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在Altera系列芯品上實現時間數字轉換電路的設計

電子設計 ? 來源:郭婷 ? 作者:電子設計 ? 2019-07-29 08:04 ? 次閱讀
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1.引言

時間數字轉換電路 TDC (Time to Digital Converter)廣泛應用于高能物理中粒子壽命檢測、自動檢測設備、激光探測、醫療圖形掃描、相位測量、頻率測量等研究領域[1]。如在醫療圖象掃描儀 PET中廣泛使用 TDC設備,其原理是檢測人體內正電子對消失后產生的一對 gamma射線光子,利用模擬電路將所釋放的 gamma射線光子與閾值比較,并在高于該閾值時產生一個觸發脈沖,數字 TDC電路測量該觸發脈沖到達的時間。早期該類設備中的 TDC的分辨率為 2.5ns,目前新型設備中分辨率已達 1.4ns [2]。在激光探測中,TDC電路用來測量 TOF(Time of Flight for Laser),即分辨從激光源到目標后再返回到激光檢測器的時間[3]。另外,TDC也是間接實現 ADC的手段之一。如果在模擬信號前加一個 ATC(Analog to Time Conversion),加上后續的 TDC部分則可以完成 ADC過程。

早期 TDC電路通常由印刷線路板(PCB)上的分立元件組成,且通常是模擬-數字混合電路,因此功耗和體積較大、電路的一致性較差。超大規模集成電路VLSI)工藝的進步使TDC設計在保持高分辨率的前提下向高集成度、低成本、低功耗方向發展。同時全數字集成(All Digital Integration)電路設計因工藝簡單、設計成本較低、設計難度較小、流片成功率高等因素而一直是電路設計人員追求的目標,全數字的 TDC也是研究人員關注的問題。

1993年報道了一種基于環形延時門的全數字 TDC設計。該設計以 1.5微米 CMOS工藝實現了 13位數字轉換輸出,芯片面積為 1.1mm 2,分辨率為 0.5ns。之后于 2003年,該作者在文獻[5]報道了一種全數字化的模數變換電路,該電路基于環形延時門的全數字TDC實現。文獻稱以 0.8微米 CMOS工藝在 0.45mm 2面積上實現了 18位全數字的 ADC。

隨著集成電路(IC)制造工藝的不斷進步,以FPGA(Field Programmable Gate Array)和CPLD( Complex Programmable Logic Device)為代表可編程邏輯器件 PLD產業迅速發展,逐漸蠶食專用集成電路ASIC(Application Specific Integrated Circuit)所占市場份額。這一發展使得基于PLD的TDC設計成為可能。眾所周知,基于PLD的設計可以有效地縮短研制周期,

提高設計靈活性和可靠性,降低設計成本且無流片風險。成功設計的IP核(Intellectual Property Core )與工藝相對獨立,可靈活地移植到其他SOC,使設計重用變得十分方便。

本文借鑒環形延時門法提出一種基于 FPGA的高精度 TDC的設計方法,為了適應 FPGA設計,對延時門法做了改造。如果簡單移植延時門設計,在 FPGA中實際是行不通的。因為與 ASIC設計不同,在 FPGA里門電路是由 EDA軟件綜合后實現,首先很難保證各門之間的延時一致性;其次,在時序上也很難保證和其他電路的配合。為了提高分辨率,與單純計數型 TDC不同,本設計中也采用類似環形延時門設計的粗計數和細計數兩部分電路對給定的時間量進行測量,粗計數部分控制測量范圍,細計數部分則由環形移位寄存器代替環形延時門實現。本轉換電路以 QuartusII 4.2為軟件平臺在 Altera系列芯品上實現,時序仿真表明昀高分辨率可達 3.3ns。

