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一文詳解Xilinx GTX/GTH及2D eye scan的基本原理

電子設(shè)計(jì) ? 來源:懶癌晚期患者 ? 作者:懶癌晚期患者 ? 2020-12-15 15:54 ? 次閱讀

本文介紹Xilinx GT的一些概念,對(duì)GT沒有概念但是有時(shí)間的童鞋推薦先看一下此文(Xilinx 7系列FPGA 高速收發(fā)器GTX/GTH的一些基本概念),補(bǔ)充一些基礎(chǔ)概念。

隨著高速數(shù)據(jù)傳輸?shù)钠占埃琒erdes已經(jīng)成為FPGA上重要的I/O接口。而線速率也不斷的提高。更高的線速率也就帶來了更大的通道衰減影響。通常,Serdes接收端需要打開內(nèi)部的均衡來對(duì)高速串行信號(hào)進(jìn)行處理,保證內(nèi)部的有效信號(hào)能夠等到放大而噪聲可以被抑制,并最終恢復(fù)出正確的數(shù)據(jù)。

通常,高速信號(hào)到達(dá)接收端的Pin位置,稱為遠(yuǎn)端;進(jìn)入Pin后,被接收端的均衡處理之后的信號(hào),稱為近端。在一些均衡能力比較優(yōu)秀的Serdes上(例如Xilinx的GTX/GTH),遠(yuǎn)端處的眼圖(可以通過高速示波器進(jìn)行測(cè)量)無法睜開,但是近端處的眼圖可以完全睜開。這就是均衡器無法忽視的重要作用。

這也帶來一個(gè)問題,就是如何測(cè)量眼圖。針對(duì)遠(yuǎn)端眼圖,可以通過高速示波器來進(jìn)行測(cè)量。但是這個(gè)測(cè)量在很多情況下并不容易,比如沒有足夠高速的示波器,或者由于FPGA多為BGA封裝導(dǎo)致Serdes的RX Pin沒有合適的測(cè)試點(diǎn)來進(jìn)行測(cè)試。而近端眼圖,由于近端的定義就是在Serdes的PMA內(nèi)部,所以沒有使用高速示波器直接測(cè)量眼圖的可能。那么如何評(píng)價(jià)近端眼圖,就成了一個(gè)問題。

Xilinx 7系列(及以后)的GTX/GTH中提供了2D眼圖測(cè)量的功能,通常稱呼為2D eye scan,可以用來測(cè)量近端眼圖。Xilinx提供的GT測(cè)試工具ibert中,就是利用這個(gè)功能進(jìn)行眼圖的測(cè)量。

圖片來自UG908

關(guān)于GT的基本結(jié)構(gòu)和eye scan的具體原理,由于文檔已經(jīng)做了充分的描述,這里就不重復(fù)贅述了。下文將會(huì)用簡(jiǎn)單通俗的語言來描述2D eye scan的基本原理,出發(fā)點(diǎn)是易于理解。所以在準(zhǔn)確性和嚴(yán)謹(jǐn)程度上肯定有所欠缺,這里先說一聲抱歉。

從字面分析,2D eye scan的意思就是二維眼圖掃描。二維的意思自然是橫縱兩個(gè)坐標(biāo)。所以眼圖掃描的基本原理就是將二維眼圖的最大范圍坐標(biāo)化,將眼圖整體變?yōu)橐粋€(gè)二維矩陣區(qū)域。

眼圖掃描的過程就是依次遍歷眼圖的二位矩陣區(qū)域,并和眼圖掃描的正中間區(qū)域做對(duì)比,記錄錯(cuò)誤值,然后依據(jù)錯(cuò)誤值,用不同的顏色來繪制當(dāng)前二位矩陣中某個(gè)點(diǎn),最終組成一個(gè)眼圖。

