電子產(chǎn)品，是指采用電子信息技術(shù)制造的相關(guān)產(chǎn)品及其配件，有兩個(gè)顯著特征：一是需要電源才能工作;二是工作載體均是數(shù)字信息或者模擬信息的流轉(zhuǎn)。

一般來說為了評(píng)價(jià)分析電子產(chǎn)品可靠性而進(jìn)行的試驗(yàn)稱為可靠性試驗(yàn)，是為預(yù)測(cè)從產(chǎn)品出廠到其使用壽命結(jié)束期間的質(zhì)量情況，選定與市場(chǎng)環(huán)境相似度較高的環(huán)境應(yīng)力后，設(shè)定環(huán)境應(yīng)力程度與施加的時(shí)間，主要目的是盡可能在短時(shí)間內(nèi)，正確評(píng)估產(chǎn)品可靠性。

電子產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)?zāi)康?/p>

當(dāng)前，電子信息技術(shù)發(fā)展十分迅速，對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求也越來越高。可靠性試驗(yàn)的目的由以下五點(diǎn)：

在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺陷,評(píng)價(jià)產(chǎn)品可靠性達(dá)到預(yù)定指標(biāo)的情況;生產(chǎn)階段為生產(chǎn)過程質(zhì)量監(jiān)督提供信息;對(duì)定型產(chǎn)品進(jìn)行可靠性鑒定或驗(yàn)收;

暴露和分析產(chǎn)品在不同環(huán)境和應(yīng)力條件下的失效規(guī)律及相關(guān)失效模式和失效機(jī)理;為改進(jìn)產(chǎn)品可靠性,制定和改進(jìn)可靠性試驗(yàn)方案，為用戶選用產(chǎn)品提供依據(jù)。

電子產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)的分類

從環(huán)境條件可分為包括各種應(yīng)力條件下的模擬試驗(yàn)和現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn);

從試驗(yàn)項(xiàng)目可分為壽命試驗(yàn)、加速試驗(yàn)和各種特殊試驗(yàn);從試驗(yàn)?zāi)康膩韯澐郑煞譃榭煽啃怨こ淘囼?yàn)(包括環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)和可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn))、可靠統(tǒng)計(jì)試驗(yàn)(包括可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)和可靠性測(cè)定試驗(yàn));從試驗(yàn)性質(zhì)來劃分，可分為破壞性試驗(yàn)和非破壞性試驗(yàn)。通常慣用的分類法，是把可靠性試驗(yàn)歸納為五大類

環(huán)境試驗(yàn)

壽命試驗(yàn)

篩選試驗(yàn)

現(xiàn)場(chǎng)使用試驗(yàn)

鑒定試驗(yàn)

一、環(huán)境試驗(yàn)

部分可靠性專著把樣品置于自然或人工模擬的儲(chǔ)存、運(yùn)輸和工作環(huán)境中的試驗(yàn)統(tǒng)稱為環(huán)境試驗(yàn)，是考核產(chǎn)品在各種環(huán)境(振動(dòng)、沖擊、離心、溫度、熱沖擊、潮熱、鹽霧、低氣壓等)條件下的適應(yīng)能力，是評(píng)價(jià)產(chǎn)品可靠性的重要試驗(yàn)方法之一。一般主要有以下幾種：

1、穩(wěn)定性烘培，即高溫存儲(chǔ)試驗(yàn)

試驗(yàn)?zāi)康模嚎己嗽诓皇┘与姂?yīng)力的情況下，高溫存儲(chǔ)對(duì)產(chǎn)品的影響。有嚴(yán)重缺陷的產(chǎn)品處于非平衡態(tài)，是一種不穩(wěn)定態(tài)，由非平衡態(tài)向平衡態(tài)的過渡過程既是誘發(fā)有嚴(yán)重缺陷產(chǎn)品失效的過程，也是促使產(chǎn)品從非穩(wěn)定態(tài)向穩(wěn)定態(tài)的過渡過程。