2.基本工作原理

基于環形延時門的 TDC系統的原理框圖如圖 1 所示,PA是起始脈沖,由非門組成的特定結構延時鏈提供脈沖 PA的延時信息。在 PB上升沿,延時信息經鎖存編碼電路鎖存并編碼后輸出,脈沖 PB與 PA之間的時間差即由編碼輸出的數字量表示。實驗結果表明,該方法適用于 ASIC實現,但不適用于 FPGA實現。原因是目前 EDA工具中綜合器的綜合結果是從設計對象的邏輯功能出發,而不注重設計者所特定的電路結構,而根據 FPGA電路的內部電路特點,文獻[2]提供的延時鏈結構并不適于在 FGPA上實現。FPGA內部布線延時的不確定性會大大增加各單元延時信息的離散性。文獻[6]介紹了該方法的 CPLD實現,但該法針對具體芯片附加了許多約束條件,延時鏈中每個非門由片內的一個邏輯宏單元 LE實現,由于 CPLD容量相對較小,導致芯片資源利率低,芯片間的移植性差,且由于 FPGA與 CPLD結構上的差異暫無法在 FPGA上實現。以下介紹一種全新的基于 FPGA的高精度 TDC設計方法。

在Altera系列芯品上實現時間數字轉換電路的設計

基于 FPGA的 TDC電路原理如圖 2所示,該電路包括 16位環形移位寄存器 (Ring Shift Register)、16位輸入 4位輸出的編碼電路 (Encoder)、時鐘管理模塊(Clockmgr)、8位通用計數器單元(Counter)、復位邏輯(Reset Logic)和輸出邏輯部分(Out Logic)。其中環型移位寄存器和編碼器組成該電路的細計數器部分,用來控制電路測量精度;通用計數器作為粗計數部分,決定電路的時間測量范圍;時鐘管理模塊通過調用 FPGA內部 PLL資源用來為移位寄存器提供合適的工作時鐘;復位邏輯控制整個 TDC電路的復位動作;輸出邏輯將轉換數字量的細計數和粗計數部分組合為昀終系統輸出。

16位移位寄存器構成如圖 3,由 16個帶異步復位和置位端的 D觸發器組成,初始狀態或復位后電路節點 p15被置位高電平,其他節點(p14至 p0)被復位至低電平;正常工作時,在移位脈沖 clk上升沿時高電平在 16個電路節點中循環出現,通過檢查某時刻電路節點的狀態(高電平的位置)可以判斷系統所經歷的移位脈沖 clk的數量,電路的時間分辨率即為 clk的時鐘周期。編碼器對移位寄存器節點狀態編碼并作為測量電路細計數部分的 4位輸出。通用計數器工作在移位寄存器節點 p15的上升沿,其計數周期為移位脈沖周期的 16倍,完成低位到高位的進位計數,并作為測量電路的粗計數部分的 8位輸出。復位邏輯負責環形移位寄存器和通用計數器的復位操作。輸出邏輯分別將粗計數和細計數輸出的 8位和 4位數據組合為測量電路的昀終輸出,并完成數據的校驗。

在Altera系列芯品上實現時間數字轉換電路的設計

基于 FPGA的單計數器脈寬測量電路采用在脈沖寬度對應的時間內記數的方法,因高頻工作時計數器會出現跳碼或漏計現象,造成系統錯誤輸出,所以分辨率很難提高 [7]。與單計數器脈寬測量電路相比采用結構簡單的細計數電路能大大提高電路的時間分辨率,并避免了通用計數器極限工作頻率下的跳碼現象,且細計數電路占用極少的片上資源。

3系統實現及優化

Altera公司提供的 Stratix和 Cyclone系列 FPGA芯片具有嵌入式鎖相環( PLL)模塊,該模塊可對外部時鐘進行倍頻分頻及相移操作,可編程占空比和外部時鐘輸出,進行系統級的時鐘管理和偏移控制,常用于同步內部器件時鐘和外部時鐘,使內部工作的時鐘頻率比外部時鐘更高,時鐘延遲和時鐘偏移昀小,減小或調整時鐘到輸出(TCO)和建立(TSU)時間,從而提供完整的時鐘管理方案。使用 Altera Quartus? II軟件無需任何外部器件,就可以調用芯片內部的 PLL來實現相應功能。

該系統時鐘管理模塊調用 FPGA內部 PLL實現,通過 QuartusII設置參數為:Ratio為倍頻/分頻因子(Ratio)為 4,輸出時鐘相移 (Ph) 為 0,輸出時鐘占空比 (DC)為 50%。

