女人自慰AV免费观看内涵网,日韩国产剧情在线观看网址,神马电影网特片网,最新一级电影欧美,在线观看亚洲欧美日韩,黄色视频在线播放免费观看,ABO涨奶期羡澄,第一导航fulione,美女主播操b

0
  • 聊天消息
  • 系統消息
  • 評論與回復
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學習在線課程
  • 觀看技術視頻
  • 寫文章/發帖/加入社區
會員中心
創作中心

完善資料讓更多小伙伴認識你,還能領取20積分哦,立即完善>

3天內不再提示

SD NAND?可靠性驗證測試

MK米客方德 ? 2023-12-14 14:29 ? 次閱讀

SD NAND可靠性驗證測試的重要性

SD NAND可靠性驗證測試至關重要。通過檢驗數據完整性、設備壽命、性能穩定性,確保產品符合標準,可提高產品的可信度、提高品牌聲譽,減少維修成本,確保產品質量和市場競爭力。
MK-米客方德是一家做存儲的公司,是SD NAND技術的引領者,工業應用的領導品牌。其公司SD NAND產品都有可靠性驗證測試報告,

SD NAND可靠性驗證測試報告

以MK-米客方德工業級SD NAND的MKDN064GCL-ZA型號為例,下面是可靠性驗證測試的具體項目。

Test Summary』

No

Test Item

Description

Result

1

Card Density Check

90%

Pass

2

Performance Test

HDBench/CrystalDiskMark/H2test

---

3

Compliance Test

TestMetrix VTE3100/VTE4100

Pass

4

Speed Class Test

TestMetrix VTE3100/VTE4100

Pass

5

Full Size Copy/Compare

H2test

Pass

6

Burn-in Test

BIT @-25~ 85’C

Pass

7

NPOR Test

Normal power cycle test when card is stand by

Pass

8

SPOR Test

Sudden power cycle test when card is busy

Pass

9

Read Only Test

H2test

Pass

10

IR-Reflow

260 ’C, check SLC data

Pass

11

Power consumption

Write & Read current measurement

---

Test Item

  1. Card DensityCheck

Test Tool & Environment
  1. SDFormatter
  2. Win7OS
Sample Quantity

1ea

Result

7374MB, 90%

  1. PerformanceTest
    1. HDBench / CrystalDiskMark / IOMeter /H2test

Test Tool & Environment

  1. HDBench Ver3.40 / CrystalDiskMark 6.0 / IO meter / H2 test
  2. Card Reader : Transcend TS-RDP5K(GL834)
  3. Win7OS
    1. IOMeter
Test Criteria

Depends on customer criteria

Sample Quantity

2ea

Result

Pass (see 2.4 performance data)

Test Tool & Environment

1. IO Meter 2006.07.27

  1. Card Reader : Transcend TS-RDP5K(GL834)
  2. Win7OS
    1. TestMetrix
Test Criteria

Depends on customer criteria

Sample Quantity

2ea

Result

Pass (see 2.4 performance data)

Test Tool & Environment

1. TestMetrix VTE3100/VTE4100

Test Criteria

Depends on customer criteria

Sample Quantity

3ea

Result

Pass (see 2.4 performance data)

  1. Performance Data

Test Item

Test Mode

Result

HDBench (100MB)

Sequential Read (MB/s)

46.2

Sequential Write (MB/s)

24.2

CrystalDiskMark (100MB)

Sequential Read (MB/s)

47.5

Sequential Write (MB/s)

26

IOMeter (100MB)

Random Write (IOPS)

572.6

Random Read (IOPS)

1119.5

TestMetrix

Sequential Read (MB/s)

24.4

Sequential Write (MB/s)

10

H2test

Sequential Read (MB/s)

40.6

Sequential Write (MB/s)

10

  1. ComplianceTest

Test Tool & Environment

TestMetrix VTE3100/VTE4100

Test Criteria

Test done without error

Sample Quantity

3ea

Result

Pass

  1. Speed ClassTest

Test Tool & Environment

1. TestMetrix VTE3100/VTE4100

Test Criteria

Pass class 6 condition

Sample Quantity

3ea

Result

Pass

Speed Class

Test Mode

Result

Class6

Pw (MB/s)

