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與亮度計共享可量測全光通量 - 能源之星LED照明測量標準及檢測

來源:本站整理 作者:灰色天空2012年02月29日 15:55
[導讀] 與亮度計共享可量測全光通量 積分球-亮度計系統所使用的V()亮度計可用以量測全光通量,但對于亮度計探頭上的濾片,其光譜響應S()對人眼的明視覺光譜
 與亮度計共享可量測全光通量

  積分球-亮度計系統所使用的V(λ)亮度計可用以量測全光通量,但對于亮度計探頭上的濾片,其光譜響應S(λ)對人眼的明視覺光譜視效函數V(λ)匹配不佳時,將導致量測上的誤差,尤其是固態照明為白光光源時,多以藍光激發黃色熒光粉產生,在藍光波段的視效函數匹配不佳時,差異的比例就會加大,圖5即說明視效函數匹配問題。亮度計探頭的光譜響應與V(λ)曲線不匹配的程度,CIE用來表示f’’1,f’’1值越小兩者間不匹配的程度越小。另外,使用V(λ)亮度計為偵測探頭時,無法進行光色特性的量測。

圖5 白光LED多以藍光激發黃色熒光粉,在藍光波段(圖中箭號表示)處,亮度計探頭的視效函數(虛線表示)響應與CIE V(λ)匹配不佳時,差異的比例就會加大。

  ?配光譜儀可消除V(λ)失匹配誤差

  由光度量定義,只要測出被測光源的光譜功率分布,再與V(λ)加權積分,就可以求出相對應的光度量,這種測量光譜光度量的方法為分光法。用分光法可以消除探頭的V(λ)失匹配和被測光源與標準光源的光譜功率分布不一致所帶來的誤差。光源的光譜輻射功率分布由光譜輻射計測量,分光法測量光度量的精度主要取決于光譜輻射計的線性動態范圍、重復性、光譜波長誤差、雜散光和標定誤差等。

  藉由量得的光源光譜輻射功率分布即可進行光色特性數值的計算,包含色度、相對色溫及演色性(CRI)。

  此類系統必須參照一個有校準到全可見光域分光輻射通量標準燈來進行校正。其量測原理為通過與參照標準ΦREF (λ)比較,可得到被測固態照明產品的總分光輻射通量ΦTEST (λ),關系式如公式(1)。

………………公式(1)

  公式(2)中,yTEST (λ)為待測樣品在此系統下的光譜輻射計的讀值、yREF(λ)為參照標準燈在此系統下的光譜輻射計的讀值,α(λ)則為自吸收因子。

………………公式(2)

  yaux,TEST (λ)為不點亮待測樣品,點亮輔助燈,在此系統下的光譜輻射計的讀值;yaux,REF (λ)則為不點亮參照標準燈,點亮輔助燈時,在此系統下的光譜輻射計讀值。從測得的ΦTEST (λ)(單位:W/奈米)總分光輻射通量,可使用公式(3)計算總光通量 ΦTEST (單位:流明)。

………………公式(3)

  欲獲得光源光型分布信息 非使用配光曲線量測不可

  配光曲線量測系統可提供待測光源燈具光強度在空間中的分布,進而透過積分運算得到光通量,此時的光通量可經計算得到全光通量、區域光通量的信息。

  此系統也可支持較大型燈具量測。配光曲線量測系統須有暗房、良好的環境溫度控制及避免空氣擾動,尤其對于對溫度敏感的固態照明燈具尤其重要。因配光曲線儀為量測空間中各點的光強度值再進行運算,相較于積分球,配光曲線量測系統的量測很耗時,但對于必須得知光源光型分布的情況,就不得不使用此系統來量測。

  配光曲線量測系統所使用的偵測器與前面所述積分球量測系統一樣,可搭配亮度計或光譜輻射計進行量測,于是配光曲線儀-亮度計系統及配光曲線儀-光譜輻射計系統應運而生。LM-79特別要求使用亮度計的f’’1須小于3%。不論是哪種系統都是量測燈源各方向的光強度值,再進行積分而得出光通量值。特別的是,若須要得知各角度的顏色分布,如能源之星針對固態照明要求量測各角度的光色差值時,就一定要使用光譜輻射計,才可得知待測燈源的光色特性。

  C-γ配光曲線儀符合LM-79規范

  配光曲線儀可分為A-α、B-β、C-γ三種形式,詳見圖6~8。為確保量測時的光源擺放姿態即為使用時的姿態,僅有C-γ符合需求,LM-79因此規定僅可使用C-γ形式的配光曲線儀。C-γ型配光曲線儀包含移動偵測器探頭及移動反光鏡的類別。

圖6 配光曲線儀A-α量測形式示意圖

圖7 配光曲線儀B-β量測形式示意圖

圖8 配光曲線儀C-γ量測形式示意圖

  對于大型燈具,若要符合偵測位置須達最大發光尺寸直徑十倍距離遠的要求(LM-79第10.0節說明寬發光角光源為五倍,窄角光源須更遠),礙于實際執行空間的限制,便必須使用反光鏡。此時應注意鏡子本身存在一輕微極化的因素,若量測發出極化光源的固態照明產品的光通量時,就會造成很大的誤差,因此推薦使用不帶鏡子的配光曲線儀。有些配光曲線儀會在旋轉背上直接裝設偵測器,如此即不須透過反光鏡,當然,若燈具過大則無法使用。

圖9 配光曲線儀測試光通量示意圖

  此外,也須注意配光曲線儀在環境雜散光的處理。包含燈具光源在機構件上的反光、燈具本體的反光、地面墻面反光等,都應加以評估并使用適當的架構,如在偵測期前裝置光陷阱(Light Trap)避免反射雜光進入偵測器,影響量測值。

 

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