在測(cè)試電流時(shí),我們經(jīng)常收到客戶(hù)的一些問(wèn)題,總的來(lái)說(shuō)會(huì)有下列等問(wèn)題困擾:
1.測(cè)試電流范圍較廣,從10A級(jí)別到mA、μA、nA級(jí)別甚至是pA、fA級(jí)別這樣的超小電流,尋找測(cè)試設(shè)備時(shí)無(wú)法選擇同一個(gè)品牌的儀器而煩惱。
2.即使找到了符合范圍的所有儀器,也無(wú)法解決測(cè)量精度問(wèn)題。
3.解決了測(cè)量精度問(wèn)題,測(cè)量速度又不夠。
4.測(cè)量速度夠了,又面臨只能測(cè)試單個(gè)器件,無(wú)法提高測(cè)試效率。
5.測(cè)試效率提高了,需要配套自動(dòng)化設(shè)備進(jìn)一步提高測(cè)試效率。
6.解決了上述問(wèn)題后,又需要解決測(cè)量結(jié)果實(shí)時(shí)記錄及統(tǒng)計(jì)等問(wèn)題。
為了解決這些問(wèn)題我們就需要選擇一套多通道的微小電流測(cè)試系統(tǒng)來(lái)滿(mǎn)足當(dāng)下的一個(gè)測(cè)試需求,這里呢我們推薦同惠的TH300-Cur 多通道微電流測(cè)試解決方案。
TH300系列多通道電流測(cè)試系統(tǒng)


l 多通道解決方案以TH2690系列飛安表技術(shù)為基礎(chǔ),保證了測(cè)試小電流的精度及采樣速度;
l 采用了模組式運(yùn)行方式,一個(gè)模組支持10個(gè)通道的并行(同步)采樣,保證了測(cè)試速度和效率;
l 模組間支持?jǐn)U展,可根據(jù)需要擴(kuò)展至200個(gè)通道甚至更多,保證了其擴(kuò)展性;
l 數(shù)據(jù)采集用上位機(jī)來(lái)控制,可實(shí)時(shí)采樣每個(gè)通道的測(cè)試結(jié)果并用數(shù)據(jù)、圖形等方式顯示,測(cè)試結(jié)果可實(shí)時(shí)顯示合格與否,上位機(jī)軟件提供了強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析及存儲(chǔ)能力。
l 對(duì)于不同的產(chǎn)品,可根據(jù)需求提供測(cè)試工裝或整套測(cè)試系統(tǒng)。
-
測(cè)試
+關(guān)注
關(guān)注
8文章
5625瀏覽量
128284 -
小電流
+關(guān)注
關(guān)注
0文章
29瀏覽量
11756
發(fā)布評(píng)論請(qǐng)先 登錄
多通道電子負(fù)載集成優(yōu)化創(chuàng)新實(shí)踐

無(wú)線(xiàn)采發(fā)儀多通道 巖脈 在結(jié)構(gòu)健康與地質(zhì)災(zāi)害監(jiān)測(cè)中的應(yīng)用 VS-Box振弦、溫度及多信號(hào)采發(fā)儀
怎樣通過(guò)四通道氣密性測(cè)試儀實(shí)現(xiàn)快速檢測(cè)芯片的密封性

多通道數(shù)據(jù)采集和信號(hào)生成的模塊化儀器如何重構(gòu)飛機(jī)電子可靠性測(cè)試體系?

固緯電子發(fā)布GWinstek GBC/GBR系列多通道充放電測(cè)試系統(tǒng)
PCI Express Gen5自動(dòng)化多通道測(cè)試方案

簡(jiǎn)儀科技多通道同步微小電壓采集解決方案

多通道負(fù)載測(cè)試和性能評(píng)估?
多通道電流監(jiān)控的常見(jiàn)用途

電流探頭在測(cè)試過(guò)程中更換通道會(huì)損壞嗎
新品發(fā)布 | 多通道車(chē)載以太網(wǎng)仿真測(cè)試工具

AMC60804T具有電流和電壓輸出DAC和多通道ADC的4通道光學(xué)監(jiān)視器和控制器數(shù)據(jù)表

多通道老化電流測(cè)試解決方案

多通道任意波發(fā)生器多路輸出測(cè)試中的應(yīng)用

評(píng)論