這種過渡一般情況下是物理化學(xué)變化，其速率遵循阿倫尼烏斯公式，隨溫度成指數(shù)增加.高溫應(yīng)力的目的是為了縮短這種變化的時(shí)間.所以該實(shí)驗(yàn)又可以視為一項(xiàng)穩(wěn)定產(chǎn)品性能的工藝。

試驗(yàn)條件：一般選定一恒定的溫度應(yīng)力和保持時(shí)間。微電路溫度應(yīng)力范圍為75℃至400℃，試驗(yàn)時(shí)間為24h以上。試驗(yàn)前后被試樣品要在標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)環(huán)境中，既溫度為25土10℃、氣壓為86kPa~100kPa的環(huán)境中放置一定時(shí)間。多數(shù)的情況下，要求試驗(yàn)后在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)完成終點(diǎn)測(cè)試。

2、溫度循環(huán)試驗(yàn)

試驗(yàn)?zāi)康模嚎己水a(chǎn)品承受一定溫度變化速率的能力及對(duì)極端高溫和極端低溫環(huán)境的承受能力.是針對(duì)產(chǎn)品熱機(jī)械性能設(shè)置的。當(dāng)構(gòu)成產(chǎn)品各部件的材料熱匹配較差，或部件內(nèi)應(yīng)力較大時(shí)，溫度循環(huán)試驗(yàn)可引發(fā)產(chǎn)品由機(jī)械結(jié)構(gòu)缺陷劣化產(chǎn)生的失效。如漏氣、內(nèi)引線斷裂、芯片裂紋等。

試驗(yàn)條件：在氣體環(huán)境下進(jìn)行。主要是控制產(chǎn)品處于高溫和低溫時(shí)的溫度和時(shí)間及高低溫狀態(tài)轉(zhuǎn)換的速率。試驗(yàn)箱內(nèi)氣體的流通情況、溫度傳感器的位置、夾具的熱容量都是保證試驗(yàn)條件的重要因素。

其控制原則是試驗(yàn)所要求的溫度、時(shí)間和轉(zhuǎn)換速率都是指被試產(chǎn)品，不是試驗(yàn)的局部環(huán)境。微電路的轉(zhuǎn)換時(shí)間要求不大于1min在高溫或低溫狀態(tài)下的保持時(shí)間要求不小于10min;低溫為-55℃或-65-10℃，高溫從85+10℃到300+10℃不等。

3、熱沖擊試驗(yàn)

試驗(yàn)?zāi)康模嚎己水a(chǎn)品承受溫度劇烈變化，即承受大溫度變化速率的能力。試驗(yàn)可引發(fā)產(chǎn)品由機(jī)械結(jié)構(gòu)缺陷劣化產(chǎn)生的失效.熱沖擊試驗(yàn)與溫度循環(huán)試驗(yàn)的目的基本一致，但熱沖擊試驗(yàn)的條件比溫度循環(huán)試驗(yàn)要嚴(yán)酷得多。試驗(yàn)條件：被試樣品是置于液體中。主要是控制樣品處于溫和低溫狀態(tài)的溫度和時(shí)間及高低溫狀態(tài)轉(zhuǎn)換的速率。試驗(yàn)箱內(nèi)液體的流通情況、溫度傳感器的位置、夾具的熱容量都是保證試驗(yàn)條件的重要因素。

其控制原則與溫度循環(huán)試驗(yàn)一樣，試驗(yàn)所要求的溫度、時(shí)間和轉(zhuǎn)換速率都是指被試樣品，不是試驗(yàn)的局部環(huán)境。微電路的轉(zhuǎn)換時(shí)間要求不大于lo，：轉(zhuǎn)換時(shí)被試樣品要在5 min內(nèi)達(dá)到規(guī)定的溫度;在高溫或低溫狀態(tài)下的停留時(shí)間要求不小于2 min;高低溫條件分為三檔，A檔為0+2-10℃~100+10-2℃，B檔為一55”llc～125+10℃，c檔為-655,0℃一150+10℃.A檔一般用水作載體，B檔和C檔用過碳氟化合物作載體。作載體的物質(zhì)不得含有氯和氫等腐蝕性物質(zhì)或強(qiáng)氧化劑物質(zhì)。