、軍事、電子等軍工工業(yè)，隨后逐漸擴(kuò)展到民用工業(yè)。60年代，隨著航空航天工業(yè)的迅速發(fā)展，可靠性設(shè)計(jì)和試驗(yàn)方法被接受和應(yīng)用于航空電子系統(tǒng)中
2020-07-03 11:18:02
基于行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)、國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的可靠性測(cè)試方法企業(yè)設(shè)計(jì)的可靠性測(cè)試方法
2021-03-08 07:55:20
水平。電子產(chǎn)品、電氣、機(jī)電、光電和電化學(xué)產(chǎn)品和機(jī)械產(chǎn)品。產(chǎn)品的研制階段的早期和中期。可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)RGT暴露潛在缺陷并采取糾正措施，逐步使產(chǎn)品的可靠性達(dá)到規(guī)定的要求。電子產(chǎn)品、電氣、機(jī)電、光電和電化學(xué)
2019-07-23 18:29:15
評(píng)定形狀參數(shù)的影響練習(xí) E 自動(dòng)調(diào)溫器重新設(shè)計(jì)多種失效模式：了解多種失效模式、用參數(shù)分布分析估計(jì)多種失效模式分析實(shí)例例 1,2 污水泵失效，例 電源設(shè)備可靠性案例詳解練習(xí) F 污水泵失效：*電源設(shè)備
2011-05-03 11:22:06
單片機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)的設(shè)計(jì)包括功能性設(shè)計(jì)、可靠性設(shè)計(jì)和產(chǎn)品化設(shè)計(jì)。其中，功能性是基礎(chǔ)，可靠性是保障，產(chǎn)品化是前途。因此，從事單片機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)開(kāi)發(fā)工作的設(shè)計(jì)人員必須掌握可靠性設(shè)計(jì)。 一、可靠性與可靠性設(shè)計(jì)1．
2021-01-11 09:34:49
可靠性設(shè)計(jì)是單片機(jī)應(yīng)甩系統(tǒng)設(shè)計(jì)必不可少的設(shè)計(jì)內(nèi)容。本文從現(xiàn)代電子系統(tǒng)的可靠性出發(fā)，詳細(xì)論述了單片機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)的可靠性特點(diǎn)。提出了芯片選擇、電源設(shè)計(jì)、PCB制作、噪聲失敏控制、程序失控回復(fù)等集合硬件系統(tǒng)
2021-02-05 07:57:48
評(píng)定形狀參數(shù)的影響練習(xí) E 自動(dòng)調(diào)溫器重新設(shè)計(jì)多種失效模式：了解多種失效模式、用參數(shù)分布分析估計(jì)多種失效模式分析實(shí)例例 1,2 污水泵失效，例 電源設(shè)備可靠性案例詳解練習(xí) F 污水泵失效：*電源設(shè)備
2011-05-15 11:19:26
高可靠性系統(tǒng)設(shè)計(jì)包括使用容錯(cuò)設(shè)計(jì)方法和選擇適合的組件，以滿足預(yù)期環(huán)境條件并符合標(biāo)準(zhǔn)要求。本文專門探討實(shí)現(xiàn)高可靠性電源的半導(dǎo)體解決方案，這類電源提供冗余、電路保護(hù)和遠(yuǎn)程系統(tǒng)管理。本文將突出顯示，半導(dǎo)體技術(shù)的改進(jìn)和新的安全功能怎樣簡(jiǎn)化了設(shè)計(jì)，并提高了組件的可靠性。
2019-07-25 07:28:32
。G.Cassanelli對(duì)大功率白光LED的早期突然失效進(jìn)行了試驗(yàn)分析，認(rèn)為電極Ag與封裝材料中的硫磺反應(yīng)生成Ag2S，從而增大電阻以至完全開(kāi)路造成器件的失效。從可靠性的一般觀點(diǎn)認(rèn)為，在LED器件中觀察到的大部分失效機(jī)制
2011-08-19 08:41:03
為了FPGA保證設(shè)計(jì)可靠性, 需要重點(diǎn)關(guān)注哪些方面？
