LED照明產(chǎn)品的老化試驗(yàn)是一個(gè)非常重要的測(cè)試,通過(guò)老化測(cè)試可以及早發(fā)現(xiàn)LED 產(chǎn)品在長(zhǎng)期使用中可能產(chǎn)生的故障。本文所介紹的一種LED 老化測(cè)試方案,主要說(shuō)明了如何結(jié)合系統(tǒng)中的硬件產(chǎn)品,和主要的監(jiān)控
2013-09-23 16:10:59
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電子元器件的老化測(cè)試就是仿照或者等效產(chǎn)品的使用狀態(tài),通過(guò)測(cè)試,將不符合器件剔除,將電子產(chǎn)品的質(zhì)量在加工初期進(jìn)行有效地控制,以保證電子產(chǎn)品使用的可靠性和穩(wěn)定性。針對(duì)電子元器件的這種情況,我們開(kāi)發(fā)了一種
2016-01-19 10:44:43
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老化測(cè)試是產(chǎn)品生產(chǎn)中必不可少的環(huán)節(jié),對(duì)于CAN通信設(shè)備如何進(jìn)行批量高效的老化測(cè)試呢?本文將從成本及方案優(yōu)化兩方面簡(jiǎn)述測(cè)試方法。
2018-08-08 15:19:35
7696 老化測(cè)試是產(chǎn)品生產(chǎn)中必不可少的環(huán)節(jié),對(duì)于CAN通信設(shè)備如何進(jìn)行批量高效的老化測(cè)試呢?本文將從成本及方案優(yōu)化兩方面簡(jiǎn)述測(cè)試方法。
2018-08-13 09:58:32
6915 PCBA測(cè)試老化板的方法是什么?
2023-04-14 15:22:57
如題:PCBA老化測(cè)試有國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)或者行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)嗎?
2022-01-20 14:14:08
是為了檢查出加工過(guò)程中各種工藝所產(chǎn)生的的質(zhì)量問(wèn)題。而PCBA測(cè)試則是指對(duì)成品PCBA電路板進(jìn)行功能上的測(cè)試檢查,主要有功能測(cè)試、老化測(cè)試、環(huán)境測(cè)試等,以測(cè)試PCBA電路板在各種條件下能否正常的工作運(yùn)行
2022-11-21 20:28:12
PCBA測(cè)試是PCBA制程中控制產(chǎn)品品質(zhì)的一個(gè)重要環(huán)節(jié),是為了檢測(cè)PCBA板是否有足夠的可靠性來(lái)完成以后的工作,它是確保生產(chǎn)交貨質(zhì)量的關(guān)鍵步驟。一般來(lái)說(shuō),PCBA可靠性測(cè)試分為ICT測(cè)試、FCT
2020-09-02 17:44:35
vlan 分流進(jìn)行測(cè)試,交換機(jī)要配置好vlan,并且連接到測(cè)試儀的那個(gè)端口要?jiǎng)澐值矫恳?b class="flag-6" style="color: red">個(gè)vlan 中。測(cè)試環(huán)境圖如下:EOC 老化測(cè)試測(cè)試機(jī)箱:BigTao 系列測(cè)試機(jī)箱、iTester 系列測(cè)試
2014-03-28 14:23:01
機(jī)會(huì)得到翻轉(zhuǎn),對(duì)于一般數(shù)字集成電路都需要外部提供功能測(cè)試碼來(lái)驅(qū)動(dòng)電路工作?! ?duì)于FPGA 電路的動(dòng)態(tài)老化試驗(yàn)來(lái)說(shuō),功能測(cè)試碼是存儲(chǔ)在外部存儲(chǔ)器中的配置程序,將程序配置到FPGA 電路內(nèi)部,使內(nèi)部的門(mén)陣列全部
2011-09-13 09:22:08
倒入適量的酒精,酒精的份量以把整個(gè)座頭浸沒(méi)為佳,并打開(kāi)超聲波清潔器開(kāi)關(guān),開(kāi)始進(jìn)行清洗工作,大概十分鐘之后(如果老化測(cè)試座比較臟,清洗時(shí)間可以適當(dāng)延長(zhǎng)),把超聲波清潔器開(kāi)關(guān)關(guān)掉,用鑷子把座頭取出。3
2018-11-30 17:52:08
模擬:光照(白天)、冷凝(夜晚)、噴淋(下雨)常見(jiàn)UV測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):ISO 4892.3:2013 GB/T 16422.3-2014 ASTM G 154-2013UV測(cè)試流程:1.確定測(cè)試樣品2.確定測(cè)試條件及時(shí)間3.是否判定 (確定判定依據(jù):1.客戶(hù)要求 2.標(biāo)準(zhǔn)判定)4.實(shí)驗(yàn)室測(cè)試并出具試驗(yàn)報(bào)告!
