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揭示射頻芯片性能測試的核心指標

納米軟件(系統集成) ? 來源:納米軟件(系統集成) ? 作者:納米軟件(系統集 ? 2024-08-19 10:35 ? 次閱讀

射頻芯片的性能優劣直接決定了通信設備的效能,因此,對其性能的精確測試顯得尤為關鍵。接下來,和納米軟件一起了解那些不可或缺的測試指標。

一、射頻芯片測試項目

在測試射頻芯片之前,我們需要先了解衡量和評估芯片性能的指標,從而判斷射頻芯片是否符合設計規范和要求。

1. 駐波

用來評估射頻芯片與傳輸線之間的阻抗匹配程度,駐波會影響到信號傳輸的質量,造成信號失真、衰減等。

2. 插入損耗

指在信號通過頻段內,?信號的幅度損耗值。插入損耗直接影響著信號傳輸的效率和質量。

3. 帶寬

指射頻芯片能夠有效工作的頻率范圍,是評估信號傳輸能力的指標之一,影響著信號傳輸的速度和范圍。

4. 帶外抑制

帶外抑制指芯片對偏離其設計工作頻段范圍外的信號的抑制能力,對減少干擾、保證通信質量有著重要作用。

5. 群延遲

群延遲是射頻芯片性能測試中的重要指標之一,它影響著信號的每個頻率分量的相位,從而影響信號傳遞的正確性。

6. 輸入輸出阻抗

輸入輸出阻抗對于信號的準確傳輸和電路性能的提升有著重要影響。

7. 功耗

是指射頻芯片在不通過工作狀態下的功耗,是芯片的一個重要技術指標,直接影響著無線通信設備的能效和續航能力。

8. 頻率的穩定性

頻率穩定性是指在一段時間內射頻芯片輸出頻率的變化程度。頻率穩定性較高,說明芯片輸出的頻率在不同環境條件下變化較小,提供的射頻信號更穩定。

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NSAT-1000射頻自動化測試集成系統

二、射頻芯片S參數測試

S參數是評估和衡量射頻芯片性能的一個重要指標,通過測量S參數,可以評估射頻芯片在信號傳輸中的損耗、反射、散射等影響因素,為射頻芯片的優化提升提供方向。射頻芯片S參數測試主要包括:

S11:反射系數,用來衡量信號從端口1反射回源端的程度。

S21:傳輸系數,用來描述信號從源端傳輸到負載的能力。

S12:傳輸系數,用于描述信號從負載端反向傳輸到源端的信號強度。

S22:反射系數,用來衡量端口2接收到的信號的反射情況。

射頻芯片S參數測試通常用網絡分析儀來檢測,測試設備的選擇對于測試射頻芯片也是非常重要的。隨著自動化測試需求日益強烈,射頻自動化測試設備成為芯片測試過程中的重要組成部分。

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S參數自動化測試

NSAT-1000射頻自動化測試系統集成是專門針對各類元器件S參數測試的自動化測試設備,通過測試軟件程控網分,實現兩者之間的通訊,完成射頻芯片S參數的自動化測試。自動化測試解放了人力,大幅提高了測試速度和效率,并且系統會自動采集和分析數據,避免了手動記錄數據出錯和人工分析工作量大、耗時的問題。

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數據多維度智能分析

無線通信的未來依賴于射頻芯片的穩定性能,而納米軟件的自動化測試方案正是這一未來的有力支撐。我們期待與您攜手,共同推動無線通信技術的持續進步。

審核編輯 黃宇

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