參數(shù)掃描工具在電路的設(shè)計(jì)和驗(yàn)證階段非常有用，通過掃描某個變量的一組值可以輕松找到此參數(shù)的最佳值，減少手動優(yōu)化的次數(shù)。以下將介紹在Cadence IC中兩種參數(shù)掃描的方法。

搭建實(shí)例電路，本例子是一個T形衰減結(jié)構(gòu)，通過掃描查看三個電阻的值如何影響S21和S11。

R1與R2范圍為20Ω到30Ω，步進(jìn)為1Ω；R3范圍為30Ω到40Ω，步進(jìn)為1Ω。

1使用ADE L中的Parametric Analysis

搭建好電路后點(diǎn)擊Launch > ADE L，設(shè)置S參數(shù)仿真如下。

點(diǎn)擊Tools > Parametric Analysis，設(shè)置參數(shù)掃描

點(diǎn)擊綠色按鈕開始仿真，仿真結(jié)束后會彈出結(jié)果框。

2使用ADE Explorer

前一種方法一次只掃描一個變量，對于簡單的電路來講這樣速度很慢，如果能設(shè)置一次掃描多個變量這樣會節(jié)省很多時間，但是Parametric Analysis工具并未提供這樣的選項(xiàng)。好在另一個工具ADE Explorer可設(shè)置，因此現(xiàn)在選擇用此工具來做參數(shù)掃描。

搭建好電路后點(diǎn)擊Launch > ADE Explorer，打開ADE Explorer。

由于之前保存過仿真設(shè)置，現(xiàn)在只需要點(diǎn)擊菜單欄的Session > Load ADE L State即可將之前的仿真設(shè)置導(dǎo)入，同樣需要設(shè)置R1-R3的范圍。設(shè)置好后如下所示

先不要點(diǎn)仿真運(yùn)行按鈕，現(xiàn)在設(shè)置同時運(yùn)行的任務(wù)數(shù)。

點(diǎn)擊菜單欄Setup > Job Setup，彈出對話框，在Max.Job輸入同時運(yùn)行的任務(wù)數(shù)即可。

請注意太多的任務(wù)數(shù)會讓電腦卡死，我的經(jīng)驗(yàn)是根據(jù)電腦核心數(shù)來設(shè)置，核心數(shù)對應(yīng)任務(wù)數(shù)，若是虛擬機(jī)內(nèi)存也不影響設(shè)置太小。

點(diǎn)擊右側(cè)運(yùn)行按鈕你會發(fā)現(xiàn)這樣參數(shù)掃描的速度比方法一快很多。

實(shí)測，方法二總共1331個點(diǎn)，掃描完只需要80s（虛擬機(jī)環(huán)境10核10G內(nèi)存）.