用更通俗的話來解釋,就是眼圖被劃分為一個(gè)分辨率是N*M的圖片。測(cè)量眼圖的時(shí)候會(huì)依次遍歷N*M個(gè)點(diǎn),并和中心點(diǎn)的數(shù)據(jù)做對(duì)比。多次對(duì)比后記錄值不一樣的次數(shù),即誤碼率。當(dāng)遍歷完N*M個(gè)點(diǎn)之后,依據(jù)每個(gè)點(diǎn)記錄的誤碼率來用不同的顏色繪制一副圖,即為眼圖。

圖片來自UG476

從上圖的左邊可以看到,每一個(gè)點(diǎn)相對(duì)中心點(diǎn)都有一個(gè)水平偏移量和垂直偏移量,這就等價(jià)于每個(gè)點(diǎn)的坐標(biāo)值(至于0,0點(diǎn)在左下角還是在中心點(diǎn)都只是簡(jiǎn)單的坐標(biāo)變換而已)。

從圖中的右邊可以看到,最終眼圖的顏色是依據(jù)誤碼率繪制的,結(jié)合前文來自UG908的截圖,可以清楚的看到當(dāng)誤碼率越低,顏色越偏向藍(lán)色(深藍(lán)色);當(dāng)誤碼率越高,顏色越偏向紅色。理論上,越接近中心的點(diǎn),誤碼率越低,所以越偏藍(lán)色,而越接近外圍的點(diǎn),誤碼率越高,所以越偏紅色。所以實(shí)際獲取的眼圖樣子,是中心藍(lán)色,四周紅色的眼圖。

所以從原理上說,2D眼圖的測(cè)量步驟其實(shí)是遍歷整個(gè)N*M的點(diǎn)陣,計(jì)算每一個(gè)點(diǎn)與中心點(diǎn)數(shù)據(jù)值的誤碼率。當(dāng)?shù)玫近c(diǎn)陣誤碼率的數(shù)據(jù)之后,后面僅僅是繪圖以便美觀顯示的事情。

具體的測(cè)量細(xì)節(jié)可以參考UG476的第四章。這里直接給出結(jié)論,內(nèi)置的2D eye scan是逐個(gè)點(diǎn)進(jìn)行測(cè)量的,所以每次測(cè)量只需一組坐標(biāo)值。從微觀看來,逐點(diǎn)測(cè)量由于是串行的,所以是比較慢的。但是從宏觀來看,整體測(cè)量速度是比較快速的。

另外一個(gè)優(yōu)點(diǎn)就是,眼圖的測(cè)量不需要特殊的配置和數(shù)據(jù),也不會(huì)對(duì)數(shù)據(jù)鏈路帶來任何負(fù)面影響。由于是和中心點(diǎn)數(shù)據(jù)的對(duì)比,所以無論GT跑的是什么數(shù)據(jù)流,都可以進(jìn)行測(cè)量,也沒有影響。這就擴(kuò)展了這一功能的使用范圍。例如ibert的誤碼率只能統(tǒng)計(jì)PRBS,無法用于實(shí)際數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)/測(cè)試。而這一功能可以實(shí)時(shí)測(cè)試,不影響GT正常業(yè)務(wù)的運(yùn)行。將這一功能集成到最終版本中,可以作為實(shí)時(shí)監(jiān)控高速鏈路質(zhì)量的一個(gè)參考標(biāo)準(zhǔn)。

如果GT無法正確回復(fù)出數(shù)據(jù),則中心點(diǎn)的數(shù)據(jù)不會(huì)穩(wěn)定。這樣統(tǒng)計(jì)出來的結(jié)果也不會(huì)穩(wěn)定的顯示為一個(gè)眼睛的圖案,而是一個(gè)奇怪的圖案。如果GT能正確恢復(fù)出數(shù)據(jù),那么中心點(diǎn)一定是穩(wěn)定的數(shù)據(jù),所以無論眼圖是否睜開,張開多大,大體的形狀還是一個(gè)眼睛的圖案。進(jìn)而,眼圖張開的大小就代表信號(hào)質(zhì)量的好壞。所以2D eye scan的結(jié)果對(duì)鏈路信號(hào)質(zhì)量的判斷,是非常有幫助的。

