高精密電子儀器和通信系統的應用下，我們需要考慮不同封裝的石英晶振的電性能參數變化對系統的影響。

1、晶振的發展趨勢

近年來，晶振朝著小型化發展,例如便攜式設備：

SMD 2.0x1.6mm尺寸:

CMOS輸出時鐘振蕩器(KS20);

SMD 2.5x2.0mm尺寸：

LVDS輸出時鐘振蕩器 (KD256D);

HCSL輸出時鐘振蕩器 (KD256C);

2、低功耗晶振：

1.2V低電壓MHz晶體振蕩器, 尺寸可選2.5x2.0mm, 3.2x2.5mm, 5.0x3.2mm, 7.0x5.0mm。

100μA最大KHz晶體振蕩器, 尺寸可選3.2x2.5mm, 5.0x3.2mm, 7.0x5.0mm。

同時具備小尺寸和低功耗的晶振適合在移動設備和穿戴設備中使用。

起振時間

起振時間主要由晶體的諧振電阻與負性阻抗共同決定。

晶體的諧振電阻越小，起振越快；

負性阻抗大小由振蕩IC和負載電容CL決定，負載電容與負性阻抗大小成反比。

CL值大→負性阻抗較小→起振較慢

CL值小→負性阻抗較大→起振較快

相位噪聲/抖動

KOAN建議選用諧振電阻較小的晶片，才能給CL保留調整空間，改善近端和遠端低相位噪聲需求。

起振較慢→電路相對穩定→遠端相噪好→不利于近端相噪

起振較快→近端相噪好→但是牽引量較大→線路不穩定→頻率漂移較大→不利遠端相噪

其它：電壓/電流/功耗...

隨著小型化低功耗發展趨勢，電源電壓，電流，體積，功耗相應減小，驅動能力變弱。

如果電子設備需要驅動能力比較強的振蕩器，盡量選擇體積大，電壓高，避免選擇電壓高低兼容晶振；

如果既要體積小又要驅動能力相對較強，可選用負載能力比較高的振蕩IC，同時選擇高Q晶體。需要注意的是：體積越小，電壓也要隨之降低，防止晶體激勵功率過高。

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