2021-10-19 09:42:13
)?! ∧敲碙ED顯示屏老化測(cè)試注意事 1、測(cè)試內(nèi)容:白屏,紅、綠、蘭單色、灰度漸變,視頻效果,文字效果 2、led顯示屏打白屏測(cè)試時(shí)間不低于24小時(shí) 3、單色、灰度漸變測(cè)試不低于24小時(shí) 4、視頻
2013-02-28 17:11:10
模擬:光照(白天)、冷凝(夜晚)、噴淋(下雨)常見(jiàn)UV測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):ISO 4892.3:2013 GB/T 16422.3-2014 ASTM G 154-2013UV測(cè)試流程:1.確定測(cè)試樣品2.確定測(cè)試條件及時(shí)間3.是否判定 (確定判定依據(jù):1.客戶(hù)要求 2.標(biāo)準(zhǔn)判定)4.實(shí)驗(yàn)室測(cè)試并出具試驗(yàn)報(bào)告!
2021-09-26 17:44:32
模擬:光照(白天)、冷凝(夜晚)、噴淋(下雨)常見(jiàn)UV測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):ISO 4892.3:2013 GB/T 16422.3-2014 ASTM G 154-2013UV測(cè)試流程:1.確定測(cè)試樣品2.確定測(cè)試條件及時(shí)間3.是否判定 (確定判定依據(jù):1.客戶(hù)要求 2.標(biāo)準(zhǔn)判定)4.實(shí)驗(yàn)室測(cè)試并出具試驗(yàn)報(bào)告!
2021-11-01 10:35:16
的檢測(cè)?! ≡囼?yàn)判定標(biāo)準(zhǔn):外觀(guān)和機(jī)構(gòu)上無(wú)大異常,功能上測(cè)試無(wú)異常。裸機(jī)跌落試驗(yàn) 試驗(yàn)條件:常溫常濕的環(huán)境下 試驗(yàn)方法:保證平板電腦在關(guān)機(jī)狀態(tài)下,在64mm厚水泥材料且表面貼20mm厚木板上進(jìn)
2021-03-10 17:57:24
,在64mm厚水泥材料且表面貼20mm厚木板上進(jìn)行,正面背面?zhèn)让娓鞯湟淮?,?cè)按鍵面不做測(cè)試。落下高度:80CM 試驗(yàn)判定標(biāo)準(zhǔn):外殼結(jié)構(gòu)不可出現(xiàn)永久性損壞,試驗(yàn)后功能上應(yīng)無(wú)異常。3.高溫/低溫啟動(dòng)
2021-05-06 18:26:28
模擬:光照(白天)、冷凝(夜晚)、噴淋(下雨)常見(jiàn)UV測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):ISO 4892.3:2013 GB/T 16422.3-2014 ASTM G 154-2013UV測(cè)試流程:1.確定測(cè)試樣品2.確定測(cè)試條件及時(shí)間3.是否判定 (確定判定依據(jù):1.客戶(hù)要求 2.標(biāo)準(zhǔn)判定)4.實(shí)驗(yàn)室測(cè)試并出具試驗(yàn)報(bào)告!
2021-10-18 14:09:09
的檢測(cè)。 試驗(yàn)判定標(biāo)準(zhǔn):外觀(guān)和機(jī)構(gòu)上無(wú)大異常,功能上測(cè)試無(wú)異常。裸機(jī)跌落試驗(yàn) 試驗(yàn)條件:常溫常濕的環(huán)境下 試驗(yàn)方法:保證平板電腦在關(guān)機(jī)狀態(tài)下,在64mm厚水泥材料且表面貼20mm厚木板上進(jìn)
2021-02-22 17:46:23
構(gòu)架圖圖3 FPGA硬件示意圖驅(qū)動(dòng)板和老化板分別采用兩個(gè)對(duì)接座連接,電流電壓采樣信號(hào)回傳到***RIO-9612板上進(jìn)行AD變換后發(fā)送到上位機(jī)。 3 工作流程及實(shí)現(xiàn)3.1 LabVIEW簡(jiǎn)介
2019-08-06 04:30:00
在開(kāi)關(guān)電源出廠(chǎng)之前,都會(huì)給它做一個(gè)嚴(yán)格的測(cè)試,老化測(cè)試是必須要做的。經(jīng)過(guò)老化測(cè)試的開(kāi)關(guān)電源,在使用過(guò)程中基本上不會(huì)出現(xiàn)任何故障問(wèn)題,使用壽命和品質(zhì)都是可以得到保證的。一般在老化測(cè)試的過(guò)程中,為了能夠
2021-10-28 09:51:05
各位大佬們,我目前要設(shè)計(jì)一個(gè)老化測(cè)試板,主要是接一個(gè)20引腳的模塊,我目前不知道需要哪些引腳供電。有人知道嗎?