由于是逐點(diǎn)測(cè)試,所以這個(gè)過程相對(duì)來說更適合基于CPU/MCU的軟件來實(shí)現(xiàn)。Xilinx提供了兩個(gè)XAPP來實(shí)現(xiàn)該功能,其核心的控制都是交給MCU軟核MicroBlaze來實(shí)現(xiàn)的。
https://www.xilinx.com/support/documentation/application_notes/xapp743-e...
https://www.xilinx.com/support/documentation/application_notes/xapp1198-...

下面介紹一下具體的操作步驟。

首先,eye scan的具體操作是需要使用DRP的端口,這一端口也是容易和CPU接口適配的。

使用DRP端口的優(yōu)點(diǎn)是,主要步驟不占用FPGA可編程邏輯資源。代價(jià)是這個(gè)結(jié)構(gòu)更適合MCU接口的實(shí)現(xiàn),如果使用普通邏輯資源實(shí)現(xiàn),會(huì)需要設(shè)計(jì)接口。

1.部分默認(rèn)端口可以直接連接到地,例如:
EYESCANMODE
EYESCANTRIGGER

EYESCANRESET端口如果不需要使用,也是可以連接到地。

2.下面幾個(gè)信號(hào)設(shè)置為1
ES_SCAN_EN
PMA_RSV2[5]
ES_ERRDET_EN
ES_QUAL_MASK=(80’b1)

3.根據(jù)位寬(RX_INT_DATAWIDTH)設(shè)置ES_SDATA_MASK
40-bit 位寬: ES_SDATA_MASK = (40'b1, 40'b0)
32-bit位寬: ES_SDATA_MASK = (40'b1, 32'b0, 8'b1)
20-bit位寬: ES_SDATA_MASK = (40'b1, 20'b0, 20'b1)
16-bit位寬: ES_SDATA_MASK = (40'b1, 16'b0, 24'b1)

4.根據(jù)誤碼率設(shè)置ES_PRESCALE,關(guān)于這個(gè)參數(shù)的值,可以暫時(shí)跳過,等看完下文,理解原理之后再選擇合適的值寫入。

上述設(shè)置只需要設(shè)置一次即可。其中要注意,ES_QUAL_MASK和ES_SDATA_MASK都是80bit數(shù)據(jù),需要分多次才能寫入。7系列的GTX/GTH,DRP數(shù)據(jù)位寬為16bit,所以需要5次才能完成80bit的寫入。

開始遍歷每一個(gè)點(diǎn)(即每一對(duì)橫縱坐標(biāo))。橫軸由ES_HORZ_OFFSET控制,縱軸由ES_VERT_OFFSET控制。

1.對(duì)每個(gè)點(diǎn),將縱坐標(biāo)寫入ES_VERT_OFFSET

這里需要注意,ES_VERT_OFFSET和ES_PRESCALE的地址是一樣的,高5bit是給ES_PRESCALE使用,低9位給ES_VERT_OFFSET使用。對(duì)于ES_VERT_OFFSET,0-7bit作為地址使用。第8位作為一個(gè)控制位,先填入0。DFE條件下后續(xù)還需要用到。

2.將橫坐標(biāo)寫入ES_HORZ_OFFSET

3.將ES_CONTROL的低兩位設(shè)置為2'b01

這里需要先讀取出來,然后將低位設(shè)置位01,高位不變,再寫入ES_CONTROL寄存器中。

4.循環(huán)查詢es_control_status寄存器的值,如果發(fā)現(xiàn)最低位是1,表明采樣/記錯(cuò)計(jì)數(shù)器溢出了,該點(diǎn)統(tǒng)計(jì)完畢(關(guān)于兩個(gè)計(jì)數(shù)器的含義,下文在做討論)。此時(shí)可以將ES_CONTROL的最低兩位設(shè)置為2'd00,以便于下一個(gè)點(diǎn)的測(cè)量。

