01|檢測需求:掃描薄膜圓圈的高度差
立儀光譜共焦傳感器行業(yè)應用|薄膜高度差掃描
02|檢測方式
客戶要求掃描薄膜圓圈的高度差,根據觀察樣品我們選擇立儀科技D40A30鏡頭搭配H系列控制器進行測量
03|光譜共焦測量結果
薄膜圓圈的高度差輪廓
立儀光譜共焦傳感器行業(yè)應用|薄膜高度差掃描
04|光譜共焦側頭
D40A30側頭相關參數
立儀光譜共焦傳感器行業(yè)應用|薄膜高度差掃描
05|H系列控制器
H系列控制器相關參數
立儀光譜共焦傳感器行業(yè)應用|薄膜高度差掃描
立儀光譜共焦傳感器行業(yè)應用|薄膜高度差掃描
審核編輯 黃宇
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