德國(guó)HP Spectroscopy公司成立于2012年,致力于為全球科研及工業(yè)領(lǐng)域的客戶定制理想解決方案,是科學(xué)儀器的全球供應(yīng)商和領(lǐng)先開(kāi)發(fā)商。產(chǎn)品線包括XAS系統(tǒng),XUV/VUV/X-ray光譜儀,beamline產(chǎn)品等。主要團(tuán)隊(duì)由x射線、光譜、光柵設(shè)計(jì)、等離子體物理、beamline等領(lǐng)域的專家組成。并與全球領(lǐng)先的研究機(jī)構(gòu)的科學(xué)家維持緊密合作,關(guān)注前沿技術(shù),保持產(chǎn)品的迭代與創(chuàng)新。
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):
● 平場(chǎng)掠入射光譜儀
● 好的光譜分辨率
●波長(zhǎng)范圍為1 ~ 100nm
● 高效率無(wú)狹縫模式
在易用型平場(chǎng)校正光譜儀市場(chǎng)中,highLIGHT具有較高的光譜分辨率。單次測(cè)量覆蓋寬光譜范圍的同時(shí),可獲得優(yōu)于等于0.006nm的光譜分辨率。同時(shí),客戶可以選擇是否使用入射狹縫。
集成了狹縫架、濾波器插入裝置、以及電動(dòng)光柵定位設(shè)備的模塊化設(shè)計(jì)特點(diǎn),使其能夠匹配不同的實(shí)驗(yàn)幾何和構(gòu)型。
靈活完善的探測(cè)器選項(xiàng):
用于高分辨率和高動(dòng)態(tài)范圍的XUV CCD相機(jī)
用于最寬波長(zhǎng)覆蓋和門(mén)控以及增強(qiáng)探測(cè)的MCP/CMOS檢測(cè)器。
無(wú)狹縫設(shè)計(jì)
HPS公司專有的光譜儀設(shè)計(jì)使用光源直接成像技術(shù)。 因此,不需要狹窄的入口狹縫,并且可以最大程度地收集入射光束。 與傳統(tǒng)的光譜儀相比,到達(dá)探測(cè)器的光強(qiáng)會(huì)高出20倍。該結(jié)構(gòu)還極大地提高了日常操作的穩(wěn)定性。
測(cè)量結(jié)果
利用highLIGHT XUV獲得的倍頻摻鐿光纖激光系統(tǒng)(334kHz, 90uJ,<300fs)的第9次諧波和第11次諧波光譜。諧波帶寬為約20 meV(半高全寬),對(duì)應(yīng)的相對(duì)能量帶寬為ΔE/E = 7.5E-4。V. Hilbert 等人,緊湊、交鑰匙、窄帶寬、可調(diào)諧、高光子通量極紫外光源。
通過(guò)在超過(guò)一個(gè)驅(qū)動(dòng)激光周期的延遲范圍內(nèi)改變驅(qū)動(dòng)脈沖對(duì)的延遲來(lái)調(diào)諧 1030nm 驅(qū)動(dòng)激光器的 19 次諧波的 highLIGHT XUV 光譜。白色十字代表驅(qū)動(dòng)復(fù)合脈沖的中心光子能量乘以諧波次數(shù) 19。V. Schuster 等人,高次諧波的敏捷頻譜調(diào)諧通過(guò)兩個(gè)驅(qū)動(dòng)脈沖的干擾。
用highLIGHT SXR+在2.88nm(430eV,對(duì)應(yīng)1s2-1s2p躍遷)處獲得的氮譜線的發(fā)射譜測(cè)量結(jié)果。譜線的半高全寬是對(duì)應(yīng)1.7個(gè)CCD像元尺寸(13μm像元),對(duì)應(yīng)分辨能力為1890。該探測(cè)器的極限分辨能力可達(dá)3290。數(shù)據(jù)由哥廷根激光實(shí)驗(yàn)室 K. Mann 博士提供。
主要應(yīng)用:高次諧波產(chǎn)生源,阿秒科學(xué),強(qiáng)激光與物質(zhì)相互作用,自由電子激光器,激光與放電產(chǎn)生的等離子體源。
審核編輯 黃宇
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