2019-08-20 05:55:13
如何克服ACS測(cè)試系統(tǒng)和SMU的可靠性測(cè)試挑戰(zhàn)？
2021-05-11 06:11:18
高可靠性系統(tǒng)設(shè)計(jì)包括使用容錯(cuò)設(shè)計(jì)方法和選擇適合的組件，以滿足預(yù)期環(huán)境條件并符合標(biāo)準(zhǔn)要求。本文專門探討實(shí)現(xiàn)高可靠性電源的半導(dǎo)體解決方案，這類電源提供冗余、電路保護(hù)和遠(yuǎn)程系統(tǒng)管理。本文將突出顯示，半導(dǎo)體技術(shù)的改進(jìn)和新的安全功能怎樣簡(jiǎn)化了設(shè)計(jì)，并提高了組件的可靠性。
2021-03-18 07:49:20
本文擬從印制板下游用戶安裝后質(zhì)量、直接用戶調(diào)試質(zhì)量和產(chǎn)品使用質(zhì)量三方面研究印制板的可靠性，從而表征出印制板加工質(zhì)量的優(yōu)劣并提供生產(chǎn)高可靠性印制板的基本途徑。
2021-04-21 06:38:19
`請(qǐng)問(wèn)如何提高PCB設(shè)計(jì)焊接的可靠性？`
2020-04-08 16:34:11
什么是微波功率晶體管？如何提高微波功率晶體管可靠性？
2021-04-06 09:46:57
PMU的原理是什么？如何提高數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的實(shí)時(shí)性與可靠性？
2021-05-12 06:45:42
`請(qǐng)問(wèn)如何通過(guò)PCB設(shè)計(jì)提高焊接的可靠性？`
2020-03-30 16:02:37
、生程過(guò)程、生產(chǎn)工藝、選用的材料、質(zhì)量控制及其是否正確應(yīng)用有關(guān)，在這諸多因素中，當(dāng)推結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)是首要的。它在產(chǎn)品的固有可靠性中起決定性作用。因此，在研制設(shè)計(jì)的每一階段，或在可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)中，都應(yīng)特別注意
2019-07-10 08:04:30
的可靠性通用技術(shù)要求。2.為巖土工程儀器的產(chǎn)品質(zhì)量控制、可靠性增長(zhǎng)，提供科學(xué)技術(shù)依據(jù)。3.巖土工程的可靠性描述、建模、預(yù)計(jì)、指標(biāo)分配及指標(biāo)系列劃分、試驗(yàn)驗(yàn)證、故障判定等提供行業(yè)指導(dǎo)性技術(shù)文件。 基本原則
2020-10-30 07:18:06
。因此，硬件可靠性設(shè)計(jì)在保證元器件可靠性的基礎(chǔ)上，既要考慮單一控制單元的可靠性設(shè)計(jì)，更要考慮整個(gè)控制系統(tǒng)的可靠性設(shè)計(jì)。
2021-01-25 07:13:16
【摘要】：在電子電器產(chǎn)品的無(wú)鉛化進(jìn)程中,由于封裝材料與封裝工藝的改變,焊點(diǎn)的可靠性已成為日益突出的問(wèn)題。著重從無(wú)鉛焊點(diǎn)可靠性的影響因素、典型的可靠性問(wèn)題及無(wú)鉛焊點(diǎn)可靠性的評(píng)價(jià)3個(gè)方面闡述了近年來(lái)該
2010-04-24 10:07:59
摘要：工業(yè)電器自動(dòng)化設(shè)備的限位開(kāi)關(guān)、微型開(kāi)關(guān)的使用漸漸趨向于靈活、方便和高薪科技的方向發(fā)展，以至于被接近開(kāi)關(guān)傳感器所取代并廣泛使用。通過(guò)可靠性試驗(yàn)研究，獲得最優(yōu)化數(shù)據(jù)參數(shù)，顯示其使用的優(yōu)越性
2018-11-13 16:28:52
數(shù)字隔離器的安全可靠性
2021-01-21 07:27:02
求劉勝編著的 微電子封裝組件的建模和仿真:制造、可靠性與測(cè)試:manufacturing, reliability and testing資源
2017-01-18 17:35:32