5.讀取ES_ERROR_COUNT和ES_SAMPLE_COUNT寄存器的值,分別為記錯(cuò)寄存器和采樣寄存器。

6.計(jì)算一下誤碼率

誤碼率的計(jì)算公式為,誤碼數(shù)目 / 采樣數(shù)目。

誤碼數(shù)目即為ES_ERROR_COUNT的值,如果該值為0,則誤碼率直接為0。

采樣數(shù)目的計(jì)算則相對(duì)負(fù)責(zé)。具體公式為:

SAMPLE/_COUNT=ES/_SAMPLE/_COUNT/times2^{(ES/_PRESCALE+1)}/times RX/_INT/_DATAWIDTH

可以看到,具體的采樣數(shù)和ES_SAMPLE_COUNT的值是有一個(gè)非線性的計(jì)算關(guān)系。

通過上述公式可以計(jì)算出采樣數(shù)的值,然后參與運(yùn)算即可獲取誤碼率這一數(shù)據(jù)。

7.當(dāng)使用DFE的時(shí)候,需要將ES_VERT_OFFSET的第八位設(shè)置為1(前文描述設(shè)置為0),然后重新測(cè)試一邊,計(jì)算出另一個(gè)誤碼率,和設(shè)置為0的誤碼率取一次平均才為最終的誤碼率。

這樣就完成一個(gè)點(diǎn)的測(cè)試了。

所以測(cè)試的大體流程就是先設(shè)置好一些固定的參數(shù),然后設(shè)置橫縱坐標(biāo),開始測(cè)試。等測(cè)試結(jié)束后獲取采樣數(shù)和錯(cuò)誤數(shù)兩個(gè)值,計(jì)算誤碼率即可。DFE模式下需要將縱坐標(biāo)的一位取反后重新測(cè)算一下,然后兩個(gè)誤碼率取平均。

這里就能看出來測(cè)試的具體細(xì)節(jié)。內(nèi)部測(cè)試提供了兩個(gè)計(jì)數(shù)器,一個(gè)用于統(tǒng)計(jì)采樣次數(shù),另一個(gè)用于統(tǒng)計(jì)錯(cuò)誤次數(shù)。測(cè)試過程其實(shí)就是進(jìn)行多次的數(shù)據(jù)對(duì)比。對(duì)比一次,采樣次數(shù)加1,如果數(shù)據(jù)不對(duì),則錯(cuò)誤次數(shù)也加1。等到兩個(gè)計(jì)數(shù)器有一個(gè)溢出的時(shí)候就可以結(jié)束統(tǒng)計(jì)了。這樣會(huì)有兩種情況。
1.錯(cuò)誤計(jì)數(shù)器溢出,采樣計(jì)數(shù)器沒有溢出,此時(shí)錯(cuò)誤值比較大,可以保證精度。
2.采樣計(jì)數(shù)器溢出,錯(cuò)誤計(jì)數(shù)器沒有溢出,此時(shí)采樣值比較大,誤碼率往往比較低。
由于兩個(gè)技術(shù)器溢出值相差非常大,所以不可能同時(shí)溢出。如果都沒有溢出,那么測(cè)試就不會(huì)停止。
用這種方法,可以獲取一個(gè)比較好的測(cè)試精度結(jié)果,也便于測(cè)試流程的控制。
另外,理解了這一流程,并觀察采樣值的計(jì)算公式,就能反推出ES_PRESCALE比較合適的值。
通過逐點(diǎn)的測(cè)量,就可以獲取完整的眼圖數(shù)據(jù),然后進(jìn)行繪圖即可。

