美國高精度非接觸式測厚儀,采用白光干涉原理,可快速測量12μm-80mm透光材料的厚度,精度為0.1μm,測單層和多層厚度(20層),可選多探頭配置,內部自校準,NIST追溯。
該光學探頭將1310nm不可見紅外光通過透明、半透明或有色材料反射回OptiGauge,并將每個內部表面的反射發送回OptiGauge, 在OptiGauge中,先進的軟件以易于操作的圖形界面提供實時分析。
主要特點
? 測量范圍 12 μm -16 mm
? 精度±0.1 μm
? 單層和多層測量
? 探針靈活配置
? 連續內部校準
? NIST追溯
? 臺式或機架安裝
典型應用
? 醫療— 球囊、導管(管壁、內徑、外徑)
? 玻璃— 汽車、浮板、平板、電子顯示、光學 (厚度、內層)
? 眼科 — 隱形眼鏡、人工晶狀體 (CT, SAG)
? 工業 — 薄膜、涂層、包裝、粘合劑、阻擋層 (厚度)
OptiGauge? 核心單元
責任編輯:gt
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