8.5

Pr (MB/s)

9.6

  1. Full SizeCopy/Compare

Test Tool & Environment

  1. H2testv1.4
  2. Card Reader : Transcend TS-RDP5K(GL834)
  3. Win7OS
Test Criteria

Test done without no error

Sample Quantity

2ea

Result

Pass

  1. Burn-in Test

BIT v8.0

Test Tool & Environment

  1. BurnInTestv8.0
  2. Card Reader : Transcend TS-RDP5K(GL834)
  3. Win7OS
Test Criteria

168hours without error @25/85/-25’C

Sample Quantity

Total 6ea

Result

Pass

  1. NPORTest

Test Tool & Environment

1.MK NPOR Tool

Test Criteria

Pass 10K cycles

Sample Quantityv

2ea

Result

Pass

  1. SPOR
    1. SPORTest1

Test Tool & Environment

1.MK SPOR Tool – 5%/95% non-file system

Test Criteria

Pass 10K cycles

Sample Quantity

2ea

Result

Pass

  1. SPORTest2

Test Tool & Environment

1. Specific SPOR Tool – small/large file system based

Test Criteria

Pass 10K cycles

Sample Quantity

2ea

Result

Pass

  1. Read OnlyTest

Test Tool & Environment

  1. H2test
  2. Card Reader : Transcend TS-RDP5K(GL834)
  3. Win7OS
Test Criteria

72hours without error

Sample Quantity

4ea

Result

Pass

  1. IR-reflow

Test Tool & Environment

IR-reflow 260 ‘C

Test Criteria

3 times test and check all data without error

Sample Quantity

10ea

Result

pass


  1. Powerconsumption

Test Tool & Environment

  1. CrystalDiskMark6.0
  2. Card Reader : Transcend TS-RDP5K(GL834)
  3. Win7OS
  4. AgilentU1252B

Item

Standby

current(uA)

Operating

current (mA)

Throughput (MB/s)

#1

210

Read

96

47.6

Write

81

26.6

#2

211

Read

95

47

Write

83

26.8

#3

210

Read

96

48

Write

81

27

聲明:本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發燒友網立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內容侵權或者其他違規問題,請聯系本站處理。 舉報投訴
  • 測試
    +關注

    關注

    8

    文章

    5623

    瀏覽量

    128279
  • NAND
    +關注

    關注

    16

    文章

    1718

    瀏覽量

    137782
  • 工業
    +關注

    關注

    3

    文章

    2007

    瀏覽量

    47694
收藏 人收藏

    評論

    相關推薦
    熱點推薦

    半導體測試可靠性測試設備

    在半導體產業中,可靠性測試設備如同產品質量的 “守門員”,通過模擬各類嚴苛環境,對半導體器件的長期穩定性和可靠性進行評估,確保其在實際使用中能穩定運行。以下為你詳細介紹常見的半導體測試
    的頭像 發表于 05-15 09:43 ?118次閱讀
    半導體<b class='flag-5'>測試</b><b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測試</b>設備

    提供半導體工藝可靠性測試-WLR晶圓可靠性測試

    隨著半導體工藝復雜度提升,可靠性要求與測試成本及時間之間的矛盾日益凸顯。晶圓級可靠性(Wafer Level Reliability, WLR)技術通過直接在未封裝晶圓上施加加速應力,實現快速
    發表于 05-07 20:34

    半導體集成電路的可靠性評價

    半導體集成電路的可靠性評價是一個綜合的過程,涉及多個關鍵技術和層面,本文分述如下:可靠性評價技術概述、可靠性評價的技術特點、可靠性評價的
    的頭像 發表于 03-04 09:17 ?385次閱讀
    半導體集成電路的<b class='flag-5'>可靠性</b>評價

    一文讀懂芯片可靠性試驗項目

    驗證產品性能的重要手段,更是提高產品可靠性和市場競爭力的關鍵環節。通過對芯片進行嚴格的可靠性測試,可以提前發現潛在的故障模式和失效機制,從而為設計優化和工藝改進提供
    的頭像 發表于 02-21 14:50 ?525次閱讀
    一文讀懂芯片<b class='flag-5'>可靠性</b>試驗項目

