女人自慰AV免费观看内涵网,日韩国产剧情在线观看网址,神马电影网特片网,最新一级电影欧美,在线观看亚洲欧美日韩,黄色视频在线播放免费观看,ABO涨奶期羡澄,第一导航fulione,美女主播操b

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫(xiě)文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

IC測(cè)試座testSocket產(chǎn)品結(jié)構(gòu)及特點(diǎn)!

凱智通888 ? 來(lái)源:凱智通888 ? 作者:凱智通888 ? 2023-06-29 13:50 ? 次閱讀

IC測(cè)試座是一種用于測(cè)試集成電路(IC)和其他電子元件的工具,它將元件安裝在座上,可以用來(lái)連接電源和測(cè)試設(shè)備,并將測(cè)試結(jié)果反饋給用戶(hù)。IC測(cè)試座的主要功能是檢測(cè)IC的電性能,例如電壓、電流、頻率、功率等,以及檢測(cè)IC的物理性能,例如尺寸、重量、外觀等。

定制芯片 IC testSocket采用手動(dòng)翻蓋式結(jié)構(gòu)、自動(dòng)化下壓式結(jié)構(gòu)、雙扣式壓合結(jié)構(gòu),操作方便;翻蓋的上蓋IC壓板采用彈壓式結(jié)構(gòu),能自動(dòng)調(diào)節(jié)下壓力,保證IC的壓力均勻。

poYBAGSdGyuAY1ZhAAG8GEO3wRI148.png

產(chǎn)品特點(diǎn):

1、高精度的定位槽和導(dǎo)向孔,測(cè)試準(zhǔn)確無(wú)誤

2、根據(jù)實(shí)際測(cè)試情況,選用不同探針,可以對(duì)IC進(jìn)行有錫球、無(wú)錫球不同測(cè)試。

3、人性化設(shè)計(jì),探針可更換,便于拆卸、維護(hù),降低測(cè)試成本

4、進(jìn)口探針、工程材料結(jié)配合高精度制作設(shè)備, Socket測(cè)試更穩(wěn)定,機(jī)械壽命更長(zhǎng)

ic測(cè)試的主要目的是保證器件在惡劣的環(huán)境條件下能完全實(shí)現(xiàn)設(shè)計(jì)規(guī)格書(shū)所規(guī)定的功能及性能指標(biāo)。

凱智通擁有多年的Socket設(shè)計(jì),制作經(jīng)驗(yàn),根據(jù)客戶(hù)要求,提供專(zhuān)業(yè)的探針testSocket,適用于IC研發(fā),測(cè)試。

審核編輯:湯梓紅

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • 集成電路
    +關(guān)注

    關(guān)注

    5417

    文章

    11942

    瀏覽量

    366967
  • IC測(cè)試
    +關(guān)注

    關(guān)注

    14

    文章

    46

    瀏覽量

    23803
收藏 人收藏

    評(píng)論

    相關(guān)推薦
    熱點(diǎn)推薦

    IC封裝測(cè)試用推拉力測(cè)試機(jī)的用途和重要性

    集成電路封裝測(cè)試,簡(jiǎn)稱(chēng)IC封裝測(cè)試,指對(duì)集成電路芯片完成封裝后進(jìn)行的測(cè)試,以驗(yàn)證其性能、可靠性等指標(biāo)是否達(dá)到產(chǎn)品設(shè)計(jì)要求。可以理解為將芯片封
    的頭像 發(fā)表于 03-21 09:11 ?230次閱讀
    <b class='flag-5'>IC</b>封裝<b class='flag-5'>測(cè)試</b>用推拉力<b class='flag-5'>測(cè)試</b>機(jī)的用途和重要性

    射頻產(chǎn)品測(cè)試基礎(chǔ)

