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AFR測試方法詳解

是德科技KEYSIGHT ? 來源:是德科技KEYSIGHT ? 2025-03-27 11:23 ? 次閱讀

【什么是AFR】

AFR(Automatic Fixture Removal)即自動夾具移除功能,是Keysight網(wǎng)絡(luò)分析儀中的一項重要功能。

射頻微波測試中,許多被測器件(DUT)沒有同軸連接器,因此需要使用夾具或傳輸線轉(zhuǎn)換連接來適應(yīng)同軸測試環(huán)境。然而,夾具本身會引入誤差,影響測量結(jié)果的準確性。AFR功能通過一系列向?qū)С绦颍軌虮碚鲓A具并從測量結(jié)果中移除夾具效應(yīng),從而提高測量精度。

【AFR的必要性】

在同軸環(huán)境中測量非同軸器件時,夾具的使用是必不可少的。然而,夾具本身可能引入插損、反射和相位誤差等,這些誤差會疊加到被測器件的真實響應(yīng)上,導致測量結(jié)果不準確。因此,為了獲得被測器件的真實性能參數(shù),必須精確移除夾具效應(yīng)。AFR功能正是為此而設(shè)計的。

【AFR的應(yīng)用場景】

AFR功能廣泛應(yīng)用于射頻和微波測試中,特別是在測量背板傳輸線、高速連接器、表貼無源器件、有源器件(如放大器、混頻器)等時。這些器件通常沒有同軸連接器,需要使用夾具進行連接。通過AFR功能,可以準確測量這些器件的性能參數(shù),提高測試的可靠性和準確性。

【AFR的特點與優(yōu)勢】

-簡化操作?:

AFR功能通過向?qū)С绦蛞龑в脩糁鸩酵瓿蓨A具表征和夾具效應(yīng)移除,簡化了操作流程。

-提高精度?:

AFR功能能夠精確移除夾具效應(yīng),從而提高測量精度。

-靈活性?:

AFR功能支持多種夾具類型,包括單端夾具和差分夾具,滿足不同測試需求。

-可保存性?:

去嵌入文件可以保存為多種格式,方便日后使用。

【AFR測試方法詳解】

測試前準備

在進行AFR測試之前,需要做好以下準備工作:

-校準網(wǎng)絡(luò)分析儀?:

使用電子校準件(Ecal)或機械校準件對網(wǎng)絡(luò)分析儀進行校準,確保測量結(jié)果的準確性。

-連接測試夾具?:

將測試夾具連接到網(wǎng)絡(luò)分析儀的測試端口上。

-設(shè)置測試參數(shù)?:

根據(jù)被測器件的特性,設(shè)置網(wǎng)絡(luò)分析儀的測試參數(shù),包括頻率范圍、功率電平、中頻帶寬等。

測試AFR

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調(diào)用AFR功能:

在網(wǎng)絡(luò)分析儀的操作界面中,找到并調(diào)用AFR功能。通常,AFR功能會以一個向?qū)С绦虻男问匠霈F(xiàn),引導用戶逐步完成測試過程。

定標夾具:

在向?qū)С绦虻囊龑拢紫冗M行夾具的表征。這一步驟通常包括測量夾具的S參數(shù)(散射參數(shù)),這些參數(shù)將用于后續(xù)的夾具效應(yīng)移除。

連接2x直通標準夾具?:

將2x直通標準夾具連接到測試電纜端口上。這個標準夾具用于去除測試夾具的同軸接口、同軸接口與PCB傳輸線連接處的誤差等。

選擇測試類型和端口?:

在AFR界面中,選擇測試類型為“Single Ended”(單端)或“Differential”(差分),并根據(jù)實際測試需求選擇測試端口(如2 Port)。

定義標準件?:

在AFR界面中,定義標準件為“Thru”(直通),并填寫標準夾具的長度(通常默認為0ns)。

測量標準件?:

點擊“Measure”按鈕,網(wǎng)絡(luò)分析儀將對標準夾具進行測量,并保存測量結(jié)果為一個.s2p文件。這個文件將用于后續(xù)的夾具效應(yīng)移除。

移除夾具效應(yīng)

在完成夾具表征后,接下來進行夾具效應(yīng)的移除。

-選擇需要去除夾具的勾選項?:

在AFR界面中,選擇需要去除夾具效應(yīng)的端口和對應(yīng)的勾選項。

-應(yīng)用校正?:

點擊“Apply Correction”按鈕,網(wǎng)絡(luò)分析儀將使用算法處理標準夾具的S參數(shù),生成兩個.s2p文件,并分別在Port1和Port2上進行夾具去嵌入。這樣,夾具效應(yīng)就被從測量結(jié)果中移除了。

保存夾具移除數(shù)據(jù)

在完成夾具效應(yīng)移除后,需要保存夾具移除數(shù)據(jù)以便日后使用。

-選擇保存格式?:

在AFR界面中,選擇保存格式為“VNA Format”或其他適合的格式。

-保存去嵌入文件?:

點擊“Save Fixture Files”按鈕,將生成的兩個.s2p文件保存下來,并分別標注是對應(yīng)VNA的哪個Port。

測試結(jié)果分析

在完成AFR測試后,可以對測試結(jié)果進行分析。通常,通過AFR后,反射S參數(shù)可以達到較低的水平(如-40dB以下),傳輸S參數(shù)(如S21)的幅度和相位變化也會更加穩(wěn)定和平滑。這些結(jié)果表明,夾具效應(yīng)已經(jīng)被成功移除,測量結(jié)果更加準確可靠。

AFR功能作為網(wǎng)絡(luò)分析儀中的一項重要功能,在射頻和微波測試中發(fā)揮著重要作用。通過精確移除夾具效應(yīng),AFR功能能夠提高測量精度,滿足不同測試需求。

在實際應(yīng)用中,需要按照規(guī)定的測試步驟進行操作,并注意保存夾具移除數(shù)據(jù)以便日后使用。隨著射頻和微波技術(shù)的不斷發(fā)展,AFR功能將進一步完善和優(yōu)化,為射頻和微波測試提供更加準確可靠的解決方案。

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原文標題:“不拆夾具”也能測?AFR技術(shù)為高速連接器性能保真

文章出處:【微信號:是德科技KEYSIGHT,微信公眾號:是德科技KEYSIGHT】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

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