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恒溫恒濕環(huán)境試驗(yàn)箱濕度上不去的原因和解決方法2024-11-15 11:04
恒溫恒濕環(huán)境試驗(yàn)箱廣泛應(yīng)用于各種產(chǎn)品的環(huán)境適應(yīng)性測(cè)試，尤其是在電子、電器、汽車、材料和電池等領(lǐng)域的可靠性評(píng)估中。該設(shè)備通過精確控制溫度和濕度，模擬不同的環(huán)境條件，以檢驗(yàn)產(chǎn)品在不同氣候環(huán)境下的穩(wěn)定性和耐久性。然而，在使用過程中，部分用戶可能會(huì)遇到濕度無法達(dá)到設(shè)定值的情況。濕度無法上升到預(yù)期值不僅影響測(cè)試效果，還可能影響實(shí)驗(yàn)結(jié)果的可靠性。那么，如何解決這個(gè)問題呢 -
廣東貝爾 | 步入式環(huán)境試驗(yàn)箱2024-11-15 09:27
步入式環(huán)境試驗(yàn)箱是一種用于模擬各種環(huán)境條件下的高精度測(cè)試設(shè)備，廣泛應(yīng)用于電子、汽車、航空航天、材料科學(xué)等多個(gè)領(lǐng)域。它能夠提供高溫、低溫、濕度等環(huán)境因素的精確控制，模擬產(chǎn)品在不同工作環(huán)境下的性能表現(xiàn)，幫助企業(yè)進(jìn)行產(chǎn)品的可靠性、耐久性測(cè)試，以及質(zhì)量控制。與傳統(tǒng)的小型環(huán)境試驗(yàn)箱不同，步入式環(huán)境試驗(yàn)箱設(shè)計(jì)上更注重大空間的模擬測(cè)試，允許操作人員或樣品更大范圍的進(jìn)入或布 -
步入式恒溫恒濕室的使用方法和注意事項(xiàng)2024-11-15 09:24
步入式恒溫恒濕室是一種用于模擬不同環(huán)境條件下測(cè)試產(chǎn)品性能的設(shè)備，廣泛應(yīng)用于電子、汽車、化工、航空航天、材料研究等領(lǐng)域。其主要功能是提供穩(wěn)定的溫度和濕度環(huán)境，以評(píng)估不同產(chǎn)品在特定溫濕度條件下的可靠性和耐久性。隨著科技的不斷進(jìn)步，步入式恒溫恒濕室被越來越多的企業(yè)和研究機(jī)構(gòu)用于產(chǎn)品測(cè)試、質(zhì)量控制和研發(fā)實(shí)驗(yàn)。 然而，為了確保步入式恒溫恒濕室的有效使用，并獲得準(zhǔn) -
鹽霧測(cè)試：評(píng)估金屬材料耐腐蝕性能的重要手段2024-11-07 16:20
鹽霧測(cè)試是一種關(guān)鍵的環(huán)境測(cè)試方法，旨在通過模擬鹽霧環(huán)境來評(píng)估產(chǎn)品或金屬材料的耐腐蝕性能。依據(jù)GB/T 2423.17-2008/IEC 60068-2-11:1981標(biāo)準(zhǔn)，鹽霧試驗(yàn)適用于比較相似結(jié)構(gòu)的試樣，以檢驗(yàn)其抗鹽霧腐蝕的能力，以及評(píng)定涂層的保護(hù)性能和均勻性。 鹽霧測(cè)試的分類 鹽霧測(cè)試可分為兩大類： 1. 天然環(huán)境暴露試驗(yàn)：將試樣置于自 -
高低溫測(cè)試的重要性與應(yīng)用2024-11-07 15:09
高低溫測(cè)試，亦稱為高低溫循環(huán)測(cè)試，是環(huán)境可靠性測(cè)試中的關(guān)鍵組成部分，其主要目的是評(píng)估在高溫和低溫條件下，裝備在存儲(chǔ)和工作期間的性能表現(xiàn)。隨著科技的進(jìn)步，電子產(chǎn)品越來越多地進(jìn)入到復(fù)雜和多變的環(huán)境中。因此，確保產(chǎn)品在各種氣候條件下的可靠性成為了設(shè)計(jì)和生產(chǎn)的重要環(huán)節(jié)。 在產(chǎn)品的生產(chǎn)、搬運(yùn)和儲(chǔ)存過程中，產(chǎn)品常常暴露在各種不同的溫濕度、氣候條件以及外部環(huán)境的影響之 -