該 TDC電路的時間分辨率取決于環形移位寄存器和編碼電路組成的細計數部分,要得到正確的測量數據必須保證對移位寄存器輸出狀態的正確編碼。與 ASIC設計不同,設計者很難預料 EDA軟件布局布線(Layout)后的情況,而且各種不同結構和性能的可編程器件布局布線的結果也不盡相同,而且構成移位寄存器的 D觸發器的時鐘到輸出時間(TCO)和 D觸發器輸入在金屬連線上穩定建立的時間(TSU)也存在一定離散性,使得高頻移位脈沖(納秒級)工作下的移位寄存器在狀態轉換時出現毛刺現象,影響編碼正確輸出,同時編碼器的固有延時特性也限制系統的時間分辨率。該脈寬測量電路系統采用的優化的編碼算法,使得高頻移位狀態下編碼輸出能準確反映環形移位寄存器上各節點狀態,從而保證了該系統的測量精度;移位時鐘為 333MHz(周期 3ns)時在 Altera公司 Stratix和 Cyclone系列芯片上實現了編碼器的正常工作。

該系統包含了粗記數和細記數兩部分電路,粗記數電路在細記數字電路高位輸出(圖 3中 p15)的上升沿工作。但是由于粗記數電路的延時在被測脈沖( clks)上升沿時可能會造成對輸出數據的誤讀。

為解決誤讀現象,在輸出邏輯模塊里加入糾錯電路。對被測脈沖 clks延時 clk周期后產生新時鐘 clks1,在 clks和 clks1的上升沿同時對 q1和 q0取樣并對取樣數據進行處理后作為昀終數據輸出,從而有效地解決了誤讀現象。

移位脈沖工作頻率即為該測量電路的時間分辨率,通過時鐘管理單元可采用不高的外部時鐘便可得到很高的測量精度。

3仿真結果和測試數據

為測試該系統的時間分辨率,為基本時間數字轉換電路附加特定功能電路,使其具有連續測量時鐘脈沖寬度的功能,測試對象是 clks的高電平延續時間。通過改變時鐘脈沖源的頻率來記錄該電路對應的測量數據,從而得到該 TDC電路的時間分辨率。

本文以 QuartusII Web Edition 4.2為軟件平臺,實驗表明,本 TDC設計在 Altera各主流芯品上的時序仿真均能順利通過。適配 Cyclone EP1C3Q240C8芯片的時序仿真表明,移位時鐘為 333M(即分辨率為 3ns),所得到的測試數據輸出正確地反映了被測脈沖的寬度,被測脈沖下降沿到測量數據建立的延時為 5ns。

由該 TDC構成的脈寬測量電路在 Cyclone EP1C3Q240C8芯片實現,系統外部時鐘 25Mhz,PLL設置倍頻因子 8,由 SP1641B信號發生器提供固定的被測脈沖頻率 F,時間分辨率 Res的分布如圖 4所示,測試數據表明 Res在 4.9-5.1ns之間,理論值為 5ns。

在Altera系列芯品上實現時間數字轉換電路的設計

測量和仿真數據表明該電路能達到納秒級時間分辨率,邏輯資源占用少,可在低密度芯片上實現作為專用測量電路使用,或在高密度芯片上作為功能模塊嵌入到特定功能的片上系統(SOC)中;該 TDC電路的轉換速度也在納秒級,使該電路適用于實時數據采集及高速數據處理系統。精度可調也是該設計一大特點,移位脈沖的工作頻率決定了該轉換系統的轉換精度,通過時鐘管理單元可以產生不同頻率的移位時鐘,從而測量精度可以根據具體需要進行適當調整。

3結束語

本基于 FPGA的時間數字轉換電路設計在占用較少芯片資源的前提下,實現了很高的測量精度,工作時數據轉換速度也在納秒級;本設計電路接口簡單可作為獨立的功能電路使用,亦可作為功能模塊 IP核[8]方便地嵌入到其他系統實現特定功能。基于 Altera芯片的時序仿真和硬件測試表明了該方法的可行性和準確性。


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