)，都在考驗(yàn)著汽車電子產(chǎn)品的可靠性。本文簡(jiǎn)單整理出汽車電子產(chǎn)品相關(guān)的環(huán)境可靠性試驗(yàn)條件，以提供給廣大客戶參考。 目前世界范圍內(nèi)，針對(duì)汽車電子產(chǎn)品有很多環(huán)境可靠性測(cè)試方面的要求及標(biāo)準(zhǔn)，而常用的標(biāo)準(zhǔn)主要有ISO
2016-02-23 21:22:20
可靠性相關(guān)理論對(duì)現(xiàn)場(chǎng)返還數(shù)據(jù)進(jìn)行分解與建模分析，獲得一個(gè)融合了產(chǎn)品設(shè)計(jì)能力、使用環(huán)境、工藝水平、制造能力、檢測(cè)能力以及質(zhì)量管理水平的產(chǎn)品失效率模型，并建立了一套符合無(wú)線通信產(chǎn)品研發(fā)生產(chǎn)過(guò)程各項(xiàng)可靠性
2019-06-19 08:24:45
淺談HALT試驗(yàn)在可靠性設(shè)計(jì)中的應(yīng)用 錢惠龍***江蘇安科瑞電器制造有限公司 江蘇 江陰 214405摘要：本文主要介紹HALT（高加速壽命篩選試驗(yàn)）在可靠性設(shè)計(jì)中的應(yīng)用，以安科瑞電氣股份有限公司
2016-01-18 10:42:33
手機(jī)環(huán)境可靠性試驗(yàn)的目的 產(chǎn)品可靠性是設(shè)計(jì)和制造出來(lái)的，但必須通過(guò)試驗(yàn)予以驗(yàn)證。在手機(jī)的研制階段，為了保證手機(jī)具有一定的可靠性水平或提高手機(jī)的可靠性，要通過(guò)可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)暴露手機(jī)的缺陷，進(jìn)而進(jìn)行分析
2009-11-13 22:31:55
外包裝上。 MSL實(shí)驗(yàn)前無(wú)任何脫層現(xiàn)象 MSL實(shí)驗(yàn)后，Die Paddle / Lead frame 產(chǎn)生脫層現(xiàn)象iST宜特檢測(cè)：逾20年可靠性專業(yè)，堅(jiān)強(qiáng)服務(wù)團(tuán)隊(duì)，需求快速達(dá)成MSL測(cè)試后，直接進(jìn)行SAT檢測(cè)，給您一站式解決方案
2018-09-20 15:11:42
深圳市華耀檢測(cè)技術(shù)服務(wù)有限公司環(huán)境試驗(yàn)與可靠性試驗(yàn)雖然關(guān)系緊密，但它們?cè)?b class="flag-6" style="color: red">試驗(yàn)目的，所用環(huán)境應(yīng)力數(shù)量，環(huán)境力量值選用準(zhǔn)則，試驗(yàn)類型，試驗(yàn)時(shí)間，試驗(yàn)終止判據(jù)方面存在截然的不同之處。試驗(yàn)目的：環(huán)境試驗(yàn)考察
2022-01-13 14:03:37
預(yù)測(cè)、改進(jìn)新產(chǎn)品質(zhì)量和確定合理的篩選、例行（批量保證）試驗(yàn)條件等的依據(jù)。如果為了縮短試驗(yàn)時(shí)間可在不改變失效機(jī)理的條件下用加大應(yīng)力的方法進(jìn)行試驗(yàn)，這就是加速壽命試驗(yàn)。通過(guò)壽命試驗(yàn)可以對(duì)產(chǎn)品的可靠性水平
2015-08-04 17:34:26
電子產(chǎn)品的可靠性試驗(yàn)，不看肯定后悔
2021-05-12 06:11:07
優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品，通過(guò)篩選可使整批產(chǎn)品達(dá)到其固有的高可靠性。對(duì)于劣質(zhì)產(chǎn)品，由于其固有的缺陷，就不可能篩選出高可靠產(chǎn)品。因此，在篩選前有必要對(duì)產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性水平進(jìn)行抽樣試驗(yàn)評(píng)價(jià)，通過(guò)試驗(yàn)和失效分析有助于制訂合理的篩選程序。
2016-11-17 22:41:33
電路可靠性設(shè)計(jì)
2014-04-22 22:38:56