2D eye scan的原理就分析完了。

下面分析一下實(shí)際操作中的一些問題。

1.ES_PRESCALE:如果確定這個(gè)值

這個(gè)參數(shù)實(shí)際控制的是采樣數(shù)的計(jì)算結(jié)果。通常情況下,通過公式反推,選區(qū)一個(gè)固定值就好。但是實(shí)際情況下,如果使用動(dòng)態(tài)的控制,可以提高精度。關(guān)于這部分的討論就非常深入了。有興趣的童鞋可以再熟悉2D eye scan之后進(jìn)行研究。

2.采樣點(diǎn)的數(shù)量:一定要逐點(diǎn)嗎

從手冊(cè)中可以查詢到ES_HORZ_OFFSET和ES_VERT_OFFSET的范圍。實(shí)際操作中,其實(shí)并不需要逐點(diǎn)測(cè)試。從圖片的角度觸發(fā),逐點(diǎn)(或者點(diǎn)間隔較小)的好處就是圖片的分辨率較高。同時(shí)弊端就是花費(fèi)的時(shí)間較長(zhǎng)。通常使用中并不需要非常高的眼圖分辨率,尤其是并不需要將眼圖美觀的繪制出來的條件下,適當(dāng)加大間隔可以快速獲取眼圖的基本信息。依據(jù)基本信息再考慮是否提高精度,改變參數(shù)等操作,更為合適。ibert中也提供了調(diào)整采樣點(diǎn)間隔的選項(xiàng)。

3.關(guān)于ibert眼圖顯示的美觀性和眼圖的顯示

根據(jù)上述分析,眼圖最終結(jié)果其實(shí)是一個(gè)顆粒感比較強(qiáng)的圖片。ibert中較為平滑/美觀的眼圖其實(shí)是美化過的結(jié)果。右鍵點(diǎn)擊眼圖彈出的菜單中可以選擇沒有沒畫過的點(diǎn)陣圖。

ibert繪制的平滑眼圖

ibert的原始點(diǎn)陣眼圖,每個(gè)點(diǎn)為細(xì)長(zhǎng)的橫條形狀

以上兩張圖為同一次測(cè)量后調(diào)整ibert顯示參數(shù)獲取的不同效果,可以看到ibert默認(rèn)顯示是經(jīng)過了美化的。而原始圖就是一個(gè)顆粒感很強(qiáng)的點(diǎn)陣圖。

下圖為自行設(shè)計(jì)/實(shí)現(xiàn)2D eye scan后自行繪制的眼圖。

自行實(shí)現(xiàn)2D eye scan測(cè)量后繪制的眼圖

原始數(shù)據(jù)已經(jīng)有了的情況下,眼圖的繪制其實(shí)只是一個(gè)繪圖的軟件設(shè)計(jì)。考慮到大部分FPGA開發(fā)者可能并不擅長(zhǎng)于圖形界面的開發(fā),所以推薦了解一下tk繪圖。不過更好的方案是讓專業(yè)的人做專業(yè)的事情。通過基本的數(shù)據(jù),即使沒有繪圖,也能做很多事情了。

4.DRP如何控制

官方推薦的方案是利用MCU來進(jìn)行控制,比如MicroBlaze的軟核。

另外可以通過JTAG,由PC發(fā)起控制。原廠方案為AXI JTAG。

本人是通過TCL和JTAG來控制VIO接口,進(jìn)而控制DRP端口的。關(guān)于這個(gè)方案,除了控制DRP端口,還可以控制BRAM。具體可以參考專欄文章:Vivado功能完善:如何用Tcl/VIO更新BRAM中的數(shù)據(jù)

5.寄存器的地址

上文的描述中最大的問題就是沒有介紹寄存器和相關(guān)的地址。關(guān)于各個(gè)寄存器的名稱再文章已經(jīng)給出了。具體的地址可以參考UG476的附錄D(通常都是最后一個(gè)附錄)。
ES_QUAL_MASK 0x031~0x035
ES_SDATA_MASK 0x036~0x03A
PMA_RSV2 0x082
ES_ERRDET_EN 0x03D
ES_EYE_SCAN_EN 0x03D
ES_CONTROL 0x03D
ES_PRESCALE 0x03B
ES_VERT_OFFSET 0x03B
ES_HORZ_OFFSET 0x03C
es_control_status 0x151
ES_ERROR_COUNT 0x14F
ES_SAMPLE_COUNT 0X150

