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低壓電容補(bǔ)償超限擊穿的原因

cookekolb ? 來源:cookekolb ? 作者:cookekolb ? 2024-10-30 14:15 ? 次閱讀
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在電場作用下絕緣物內(nèi)部產(chǎn)生破壞性的放電,絕緣電阻下降,電流增大,并產(chǎn)生破壞和穿孔的現(xiàn)象

低壓電容補(bǔ)償設(shè)備在低壓配電系統(tǒng)中作為無功功率補(bǔ)償裝置的主要電器件而得到廣泛應(yīng)用,但由于補(bǔ)償設(shè)備長期處于運(yùn)載狀態(tài),經(jīng)常會(huì)受到電網(wǎng)中各種非正常因素引起的過電流對電容器的沖擊。

低壓電容補(bǔ)償設(shè)備的超限擊穿通常是由于以下原因引起的:

電壓過高 :當(dāng)系統(tǒng)電壓長期超過電容器的額定電壓時(shí),電容器的介質(zhì)會(huì)承受額外的電應(yīng)力,導(dǎo)致內(nèi)部介質(zhì)絕緣材料受損并逐漸老化,最終可能引發(fā)擊穿。常見的過電壓因素包括線路電壓波動(dòng)、操作過電壓、諧波電壓疊加等。

諧波電流 :如果系統(tǒng)中諧波含量較高,電容器會(huì)流過比額定值更大的諧波電流,導(dǎo)致電容器溫升過高、局部放電增多,最終造成擊穿。特別是在高次諧波頻率下,電容器等效阻抗減小,電流上升顯著,風(fēng)險(xiǎn)增加。

低壓電容器.jpg

溫度過高 :電容器安裝環(huán)境溫度過高或通風(fēng)不良,都會(huì)導(dǎo)致內(nèi)部溫度升高,電容器材料老化加快,絕緣性能下降,極易引起擊穿。此外,運(yùn)行中如果電容器內(nèi)的散熱不良,溫度升高會(huì)進(jìn)一步加劇老化。

頻繁切換 :電容器頻繁切換可能產(chǎn)生較高的沖擊電流和電壓,尤其是在沒有合適的抑制設(shè)備(如抑制電抗器或緩沖裝置)的情況下,會(huì)增加電容器的電應(yīng)力,加速老化并導(dǎo)致?lián)舸?/p>

制造質(zhì)量或使用壽命 :電容器內(nèi)部絕緣介質(zhì)、工藝質(zhì)量不足或老化等也會(huì)導(dǎo)致介質(zhì)擊穿。如果電容器接近或超過其設(shè)計(jì)壽命,絕緣性能下降顯著,擊穿的風(fēng)險(xiǎn)也會(huì)增加。

不合理的選型 :若電容器的額定電壓、容量等參數(shù)選型不當(dāng),無法滿足實(shí)際應(yīng)用需求,也會(huì)引發(fā)電容器過載和過熱,進(jìn)而導(dǎo)致超限擊穿。

為減少低壓電容補(bǔ)償設(shè)備超限擊穿的風(fēng)險(xiǎn),應(yīng)根據(jù)實(shí)際需求合理選型,配置諧波濾波設(shè)備,控制環(huán)境溫度,避免頻繁操作,并定期檢測電容器的運(yùn)行狀態(tài)。

審核編輯 黃宇

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