高低溫濕熱試驗(yàn)箱中的冷媒特性2024-11-02 10:00
冷媒在高低溫濕熱試驗(yàn)箱的制冷系統(tǒng)中發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。它是冷凍空調(diào)系統(tǒng)中的工作流體，負(fù)責(zé)熱能的傳遞和冷凍效果的產(chǎn)生。目前，許多高低溫濕熱交變?cè)囼?yàn)箱采用R404A作為冷媒，因其具有顯著的優(yōu)點(diǎn)。 R404A的制冷優(yōu)勢(shì) 1. 制冷跨度大 高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱的標(biāo)準(zhǔn)溫度范圍一般為-70℃至150℃，適合大多數(shù)產(chǎn)品的溫度試驗(yàn)。R404A的臨界溫度為 -
電容器溫度循環(huán)測(cè)試全解析：從方法到應(yīng)用2024-11-02 09:57
溫度循環(huán)測(cè)試是一種模擬電容器在實(shí)際應(yīng)用環(huán)境中經(jīng)歷的溫度變化過程的測(cè)試方法。這種測(cè)試通過將電容器反復(fù)暴露在高溫和低溫之間的循環(huán)變化中，評(píng)估其在不同溫度下的物理和電氣性能穩(wěn)定性。測(cè)試通常涉及一系列預(yù)設(shè)的溫度循環(huán)，以確保電容器能夠在其設(shè)計(jì)的工作環(huán)境中可靠運(yùn)行。 2. 溫度循環(huán)測(cè)試的重要性 電容器在實(shí)際工作中會(huì)受到環(huán)境溫度變化的影響。溫度的波動(dòng)可能導(dǎo)致電 -
電子產(chǎn)品高低溫測(cè)試：標(biāo)準(zhǔn)流程、設(shè)備要求與結(jié)果判定2024-11-02 09:54
高低溫測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)流程通常包括以下步驟： 1. 準(zhǔn)備階段： - 確保測(cè)試樣品處于斷電狀態(tài)。 - 將測(cè)試設(shè)備預(yù)熱至適當(dāng)?shù)某跏紶顟B(tài)，以便進(jìn)行低溫測(cè)試。 2. 低溫測(cè)試： - 將樣品放入低溫箱，設(shè)定溫度至-50℃，并保持4小時(shí)。請(qǐng)務(wù)必在樣品斷電的狀態(tài)下進(jìn)行，以避免因芯片自發(fā)熱影響測(cè)試結(jié)果。 - 低溫保持期間，定期監(jiān)測(cè)溫度，確保溫度均勻分布。 -
LED如何做老化測(cè)試2024-10-26 17:14
LED(發(fā)光二極管)因其高效能和長壽命，廣泛應(yīng)用于照明、顯示和信號(hào)等領(lǐng)域。然而，為了確保LED在實(shí)際應(yīng)用中的可靠性和穩(wěn)定性，進(jìn)行老化測(cè)試是不可或缺的一步。老化測(cè)試可以模擬LED在長期使用過程中的性能表現(xiàn)，幫助識(shí)別潛在的缺陷并優(yōu)化產(chǎn)品設(shè)計(jì)。本文將詳細(xì)介紹LED老化測(cè)試的目的、方法、過程和注意事項(xiàng)。 -
高溫老化試驗(yàn)房的故障處理方案2024-10-26 16:11
高溫老化試驗(yàn)房作為一種重要的測(cè)試設(shè)備，廣泛應(yīng)用于電子、汽車、航空航天等行業(yè)，用于評(píng)估材料和組件在高溫環(huán)境下的性能和可靠性。然而，在使用過程中，試驗(yàn)房可能會(huì)出現(xiàn)各種故障，這不僅會(huì)影響測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性，還可能導(dǎo)致安全隱患。因此，掌握高溫老化試驗(yàn)房的故障處理方案，對(duì)于確保設(shè)備正常運(yùn)行和測(cè)試質(zhì)量至關(guān)重要。本文將從故障類型、處理步驟及預(yù)防措施三個(gè)方面進(jìn)行詳細(xì)探討。