2018-04-27 09:04:14
變頻電源老化測(cè)試到底重不重要呢?很多人可能會(huì)覺(jué)得這個(gè)老化測(cè)試應(yīng)該不測(cè)也是沒(méi)關(guān)系的吧,這不是一個(gè)人大的問(wèn)題,沒(méi)什么關(guān)系的。但還是在一些專(zhuān)業(yè)性能上來(lái)講的話(huà),其實(shí)變頻電源測(cè)試是非常重要的,今天中港揚(yáng)盛
2021-12-30 08:22:48
本文詳細(xì)介紹了艾德克斯電源老化測(cè)試系統(tǒng)IT9100針對(duì)于LED照明產(chǎn)品長(zhǎng)時(shí)間通電老化測(cè)試以及如何高效完成LED照明產(chǎn)品的老化測(cè)試。
2021-05-11 06:20:49
、TSSOP、CSP、 電容電阻、DDR/GDDR、eMMC、eMCP、晶振、FPC、FFC、connector test……標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試座均現(xiàn)貨供應(yīng),非標(biāo)可定制,質(zhì)優(yōu)價(jià)好!3.專(zhuān)業(yè)定制各類(lèi)PCBA測(cè)試架
2019-11-08 10:14:10
`如何對(duì)多個(gè)通道同時(shí)進(jìn)行電源老化/溫升測(cè)試為了驗(yàn)證產(chǎn)品的壽命和品質(zhì),往往都會(huì)需要將設(shè)計(jì)好的電源產(chǎn)品置于仿真的高溫、惡劣環(huán)境中一段時(shí)間以檢查其穩(wěn)定性和可靠性。此外,有時(shí)在對(duì)電源產(chǎn)品做應(yīng)力分析時(shí)也需要
2020-06-19 16:30:32
/T 16422.3-2014 ASTM G 154-2013UV測(cè)試流程:1.確定測(cè)試樣品2.確定測(cè)試條件及時(shí)間3.是否判定 (確定判定依據(jù):1.客戶(hù)要求 2.標(biāo)準(zhǔn)判定)4.實(shí)驗(yàn)室測(cè)試并出具試驗(yàn)報(bào)告!
2021-10-27 18:19:48
/T 16422.3-2014 ASTM G 154-2013UV測(cè)試流程:1.確定測(cè)試樣品2.確定測(cè)試條件及時(shí)間3.是否判定 (確定判定依據(jù):1.客戶(hù)要求 2.標(biāo)準(zhǔn)判定)4.實(shí)驗(yàn)室測(cè)試并出具試驗(yàn)報(bào)告!
2021-11-02 09:24:36
手環(huán)這種產(chǎn)品是如何老化測(cè)試的?比如電池容量只有幾十毫安時(shí),帶藍(lán)牙WIFI或者GSM通訊那些又是如何老化測(cè)試的?有誰(shuí)接觸過(guò)的
2021-05-22 19:01:36
公司專(zhuān)門(mén)研發(fā)生產(chǎn)電源測(cè)試系統(tǒng)(設(shè)備)、電子負(fù)載、電源老化車(chē),安規(guī)實(shí)驗(yàn)設(shè)備的高科技企業(yè)。產(chǎn)品包括電源測(cè)試系統(tǒng)(ATE)、LED電源測(cè)試系統(tǒng)、充電器測(cè)試系統(tǒng)、電子負(fù)載、LED電源老化車(chē)、LED電源
2015-01-20 14:53:55
` 不是所有的半導(dǎo)體生產(chǎn)廠(chǎng)商對(duì)所有的器件都需要進(jìn)行老化測(cè)試。普通器件制造由于對(duì)生產(chǎn)制程比較了解,因此可以預(yù)先掌握通過(guò)由統(tǒng)計(jì)得出的失效預(yù)計(jì)值。如果實(shí)際故障率高于預(yù)期值,就需要再做老化測(cè)試,提高實(shí)際可靠性以滿(mǎn)足用戶(hù)的要求。宜特`
2019-08-02 17:08:06
控制或耐久性好的材料測(cè)試;0.48W/m2@340nm UVB-313燈管執(zhí)行SAE J2020標(biāo)準(zhǔn)時(shí)的長(zhǎng)時(shí)間光照。一個(gè)完整的UV測(cè)試條件包括哪些? 應(yīng)包括:輻照強(qiáng)度(irradiation)、燈管類(lèi)型
2019-08-31 10:14:36
為什么要設(shè)計(jì)本老化測(cè)試系統(tǒng)?本老化檢測(cè)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)是怎樣構(gòu)成的?怎樣去設(shè)計(jì)本老化檢測(cè)系統(tǒng)?本老化檢測(cè)系統(tǒng)主要包括哪些模塊?
