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      Analog Devices Inc. ADMX2001B阻抗分析儀測量模塊特性/應用/布局

      科技觀察員 ? 2025-06-11 14:34 ? 次閱讀

      Analog Devices Inc. ADMX2001B精密阻抗分析儀測量模塊簡化了阻抗測量系統的開發，也可用于增強現有測試平臺的功能。ADMX2001B采用高性能混合信號和處理算法，可測量小至0.1fF的電容變化，電阻值高達1GΩ，通常用于測試半導體器件、電子元件和傳感器。此外，得益于內置測量算法，Analog Devices Inc. ADMX2001B能夠提供各種格式的完全校準的復雜阻抗或導納測量結果，其中包括電阻、電容和電感的并聯和串聯組合。

      特性

      • 復雜阻抗測量：0.2Hz至10MHz
      • 高吞吐量
        • 測量時間：2.7ms
      • 基本相對精度：0.05%
      • 寬測量范圍
        • 電阻范圍：100μΩ至1GΩ
        • 電容范圍：100aF至10F
        • 電感范圍：10pH至100H
      • 可編程測試信號
        • 16位幅度調整高達2.4V
        • 頻率分辨率：0.2Hz
        • 16位直流偏置設置高達±2.4V
      • 直流電阻測量
      • 18種阻抗測量格式，用于C、R、L、Z和Y
      • 自動多點和參數掃描
      • 校準和夾具補償功能
        • 自動校準例程，用于測量可追溯性
        • 非易失性存儲器中的校準系數存儲
        • 補償消除了夾具寄生效應

      應用

      • 自動化測試設備
      • 半導體特性
      • 晶圓驗收測試
      • 電阻抗頻譜分析
      • 阻抗網絡分析
      • 電池測試

      板布局

      1.png

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