EMI 問(wèn)題可能會(huì)嚴(yán)重影響產(chǎn)品開(kāi)發(fā)計(jì)劃，在設(shè)計(jì)流程早期進(jìn)行 EMI 預(yù)兼容測(cè)試可以向您提醒相關(guān)問(wèn)題，從而避免由測(cè)試機(jī)構(gòu)發(fā)現(xiàn)這些問(wèn)題。存在問(wèn)題后，進(jìn)行快速 EMI 故障排除是搜尋無(wú)用輻射和干擾源的關(guān)鍵。泰克儀器和軟件可迅速執(zhí)行 EMI 診斷，可方便用戶(hù)按期發(fā)布產(chǎn)品。

通過(guò)文檔，可了解以下內(nèi)容：

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