    產(chǎn)線測(cè)試則是在射頻芯片的生產(chǎn)過(guò)程中進(jìn)行的,主要用于保證芯片的質(zhì)量和一致性。(鴻怡電子射頻芯片測(cè)試工程師提供參數(shù)指標(biāo))二、射頻芯片測(cè)試的指標(biāo)1.發(fā)射功率(TXPo
    的頭像 發(fā)表于 02-28 10:03 ?439次閱讀
    射頻<b class='flag-5'>產(chǎn)品</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>基礎(chǔ)

    光纖涂覆機(jī)HXGK-ST06技術(shù)及使用說(shuō)明書(shū)

    ........................?2四、安全性................................... 3五、產(chǎn)品簡(jiǎn)圖及功能部件圖.........35.1 產(chǎn)品結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)圖..........................45.2
    發(fā)表于 11-13 16:29 ?0次下載

    IPX8防水測(cè)試設(shè)備:如何根據(jù)不同產(chǎn)品定制測(cè)試方案

    步驟:一、了解產(chǎn)品特性首先,需要深入了解待測(cè)試產(chǎn)品的特性,包括其材質(zhì)、結(jié)構(gòu)、防水等級(jí)要求以及可能面臨的水下環(huán)境等。這些信息將有助于確定測(cè)試的具體條件和參數(shù)。二、確定
    的頭像 發(fā)表于 11-12 14:26 ?581次閱讀
    IPX8防水<b class='flag-5'>測(cè)試</b>設(shè)備:如何根據(jù)不同<b class='flag-5'>產(chǎn)品</b>定制<b class='flag-5'>測(cè)試</b>方案

    電子產(chǎn)品結(jié)構(gòu)與導(dǎo)熱材料解決方案

    。同時(shí),導(dǎo)熱灌封膠還具有良好的導(dǎo)熱性能,可以確保熱量及時(shí)散發(fā)出去。無(wú)論是局部灌封還是整體灌封,都能滿(mǎn)足不同場(chǎng)景下的熱設(shè)計(jì)需求。綜上所述,傲琪電子的導(dǎo)熱材料解決方案在電子產(chǎn)品結(jié)構(gòu)與熱設(shè)計(jì)中發(fā)揮著舉足輕重
    發(fā)表于 11-11 16:25

    IC測(cè)試基本原理與ATE測(cè)試向量生成

    IC測(cè)試主要的目的是將合格的芯片與不合格的芯片區(qū)分開(kāi),保證產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。隨著集成電路的飛速發(fā)展,其規(guī)模越來(lái)越大,對(duì)電路的質(zhì)量與可靠性要求進(jìn)一步提高,集成電路的測(cè)試方法也變得越來(lái)越
    的頭像 發(fā)表于 10-12 08:03 ?2135次閱讀
    <b class='flag-5'>IC</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>基本原理與ATE<b class='flag-5'>測(cè)試</b>向量生成

    鐵電存儲(chǔ)器的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)

    鐵電存儲(chǔ)器(Ferroelectric RAM, FRAM)是一種結(jié)合了RAM的快速讀寫(xiě)能力和非易失性存儲(chǔ)特性的存儲(chǔ)技術(shù)。其結(jié)構(gòu)特點(diǎn)主要體現(xiàn)在其獨(dú)特的材料構(gòu)成、工作原理、物理結(jié)構(gòu)以及所展現(xiàn)出的優(yōu)越性能上。
    的頭像 發(fā)表于 09-29 15:18 ?965次閱讀

    智能IC測(cè)試設(shè)備的技術(shù)原理和應(yīng)用場(chǎng)景

    質(zhì)量和性能符合標(biāo)準(zhǔn)。測(cè)試設(shè)備可以幫助制造商及時(shí)發(fā)現(xiàn)并修復(fù)卡片存在的問(wèn)題,提高產(chǎn)品的合格率和可靠性。 金融行業(yè): 銀行卡是智能IC卡的重要應(yīng)用領(lǐng)域之一。為了保障金融交易的安全性,金融機(jī)構(gòu)需要對(duì)銀行卡進(jìn)行
    發(fā)表于 09-26 14:27

    ic測(cè)試原理和設(shè)備教程的區(qū)別

    IC測(cè)試原理和設(shè)備教程在內(nèi)容、目的和關(guān)注點(diǎn)上存在顯著的區(qū)別。 IC測(cè)試原理 內(nèi)容 : IC測(cè)試
    的頭像 發(fā)表于 09-24 09:51 ?494次閱讀

