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關(guān)于5G大規(guī)模MIMO天線陣列3D OTA測試的介紹和應(yīng)用

羅德與施瓦茨中國 ? 來源:djl ? 2019-10-15 11:51 ? 次閱讀

5G將使用多天線技術(shù),通過結(jié)合增強(qiáng)的空分復(fù)用為多個(gè)用戶提供數(shù)據(jù),稱為大規(guī)模MIMO。一個(gè)結(jié)論是不能采用傳導(dǎo)方式評估輻射方向圖性能,因此必需通過OTA方式。本文介紹使用OTA測試裝置測量天線三維方向圖的技術(shù)要點(diǎn)。

即將推出的5G標(biāo)準(zhǔn)在獲得更低運(yùn)營成本(OPerational EXpenses, OPEX)的同時(shí)確保更高的吞吐率、更多的容量和實(shí)現(xiàn)的靈活性。其他目標(biāo)包括超可靠低延遲通信 (ultra Reliable Low Latency Communications, uRLLC) 和大規(guī)模機(jī)器類型通信 (massive Machine Type Communications, mMTC)。軟件定義網(wǎng)絡(luò) (Software Defined Network, SDN) 和大規(guī)模MIMO多天線場景很可能是實(shí)現(xiàn)這些目標(biāo)的技術(shù)選擇。

為了獲得更高的吞吐率必須有更寬的帶寬支撐,5G系統(tǒng)將使用厘米波和毫米波范圍的頻率。這種方案的一個(gè)缺點(diǎn)是自由空間路徑損耗將更大。 提供更高天線增益的天線陣列可以補(bǔ)償自由空間路徑損耗。與 900MHz相比,為了在28GHz頻率上保持相同的接收功率,意味著天線增益要增加30dB。使用大量天線單元并控制能量方向,稱作波束賦形,可以實(shí)現(xiàn)這個(gè)目標(biāo)。

波束賦形技術(shù)通過分配給每個(gè)用戶設(shè)備(UE) 的信號只瞄準(zhǔn)相應(yīng)的單個(gè)用戶設(shè)備,顯著降低了能量消耗。而沒有使用波束賦形的基站,未被UE接收的能量可能對相鄰的多個(gè)UE產(chǎn)生干擾,或者被直接丟棄。

諸如LTE或WLAN等的當(dāng)前標(biāo)準(zhǔn)采用MIMO,通過空分復(fù)用獲得較高容量。多用戶 MIMO 技術(shù)使用波束賦形,通過同時(shí)發(fā)送數(shù)據(jù)到不同的多個(gè)UE,擴(kuò)展了MIMO。術(shù)語大規(guī)模MIMO根據(jù)硬件配置和信道條件,以動(dòng)態(tài)方式描述波束賦形和多天線空間復(fù)用的組合(參見圖 14)。

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▲圖 14: 大規(guī)模MIMO:波束賦形和空分復(fù)用組合。

大規(guī)模 MIMO面臨的挑戰(zhàn)

雖然大規(guī)模MIMO具有許多優(yōu)點(diǎn),但也存在一些挑戰(zhàn),包括:

1.前傳接口連接的高吞吐量

2.天線陣列校準(zhǔn)

3.天線單元間的相互耦合

4.不規(guī)則的天線陣列

5.天線陣列復(fù)雜

大規(guī)模MIMO遭遇的挑戰(zhàn)還來自如何去表征信號,測量天線陣列功率的要求不曾在傳統(tǒng)使用電纜傳導(dǎo)接口的場合出現(xiàn)過。

有意義的表征只能使用OTA (Over-The-Air) 測試實(shí)現(xiàn)。主要因?yàn)椋撼杀?、高頻率下進(jìn)行耦合帶來的高插損等原因使得電纜測試方法不可行;以及大規(guī)模 MIMO 系統(tǒng)將無線收發(fā)器集成到天線中,這導(dǎo)致失去射頻測試端口。這種模式改變的結(jié)果是什么?

3D OTA測量

過去,將功率作為時(shí)間、頻譜或編碼(CDMA 系統(tǒng))的函數(shù)進(jìn)行測量。波束賦形的到來增加了另一個(gè)維度:空間或功率相對于離開方向。圖 15 給出功率測量示例??罩袦y量參數(shù)可以分為兩大類:研發(fā)、認(rèn)證或一致性測試對于被測設(shè)備輻射特性的完整評估,以及生產(chǎn)中的校準(zhǔn)、驗(yàn)證和功能測試。

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▲圖 15:作為時(shí)間、頻率、編碼和空間的函數(shù)的功率測量。

天線設(shè)計(jì)者關(guān)心的主要測試參數(shù)包括增益圖、輻射功率、接收機(jī)靈敏度、收發(fā)器/接收器特征和波束控制/波束跟蹤,其中任何每一項(xiàng)都會(huì)影響OTA測量。然而,由于大規(guī)模 MIMO 使用的頻率,更為關(guān)注波束控制/波束跟蹤。雖然現(xiàn)在的蜂窩技術(shù)使用靜態(tài)波束圖特征,毫米波系統(tǒng)將需要?jiǎng)討B(tài)波束測量,以便精確表征波束跟蹤算法和波束控制算法。

生產(chǎn)測試

一致性和生產(chǎn)測試包括很多方面。

特別重要的有三方面:

?天線/相對校準(zhǔn):為了實(shí)現(xiàn)精確波束賦形,射頻信號路徑間的相位差必須小于±5°??梢允褂孟辔幌喔山邮諜C(jī)執(zhí)行該測量,以便測量所有天線單元間的相對誤差。