這里給出7系列GT的部分寄存器地址。

整套方案可以移植到UltraScale/UltraScale+的GT上,需要注意的是,寄存器地址需要重新核對(duì)一下。可以確定很多寄存器的地址/定義都不一樣。

編輯:hfy

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    對(duì)于天窗頂電機(jī)位置,升降門電機(jī),車窗升降電機(jī)和電子駐車制動(dòng)(EPB)系統(tǒng)等應(yīng)用,透過使用單個(gè)2D磁性速度和方向傳感器,可以簡(jiǎn)化系統(tǒng)設(shè)計(jì)和生產(chǎn),減少BOM,并提高系統(tǒng)安全性。APS12625和APS12626系列2D霍爾效應(yīng)2D
    的頭像 發(fā)表于 09-27 09:58 ?690次閱讀

    3DP工藝基本原理

     3DP工藝,全稱Three-Dimensional Printing(三維打印),是種3D打印技術(shù),其基本原理可以詳細(xì)闡述如下:
    的頭像 發(fā)表于 09-16 15:32 ?1547次閱讀

    TMAG511x 2D鎖扣的優(yōu)點(diǎn)

    電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《TMAG511x 2D鎖扣的優(yōu)點(diǎn).pdf》資料免費(fèi)下載
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    TMAG511x <b class='flag-5'>2D</b>鎖扣的優(yōu)點(diǎn)

    限流保護(hù)電路的基本原理

    限流保護(hù)電路的基本原理個(gè)復(fù)雜但至關(guān)重要的概念,它涉及到電子電路中電流控制的多個(gè)方面。這種電路的主要目的是在電流超過預(yù)設(shè)的安全閾值時(shí),通過系列機(jī)制來限制或切斷電流,從而保護(hù)電路中的元件和設(shè)備免受損壞。以下是對(duì)限流保護(hù)電路
    的頭像 發(fā)表于 08-19 17:55 ?3914次閱讀

    無線充電技術(shù)的基本原理和應(yīng)用領(lǐng)域

    無線充電技術(shù)作為近年來快速發(fā)展的電力傳輸方式,其基本原理和應(yīng)用范圍廣泛,為人們的生活帶來了極大的便利。以下將詳細(xì)闡述無線充電技術(shù)的基本原理、主要類型、技術(shù)優(yōu)勢(shì)以及在不同領(lǐng)域的應(yīng)用。
    的頭像 發(fā)表于 07-26 17:56 ?4922次閱讀

    D/A轉(zhuǎn)換器的基本原理和性能指標(biāo)

    D/A轉(zhuǎn)換器(Digital-to-Analog Converter,簡(jiǎn)稱DAC)是種將數(shù)字信號(hào)轉(zhuǎn)換為模擬信號(hào)的電子器件。在數(shù)字信號(hào)處理、音頻設(shè)備、通信系統(tǒng)等眾多領(lǐng)域中,D/A轉(zhuǎn)換器都扮演著至關(guān)重要的角色。以下將詳細(xì)闡述
    的頭像 發(fā)表于 07-22 17:01 ?3059次閱讀

    神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的基本原理

    神經(jīng)網(wǎng)絡(luò),作為人工智能領(lǐng)域的個(gè)重要分支,其基本原理和運(yùn)作機(jī)制直是人們研究的熱點(diǎn)。神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的基本原理基于對(duì)人類大腦神經(jīng)元結(jié)構(gòu)和功能的模擬,通過大量的神經(jīng)元相互連接、協(xié)同工作,實(shí)現(xiàn)對(duì)信
    的頭像 發(fā)表于 07-01 11:47 ?2169次閱讀