    ARM處理器的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)

    ARM處理器,全稱(chēng)Advanced RISC Machines,是一種基于精簡(jiǎn)指令集(RISC)架構(gòu)的微處理器。其結(jié)構(gòu)特點(diǎn)在嵌入式系統(tǒng)、移動(dòng)設(shè)備、物聯(lián)網(wǎng)等多個(gè)領(lǐng)域具有顯著優(yōu)勢(shì)。以下將詳細(xì)闡述ARM處理器的結(jié)構(gòu)
    的頭像 發(fā)表于 09-10 11:09 ?3023次閱讀

    MT6501磁編碼IC在軟包電池OCV測(cè)試分選設(shè)備中的應(yīng)用

    MT6501磁編碼IC在軟包電池OCV測(cè)試分選設(shè)備中的應(yīng)用,無(wú)疑為現(xiàn)代電池制造行業(yè)帶來(lái)了革命性的變化。隨著電動(dòng)汽車(chē)、智能手機(jī)等電子產(chǎn)品的普及,對(duì)電池性能的要求也越來(lái)越高,其中軟包電池因其輕便、靈活
    的頭像 發(fā)表于 07-24 17:26 ?745次閱讀
    MT6501磁編碼<b class='flag-5'>IC</b>在軟包電池OCV<b class='flag-5'>測(cè)試</b>分選設(shè)備中的應(yīng)用

    解析Type-C母與Type-C公頭:特點(diǎn)與區(qū)別

    在數(shù)字連接領(lǐng)域,Type-C接口因其高速、多功能等特點(diǎn)備受矚目。然而,在Type-C連接器中,母和公頭作為兩個(gè)重要組成部分,卻有著各自獨(dú)特的特點(diǎn)和用途。本文將深入探討Type-C母
    的頭像 發(fā)表于 07-24 11:50 ?3256次閱讀
    解析Type-C母<b class='flag-5'>座</b>與Type-C公頭:<b class='flag-5'>特點(diǎn)</b>與區(qū)別

    IC測(cè)試的定義和基本原理

    IC測(cè)試,即集成電路測(cè)試,是集成電路設(shè)計(jì)和制造過(guò)程中的一個(gè)重要環(huán)節(jié)。它主要通過(guò)對(duì)集成電路的性能、功能和可靠性進(jìn)行測(cè)試,以確保集成電路在實(shí)際應(yīng)用中能夠滿(mǎn)足設(shè)計(jì)要求和性能指標(biāo)。 一、
    的頭像 發(fā)表于 07-10 14:45 ?3971次閱讀

    偏極繼電器的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)和性能特點(diǎn)是什么

    偏極繼電器是一種特殊類(lèi)型的繼電器,它具有獨(dú)特的結(jié)構(gòu)和性能特點(diǎn)。在這篇文章中,我們將詳細(xì)介紹偏極繼電器的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)和性能特點(diǎn),并探討其在各種應(yīng)用
    的頭像 發(fā)表于 06-29 09:32 ?3645次閱讀

    傳感器在結(jié)構(gòu)測(cè)試中的應(yīng)用

    傳感器在結(jié)構(gòu)測(cè)試方面的主要應(yīng)用有哪些呢?? 一、壓力分布監(jiān)測(cè)? 在結(jié)構(gòu)測(cè)試中,壓力分布監(jiān)測(cè)是評(píng)估結(jié)構(gòu)受力狀態(tài)的重要手段。通過(guò)布置壓力傳感器,
    的頭像 發(fā)表于 06-15 18:30 ?1352次閱讀