    厚聲貼片電感的可靠性測試:振動與沖擊

    厚聲貼片電感作為一種關鍵的電子元件,其可靠性對于整個電路系統的穩定性和性能至關重要。在可靠性測試中,振動與沖擊測試是評估貼片電感在實際應用環境中承受機械應力能力的關鍵環節。以下是對厚聲
    的頭像 發表于 02-17 14:19 ?301次閱讀
    厚聲貼片電感的<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測試</b>:振動與沖擊

    霍爾元件的可靠性測試步驟

    霍爾元件是一種利用霍爾效應來測量磁場的傳感器,廣泛應用于電機控制、位置檢測、速度測量以及電流監測、變頻控制測試、交直流電源、電源逆變器和電子開關等領域。為了確保霍爾元件的性能和可靠性,進行全面
    的頭像 發表于 02-11 15:41 ?408次閱讀

    雷龍SD NAND測試報告

    本帖最后由 xxkj2010 于 2025-2-8 14:23 編輯 雷龍SD NAND測試報告一次偶然的機會,很幸運得到深圳市雷龍發展有限公司的芯片贈送,今天收到了芯片和測試
    發表于 02-08 14:12

    雷龍SD NAND試用

    了解以便測試與使用。 芯片不用寫驅動程序自帶壞塊管理的NAND Flash(貼片式TF卡),尺寸小巧,簡單易用,兼容強,穩定可靠,固件可定制,LGA-8封裝,標準SDIO接口,兼容S
    發表于 01-19 13:26

    可靠性測試:HAST與PCT的區別

    HAST測試的核心宗旨HAST測試的核心宗旨宗旨:HAST測試的主要宗旨是通過模擬極端環境條件,加速半導體元器件的失效過程,以此來驗證元器件在高溫、高濕、高壓條件下的
    的頭像 發表于 12-27 14:00 ?776次閱讀
    <b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測試</b>:HAST與PCT的區別

    關于SD NAND 的概述

    的類型,擦寫次數可達5~10萬次,保證了SD NAND的耐用。   高低溫測試SD NAND
    發表于 12-06 11:22

    SD NAND 概述

    現代電子設備對于尺寸、性能和可靠性的嚴格要求。 1.SD NAND的技術特性、優勢以及應用場景 下面將從多個角度詳細探討SD NAND的技術
    的頭像 發表于 12-06 11:21 ?584次閱讀

    SD NAND技術簡介

    SD NAND是一種基于NAND Flash技術的嵌入式存儲解決方案,具備SD卡協議兼容。它結合了NA
    的頭像 發表于 12-05 15:32 ?595次閱讀
    <b class='flag-5'>SD</b> <b class='flag-5'>NAND</b>技術簡介

    CS創世8GB SD NAND的創新與可靠性

    ? ? ? ?CS創世半導體的8GB SD NAND芯片在創新和可靠性方面展現了其卓越的性能。這款芯片的封裝尺寸僅為7*8.5毫米,僅有8個管腳,特別適合用于2層板的布局,適合小尺寸的應用領域。其
    的頭像 發表于 09-06 16:57 ?518次閱讀

    SD NAND測試套件:提升存儲芯片驗證效率

    SD NAND轉接板和燒錄座是一種專為工程師設計的輔助工具,它能夠將不同尺寸的SD NAND芯片轉換為通用TF接口封裝,從而方便地進行性能測試
    的頭像 發表于 08-13 09:44 ?635次閱讀
    <b class='flag-5'>SD</b> <b class='flag-5'>NAND</b><b class='flag-5'>測試</b>套件:提升存儲芯片<b class='flag-5'>驗證</b>效率

    SD NAND:高效存儲的未來之選

    在現代數據驅動的社會中,存儲技術的發展顯得尤為重要。SD NAND作為一種基于NAND閃存技術的存儲設備,憑借其高存儲容量、高速度和高可靠性,成為嵌入式系統和消費電子產品的理想選擇。M
    的頭像 發表于 07-29 17:38 ?669次閱讀
    <b class='flag-5'>SD</b> <b class='flag-5'>NAND</b>:高效存儲的未來之選