2021-04-15 06:27:07
ASTM G155-2013室內(nèi)用塑料的氙弧光暴露標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法ASTM D4459-2013室外用塑料的氙弧光暴露標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法ASTM D2565-99(2008)2熒光紫外線(xiàn)暴露橡膠老化標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
2016-12-26 14:03:41
最近,您可能聽(tīng)說(shuō)了這則新聞 — 智能手機(jī)制造商為了適應(yīng)電池的老化而將舊型號(hào)的產(chǎn)品降速,以防止電池老化的手機(jī)意外關(guān)機(jī)。
2019-08-13 08:16:30
第一種最老的老化方式就是水泥電阻,其價(jià)格便宜但是有一下幾點(diǎn)不便。1、電阻阻值固定幾種規(guī)格可選;2、電源規(guī)格多樣電阻無(wú)法調(diào)到老化所需的準(zhǔn)確電流;3、被老化電源不能準(zhǔn)確100%負(fù)載老化;4、電阻老化更改
2012-10-17 16:41:07
輸入220v的電壓,輸出12v,10W的電源怎么老化?
2015-03-23 11:56:24
第一種常溫帶載老化;這是一種常規(guī)的老化方法,不需要投入專(zhuān)門(mén)的老化系統(tǒng),操作比較簡(jiǎn)單,也能達(dá)到一定的老化效果,這種老化方式,目前也有很多企業(yè)采用,采用常溫帶載老化方式,最大的不足是耗能大,尤其是達(dá)到
2016-09-26 23:17:18
多久就壞了,其實(shí)這就是老化測(cè)試未通過(guò)的結(jié)果,由于用戶(hù)認(rèn)領(lǐng)了小作坊的部分工作,所以一般地沒(méi)有老化設(shè)備的小作坊會(huì)識(shí)趣地便宜很多。所以考察一個(gè)廠(chǎng)家有無(wú)老化設(shè)備,是衡量電源模塊廠(chǎng)家的一個(gè)重要指標(biāo)。 當(dāng)然手氣
2018-11-27 11:29:32
剛剛接觸PCBA可靠性,感覺(jué)和IC可靠性差異蠻大,也沒(méi)有找到相應(yīng)的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。請(qǐng)問(wèn)大佬們?cè)谧?b class="flag-6" style="color: red">PCBA可靠性時(shí)是怎么做的,測(cè)試條件是根據(jù)什么設(shè)定?
2023-02-15 10:21:14
為什么要開(kāi)發(fā)一種老化測(cè)試系統(tǒng)?老化測(cè)試系統(tǒng)的工作原理是什么?基于LabVIEW的三極管老化測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)
2021-04-29 07:24:37
老化測(cè)試系統(tǒng)的工作原理是什么?怎樣設(shè)計(jì)一種老化測(cè)試系統(tǒng)?