?5點(diǎn)波束測試:根據(jù)3GPP要求,有源天線系統(tǒng) (Active Antenna System, AAS) 制造商要為每個(gè)聲稱的波束規(guī)定波束方向、最大EIRP和EIRP門限值。除了最大EIRP點(diǎn)外,在聲稱的門限值邊界處測量四個(gè)附加點(diǎn),即,具有最大EIRP的中心點(diǎn),以及公布的左邊、右邊、頂部和底部邊界的其余4個(gè)點(diǎn),如圖 16所示。

?最終的功能測試:在生產(chǎn)環(huán)節(jié)完全組裝好的模塊上執(zhí)行,包括簡單的輻射測試,5點(diǎn)波束測試和收發(fā)器聯(lián)合功能測試,例如所有收發(fā)器打開時(shí)的誤差矢量幅度 (EVM)測量。

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▲圖 16:基于制造商公布的 5 個(gè)測量點(diǎn)的 5點(diǎn)測試。

近場測量和遠(yuǎn)場測量

OTA測量系統(tǒng)可以根據(jù)取樣輻射場的哪一部分來分類。圖17給出來自基站天線陣列(工作在2.70GHz具有均勻激勵(lì)的8個(gè)圓形微帶天線貼片)的近場和遠(yuǎn)場。近場區(qū)和遠(yuǎn)場區(qū)由Fraunhofer 距離R = 2×D2 /λ定義,其中D是最大天線口徑或尺寸。在近場區(qū),在小于R的距離處,場強(qiáng)由感應(yīng)分量和輻射分量組成; 而在天線的遠(yuǎn)場區(qū)僅有輻射分量場強(qiáng)。

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▲圖17:來自基站天線陣列的電磁場。

對于到遠(yuǎn)場區(qū)的數(shù)學(xué)變換,需要精確測量包圍被測設(shè)備三維表面上的相位和幅度,由此產(chǎn)生天線的2維和3維增益圖。遠(yuǎn)場區(qū)測量僅需要用幅度計(jì)算天線的波束圖,如果需要也可以在OTA單點(diǎn)處測量。

對于小型設(shè)備(取決于波長),例如用戶設(shè)備,對于遠(yuǎn)場條件所需的暗室尺寸由測量波長決定。

對于較大的設(shè)備,例如基站或大規(guī)模MIMO,所需的暗室尺寸可能變得非常大。如果測量系統(tǒng)能夠精確地對整個(gè)封閉表面上的電磁場的相位和幅度進(jìn)行采樣,則暗室尺寸可以大大減小。

在遠(yuǎn)場區(qū)開展測量,需要直接測量平面波幅度,并且這樣的暗室通常相當(dāng)大,暗室大小要綜合考慮被測設(shè)備尺寸和測量頻率。

雖然遠(yuǎn)場通常是在離開被測設(shè)備適當(dāng)距離處測量,但是可以通過控制電磁場,使得近場暗室可以用于直接測量平面波幅度。有兩種技術(shù):

?緊湊型區(qū)域暗室,最經(jīng)常用于大型被測設(shè)備,如飛機(jī)和衛(wèi)星;

?平面波轉(zhuǎn)換器 (Plane Wave Converter, PWC):在被測設(shè)備處創(chuàng)建平面波,這可以通過天線陣列替代測量天線實(shí)現(xiàn)。類似于在光學(xué)系統(tǒng)中使用透鏡,天線陣列可以在被測設(shè)備區(qū)域內(nèi)的目標(biāo)區(qū)位置生成平面遠(yuǎn)場。

近場測量

近場區(qū)測量需要在封閉表面(球形,線形或圓柱形)上采樣得到的場相位和幅度,以便使用傅立葉頻譜變換計(jì)算遠(yuǎn)場幅度。

這種測量通常使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀,如R&S ZNBT20,一端口接被測設(shè)備,另一端口接測量天線。對于有源天線或大規(guī)模MIMO,通常沒有專用天線端口或射頻端口,因此OTA測量系統(tǒng)必須能夠獲取相位以便完成到遠(yuǎn)場的轉(zhuǎn)換。對于有源天線系統(tǒng),有兩種獲取相位的方法:

?干涉測量:具有已知相位的第二根天線用作參考。參考信號與含未知相位的被測設(shè)備信號混頻,使用信號后處理方法,可以獲得被測設(shè)備信號的相位,并用于近場到遠(yuǎn)場的變換。

?多個(gè)面或探頭:第二個(gè)面用作相位參考,在兩個(gè)測量半徑間至少有一個(gè)波長間隔。也可以使用具有不同天線場特性的兩個(gè)探頭來代替多個(gè)面。

這兩個(gè)探頭需要分開至少半個(gè)波長以盡量減小相互耦合。

如果選擇使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA),真正的多端口VNA(如R&S ZNBT20)具有測量天線單元間耦合的額外優(yōu)勢。采用多個(gè)接收機(jī)而不是使用開關(guān) — 同時(shí)執(zhí)行測試減少了測試時(shí)長,并且能更好地執(zhí)行完整的互耦合測量。

結(jié)論

天線陣列將在未來的無線通信中發(fā)揮重要作用。然而在它們的研發(fā)、設(shè)計(jì)和生產(chǎn)中遇到的挑戰(zhàn)使得完整測試對于實(shí)現(xiàn)最佳性能至關(guān)重要。射頻測試端口消失以及使用厘米波和毫米波頻率,使得OTA測試成為表征不僅大規(guī)模MIMO陣列,而且內(nèi)部收發(fā)器性能的必要手段。這將會(huì)推動(dòng)OTA暗室和測量設(shè)備的大量需求,以便滿足測量天線輻射特性和收發(fā)器性能的嚴(yán)格要求。

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