Power Tester功率循環(huán)測試設(shè)備可以用于幫助客戶加速完成封裝結(jié)構(gòu)研發(fā)、可靠性測試以及可靠性篩選等工作。作為大功率半導(dǎo)體器件瞬態(tài)測試和功率循環(huán)測試測量行業(yè)的標(biāo)桿和引領(lǐng)者，具有其他同類設(shè)備無法比擬的重大優(yōu)勢，下面讓我們看看它有哪些優(yōu)勢。

1.針對不同行業(yè)的解決方案

——廣泛的硬件配置選擇

無論是小功率單管器件還是Si基MOSFET, IGBT,功率二極管等半導(dǎo)體器件和SiC基Mosfet模塊，Power Tester都能提供各種不同電流不同電壓的版本型號，滿足對以上被測器件進(jìn)行瞬態(tài)熱測試Rth和功率循環(huán)PC測試。

2.同時兼具瞬態(tài)熱測試Rth和

功率循環(huán)Power Cycling

可以同時進(jìn)行功率循環(huán)和熱測試模式。

利用功率循環(huán)對待測器件施加老化應(yīng)力

根據(jù)器件達(dá)到失效的循環(huán)數(shù)預(yù)估其壽命

功率循環(huán)期間定期進(jìn)行熱瞬態(tài)測試，并監(jiān)控系統(tǒng)參數(shù) (VCE 和IGate )

功率循環(huán)期間，任何與老化降級相關(guān)的熱效應(yīng)都可以在不移動待測器件的情況下通過結(jié)構(gòu)函數(shù)在線監(jiān)測

系統(tǒng)會根據(jù)用戶提前設(shè)定的條件增加熱瞬態(tài)測試的頻率

3.操作界面簡單

用戶可以在工業(yè)觸摸屏上通過一步一步導(dǎo)向式快速設(shè)置實驗參數(shù)和條件，快速完成實驗的初始準(zhǔn)備工作。另外通過簡單的操作講解培訓(xùn)，能讓專業(yè)人員和生產(chǎn)線操作人員更快掌握測試流程和輕松上手使用設(shè)備。

4.多種功率循環(huán)施加策略

(符合AQG-324標(biāo)準(zhǔn))

Power Tester功率循環(huán)測試設(shè)備在功率循環(huán)測試和瞬態(tài)熱測試聯(lián)合測量模式下，可以支持多達(dá) 4 種不同的功率控制模式：恒定加熱電流模式(PCsec)、恒定結(jié)溫差模式ΔTj、恒定功率模式ΔP、恒定殼溫差模式ΔTc。

5.支持兩種功率模式短周期&長周期

(PCsec & PCmin)

Power Tester功率循環(huán)測試設(shè)備符合AQG-324(2021)標(biāo)準(zhǔn)里的對于PCsec& PCmin功率循環(huán)模式的要求，支持短周期和長周期的循環(huán)實驗。

6.高精度的監(jiān)控和精確的測試結(jié)果

功率循環(huán)期間，記錄的數(shù)據(jù)包括：

電學(xué)參數(shù)：開關(guān)切換前后Vce，柵極電流I(g,off)， ΔP、Icycle、Rdson，VDSon,VDSon cold等

熱學(xué)參數(shù)：ΔTJ ， Tjmax， Tjmin，ΔTJ / ΔP， Zth以及結(jié)構(gòu)函數(shù)等。

7.遠(yuǎn)程監(jiān)控

設(shè)備運行狀態(tài)都可以遠(yuǎn)程使用web界面進(jìn)行監(jiān)控。實驗數(shù)據(jù)可通過網(wǎng)線實時網(wǎng)絡(luò)傳輸。

8.簡易的操作

設(shè)備自帶兩個冷板，實現(xiàn)對封裝類型為冷卻表面的器件進(jìn)行快速輕松安裝，設(shè)備內(nèi)置了帶觸摸屏的工業(yè)計算機(jī)，使用操作非常簡易和方便。

9.安全功能和高可靠性設(shè)計

Power Tester功率循環(huán)測試設(shè)備具有極高的安全性能。設(shè)備具有一個標(biāo)準(zhǔn)4 色信號燈塔，用來指示設(shè)備操作的狀態(tài)。在封閉的測量區(qū)域內(nèi)裝有各種安全傳感器，一旦觸發(fā)，設(shè)備可立即停止加熱電流的輸出或設(shè)備停機(jī)，保證操作人員和設(shè)備的安全。

10.了解失效機(jī)理和損害的因果關(guān)系

Power Tester 功率循環(huán)測試設(shè)備在功率循環(huán)測試過程中，監(jiān)控和記錄器件的每個循環(huán)的各種參數(shù)值，通過周期性對被測器件進(jìn)行瞬態(tài)熱測試，最終得到不同周期的結(jié)構(gòu)函數(shù)，可以清晰的顯示出被測器件內(nèi)部的老化降級過程；利用結(jié)構(gòu)函數(shù)分析循環(huán)過程中封裝結(jié)構(gòu)的改變和缺陷等，同時可以實時、“原位在線”式的對器件失效原因進(jìn)行確認(rèn)和分析，保證測試結(jié)果的精度及準(zhǔn)確性。