隊(duì)伍已經(jīng)足夠強(qiáng)勢(shì)，不必再由我添加壓垮駱駝的那最后一根稻草；②產(chǎn)品的可靠性水平和研發(fā)的強(qiáng)勢(shì)程度成反比；③電路設(shè)計(jì)錯(cuò)誤和器件應(yīng)用不當(dāng)占了故障的八成因素。舉幾個(gè)簡(jiǎn)單例子：一個(gè)電解電容緊挨著散熱片焊接
2010-04-26 22:05:30
隊(duì)伍已經(jīng)足夠強(qiáng)勢(shì)，不必再由我添加壓垮駱駝的那最后一根稻草；②產(chǎn)品的可靠性水平和研發(fā)的強(qiáng)勢(shì)程度成反比；③電路設(shè)計(jì)錯(cuò)誤和器件應(yīng)用不當(dāng)占了故障的八成因素。舉幾個(gè)簡(jiǎn)單例子：一個(gè)電解電容緊挨著散熱片焊接
2010-04-26 22:20:16
使用過(guò)程中可靠性有保障， 筆者通過(guò)對(duì)硅壓阻式壓力傳感器進(jìn)行可靠性強(qiáng)化實(shí)驗(yàn)， 對(duì)其進(jìn)行定性的分析，提出相關(guān)改進(jìn)措施。 1 可靠性強(qiáng)化試驗(yàn)裝置 強(qiáng)化試驗(yàn)必須滿足假設(shè)： 受試品在短時(shí)間、高應(yīng)力作用下表現(xiàn)得
2018-11-05 15:37:57
迅速、真正提高的目的。因此，在同等期限內(nèi)，應(yīng)用這項(xiàng)技術(shù)所獲得的可靠性要比傳統(tǒng)方法高得多，更為重要的是在短時(shí)間內(nèi)就可以獲得早期的高可靠性，而且不像傳統(tǒng)方法那樣，需要進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間的可靠性增長(zhǎng)，因此也就大大
2019-11-08 07:38:43
我想問(wèn)一下高速電路設(shè)計(jì)，是不是只要做好電源完整性分析和信號(hào)完整性分析，就可以保證系統(tǒng)的穩(wěn)定了。要想達(dá)到高的可靠性，要做好哪些工作啊？在網(wǎng)上找了好久，也沒(méi)有找到關(guān)于硬件可靠性的書(shū)籍。有經(jīng)驗(yàn)的望給點(diǎn)提示。
2015-10-23 14:47:17
急求前輩指點(diǎn)！硬件設(shè)計(jì)說(shuō)明中的可靠性設(shè)計(jì)一般包含哪些？現(xiàn)在需要整理項(xiàng)目的一些文檔，關(guān)于可靠性設(shè)計(jì)要提供哪些文檔一頭霧水，求前輩指點(diǎn)一下！不勝感激！
2016-04-22 11:11:09
要求。測(cè)試新品器件是否合規(guī)比較容易，但判斷器件的物理特征是否會(huì)隨時(shí)間和環(huán)境而變化比較麻煩。本文將從碳化硅芯片研發(fā)和封裝方面探討可靠性問(wèn)題。 芯片研發(fā)環(huán)節(jié)的可靠性測(cè)試 衡量可靠性可以從器件的故障率入手
2023-02-28 16:59:26
產(chǎn)品可靠性是指，在一定條件下產(chǎn)品無(wú)故障地執(zhí)行指定功能的能力或可能性。線束端子可靠性試驗(yàn)即是評(píng)估端子滿足電氣連接可靠性的能力。本文主要談?wù)劧俗?b class="flag-6" style="color: red">可靠性測(cè)試試驗(yàn)的具體內(nèi)容及意義。 端子可靠性試驗(yàn)涉及
2021-01-12 16:24:16
缺陷成團(tuán)對(duì)FPGA片內(nèi)冗余容錯(cuò)電路可靠性的影響是什么？缺陷成團(tuán)對(duì)冗余容錯(cuò)電路可靠性的影響是什么？
2021-04-08 06:50:18
本帖最后由 testest 于 2020-5-17 20:51 編輯
芯片IC可靠性測(cè)試、靜電測(cè)試、失效分析芯片可靠性驗(yàn)證 ( RA)芯片級(jí)預(yù)處理(PC)& MSL試驗(yàn)
2020-05-17 20:50:12
芯片IC可靠性測(cè)試、靜電測(cè)試、失效分析芯片可靠性驗(yàn)證 ( RA)芯片級(jí)預(yù)處理(PC) & MSL試驗(yàn) 、J-STD-020 & JESD22-A113 ；高溫存儲(chǔ)試驗(yàn)(HTSL
2020-04-26 17:03:32
