中圖儀器文章

• 激光干涉儀檢測機床的方法（以線性檢測為例）2023-10-30 09:06

  

  本產品的加工定制是否，類型是激光干涉儀，品牌是中圖，型號是sj6000，品種是激光干涉儀，測量范圍是80m，用途是檢測和校準機床三坐標機等。如有疑問或需要更多詳細信息，請隨時聯系中圖儀器咨詢。

  機床 檢測 激光干涉儀 868瀏覽量

• WD4000無圖晶圓檢測機：助力半導體行業高效生產的利器2023-10-25 13:31

  

  WD4000無圖晶圓檢測機集成厚度測量模組和三維形貌、粗糙度測量模組，非接觸厚度、三維維納形貌一體測量，使用一臺機器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三維形貌的測量，助力半導體行業高效生產！

  半導體 半導體晶圓 晶圓 檢測機 991瀏覽量

• 臺階儀和輪廓儀區別是什么？2023-10-25 13:29

  

  臺階儀和輪廓儀在工業制造領域的區別和應用領域解析測量和檢測是工業制造領域的重要環節，而臺階儀和輪廓儀則是各有其特點和應用范圍的兩種儀器。臺階儀和輪廓儀區別在哪？一、臺階儀1、產品概述臺階儀是一種接觸式表面形貌測量儀器。它是利用光學干涉原理，對微米和納米結構進行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測量。2、產品特點臺階儀在工業生產中，常用來保證產

  儀器 工業 測量儀器 表面輪廓儀 1324瀏覽量

• 一鍵式影像測量儀能測出什么？2023-10-24 16:28

  

  尺寸較小的產品及零部件需要批量測量時，一鍵式影像測量儀則是一個很好的選擇。一鍵式影像測量儀為企業打開了高精度、高效率測量的大門，并很大限度地為客戶簡化了測量過程。

  儀器 影像 測量儀 2102瀏覽量

• 一種晶圓表面形貌測量方法-WD40002023-10-24 09:42

  

  WD4000無圖晶圓幾何量測系統自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。1、使用光譜共焦對射技術測量晶圓Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI等參數，同時生成Mapping圖；2、采用白光干涉測量技術對Wafer表面進行非接觸式掃描同時建立表面3D層析圖像，顯示2D剖面圖和3D立體彩色視圖，高效分析表

  半導體 晶圓 測量 1925瀏覽量

• 閃測儀的基本概述和應用全面解析2023-10-19 11:05

  

  閃測儀編程簡單，工件可隨意擺放，批量測量更快更高效，更適合大批量測量場景。能一鍵測量二維平面尺寸，或配備光學非接觸式測量頭，實現高度尺寸、平面度等參數的精密快速測量。在工業制造領域，它通過對目標物體的精確測量，可以提高生產線的效率和產品的質量，被廣泛應用于產品質量控制和工藝改進。

  制造 工業 測量 2041瀏覽量

• 白光干涉儀(光學輪廓儀)：揭秘測量坑的形貌的利器！2023-10-18 09:05

  

  SuperViewW1白光干涉儀結合數字圖像處理技術和三維重建算法來提高測量的精度和效率，揭秘并測量坑的形貌，為科學研究和工程實踐提供更有力的支持

  檢測儀 測量 表面輪廓儀 1274瀏覽量

• 御風而行，激光跟蹤儀助力風電行業發展2023-10-13 08:09

  

  隨著全球能源行業重點從化石能源向可再生能源轉移，風電行業逐漸成為我國能源供應體系的重要分支，相關的風電檢測設備需求量急劇增加。風電設備主要特點是“重、大”，在過去，主要使用大型卡尺、兩點式儀表、專用模板等量具對重要尺寸及形位公差進行測量，但是操作不便、人為因素大，數據準確性和重復精度不高。激光跟蹤儀以其靈敏便捷、大測量范圍（最大測量半徑80米）、兼容性強（可

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• 一鍵閃測儀：從傳統測量儀器中脫穎而出的創新性技術2023-10-11 13:42

  

  一鍵閃測儀僅需一個簡單的按鍵操作，即可完成測量過程。這一創新性技術在產品設計上追求簡潔易用，同時實現了高效精確的測量。

  儀器 測量儀器 相機 1356瀏覽量

• 高精度激光測長機：精準測量的嶄新科技2023-10-11 13:39

  

  在實際應用中，激光測距技術的誤差范圍通常在毫米級別，而且不受環境因素的影響，能夠做到精準測量。在6米以上長度測量領域，中圖儀器SJ5180-10000高精度激光測長機分辨率達到0.0001mm，全長范圍內測量示值誤差在±（0.7+L/1000）μm之內。

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