剛剛接觸PCBA可靠性，感覺(jué)和IC可靠性差異蠻大，也沒(méi)有找到相應(yīng)的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。請(qǐng)問(wèn)大佬們?cè)谧鯬CBA可靠性時(shí)是怎么做的，測(cè)試條件是根據(jù)什么設(shè)定？
2023-02-15 10:21:14
機(jī)械溫控開(kāi)關(guān)的可靠性有多少？我看溫控開(kāi)關(guān)的體積很小，價(jià)格便宜，可以用于一些溫度控制方面，不過(guò)可靠性有多少呢？
2023-10-31 06:37:26
急求幫助 硬件設(shè)計(jì)說(shuō)明中的可靠性設(shè)計(jì)包含哪些？現(xiàn)在需要整理項(xiàng)目的一些文檔，關(guān)于可靠性設(shè)計(jì)要提供哪些文檔一頭霧水，求前輩指點(diǎn)一下！不勝感激！
2020-04-08 03:04:58
摘要：提出對(duì)輻射騷擾試驗(yàn)水平極化和垂直極化測(cè)量結(jié)果分別進(jìn)行不確定度評(píng)定的方法，并以電能表為受試設(shè)備進(jìn)行評(píng)定，評(píng)定的結(jié)果優(yōu)于相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)的要求，表明該試驗(yàn)系統(tǒng)的測(cè)量結(jié)果是可信的、可靠的。
2015-08-06 10:34:02
高可靠性的線路板具有什么特點(diǎn)？
2021-04-25 08:16:53
服務(wù)范圍橫向科研技術(shù)?持和服務(wù)、軌道交通、核電、裝備領(lǐng)域板卡失效分析、可靠性壽命試驗(yàn)方案及可靠性提升方案開(kāi)發(fā)與執(zhí)行。檢測(cè)項(xiàng)目基于壽命特征分析的板卡壽命及剩余壽命研究：l 板卡X-ray
2024-03-15 17:27:02
LED產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)與應(yīng)用
本文主要站在LED制造者或使用者的立場(chǎng)來(lái)探討對(duì)應(yīng)不同的使用環(huán)境與場(chǎng)所，較具有效益的可靠性試驗(yàn)項(xiàng)目以及這些試驗(yàn)的
2009-12-11 21:46:47
1338 可靠性試驗(yàn)指為分析評(píng)價(jià)產(chǎn)品的可靠性而進(jìn)行的所有試驗(yàn)。廣義地講，任何與產(chǎn)品故障或故障效應(yīng)有關(guān)的試驗(yàn)都可以被認(rèn)為是可靠性試驗(yàn)。在新產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)過(guò)程中，調(diào)試、發(fā)現(xiàn)問(wèn)題、改
2011-05-26 17:38:41
0 試驗(yàn)中就能反映出來(lái)，從而可及時(shí)采取糾正措施使產(chǎn)品質(zhì)量恢復(fù)正常。(4)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行篩選以提高整批產(chǎn)品的可靠性水平。合理的篩選可以將各種原因（如原材料有缺陷、工藝措施不當(dāng)、操作人員疏忽、生產(chǎn)設(shè)備發(fā)生故障
2018-06-28 18:38:50718 SiC作為半導(dǎo)體材料的歷史不長(zhǎng)，與Si功率元器件相比其實(shí)際使用業(yè)績(jī)還遠(yuǎn)遠(yuǎn)無(wú)法超越，可能是其可靠性水平還未得到充分認(rèn)識(shí)。這是ROHM的SiC-SBD可靠性試驗(yàn)數(shù)據(jù)。
2023-02-08 13:43:18364 
國(guó)家電網(wǎng)：在就地化保護(hù)入網(wǎng)檢測(cè)中，首次引入可靠性試驗(yàn)，驗(yàn)證產(chǎn)品可靠性設(shè)計(jì)水平和壽命指標(biāo)。在關(guān)于新型一、二次設(shè)備（例如：電子式互感器）的科研項(xiàng)目中，增加了可靠性驗(yàn)證和壽命評(píng)估等相關(guān)研究課題。
2023-11-13 16:32:04452 
環(huán)境試驗(yàn)與可靠性試驗(yàn)的區(qū)別
2023-12-08 09:31:46302 
電子發(fā)燒友App
工商網(wǎng)監(jiān)
評(píng)論