2021-04-29 07:18:19
劣化因表面氧化使活性碳結(jié)構(gòu)部分被破壞,另一方面老化過(guò)程也造成了電極表面雜質(zhì)沉積,導(dǎo)致大部分的孔被堵住。3、電解液分解電解液的不可逆分解是大大縮短超級(jí)電容的工作時(shí)長(zhǎng),是老化的另一個(gè)原因。電解液進(jìn)行氧化
2022-08-15 17:11:43
老化試驗(yàn)數(shù)據(jù)可以幫助選擇新材料,改良現(xiàn)有材料,以及評(píng)價(jià)配方的變化是如何影響產(chǎn)品的耐久性的。氙燈老化檢測(cè)所依據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)在實(shí)際應(yīng)用中,需要進(jìn)行氙燈老化測(cè)試的高分子材料和產(chǎn)品主要有:塑料、涂料、粘合劑、紡織品等
2021-07-06 09:04:41
簡(jiǎn)單介紹液晶老化目視槽/老化燒機(jī)柜|預(yù)燒老化測(cè)試箱/老化柜/燒機(jī)柜/老化設(shè)備/高溫老化燒機(jī)房液晶老化目視槽/老化燒機(jī)柜|預(yù)燒老化測(cè)試箱/老化柜/燒機(jī)柜/老化設(shè)備/高溫老化燒機(jī)房 的詳細(xì)
2023-01-14 10:37:19
為保證安全性與可靠性,車(chē)用設(shè)備電路板必須經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間老化測(cè)試。由于需要老化電路板數(shù)量較大,設(shè)計(jì)了一個(gè)基于CAN 總線(xiàn)的老化測(cè)試系統(tǒng)。介紹了系統(tǒng)各個(gè)模塊的功能與設(shè)計(jì),
2009-12-22 11:32:00
22 、信息技術(shù)設(shè)備、醫(yī)療設(shè)備、電源設(shè)備、電纜橋架、無(wú)線(xiàn)產(chǎn)品、電器附件等產(chǎn)品的光老化試驗(yàn)。檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)DIN 75 220、JIS D0205、ISO 4892-2、ISO 48
2023-09-21 16:36:13
基于CAN總線(xiàn)的老化測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)
汽車(chē)上用的電子設(shè)備的可靠工作與優(yōu)良性能關(guān)系者駕駛者的生命安全。車(chē)用電子設(shè)備出廠(chǎng)前要求對(duì)設(shè)備內(nèi)部電路板進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間老化測(cè)
2009-10-30 10:30:36
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本文介紹在老化過(guò)程中進(jìn)行功能測(cè)試的新方案,以降低和縮短老化過(guò)程所帶來(lái)的成本和時(shí)間問(wèn)題。
2011-02-16 16:40:28
240 LED 背光及照明產(chǎn)品的長(zhǎng)時(shí)間老化試驗(yàn)是一個(gè)非常重要的測(cè)試,通過(guò)老化測(cè)試可以及早發(fā)現(xiàn)LED產(chǎn)品在長(zhǎng)期使用中可能產(chǎn)生的光衰、色溫變化、漏電等故障,有利于產(chǎn)品性能的穩(wěn)定。ITECH電
2012-10-12 11:09:34
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為了達(dá)到滿(mǎn)意的合格率, 幾乎所有產(chǎn)品在出廠(chǎng)前都要先藉由老化。 制造商如何才能夠在不縮減老化時(shí)間的條
件下提高其效率?本文介紹在老化過(guò)程中進(jìn)行功能測(cè)試的新方案,以降低和縮短老化過(guò)程所帶來(lái)的成本和時(shí)間問(wèn)題
2016-03-11 17:12:52
98 LED壽命測(cè)試:LED加速老化測(cè)試技術(shù)
2017-02-08 02:23:31
48 規(guī)范LED燈具老化測(cè)試流程,減少因操作不當(dāng)而引起的燈具損壞,提高LED燈具老化測(cè)試效率,保證燈具品質(zhì),防止安全事故的發(fā)生。 二、環(huán)境要求 溫度為20℃35℃、濕度為55%95% 三、測(cè)試工具 老化
2017-10-10 14:50:54
18 PCBA貼片加工的工藝流程十分復(fù)雜,包括有PCB板制程、元器件采購(gòu)與檢驗(yàn)、SMT貼片組裝、DIP插件、PCBA測(cè)試等多道重要工序。其中PCBA測(cè)試是整個(gè)PCBA加工制程中最為關(guān)鍵的質(zhì)量控制環(huán)節(jié),決定著產(chǎn)品最終的使用性能。
2017-12-06 17:25:35
15953 本文詳細(xì)介紹了艾德克斯電源老化測(cè)試系統(tǒng)IT9100針對(duì)于LED照明產(chǎn)品長(zhǎng)時(shí)間通電老化測(cè)試,該系統(tǒng)的硬件產(chǎn)品和主要的實(shí)現(xiàn)監(jiān)控界面的優(yōu)勢(shì)以及如何高效完成LED照明產(chǎn)品的老化測(cè)試。
2018-02-15 01:23:00
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高溫老化試驗(yàn)一般分幾個(gè)等級(jí)進(jìn)行,工業(yè)的一般用70度,4個(gè)小時(shí),15度一個(gè)等級(jí),一般有40度,55度70度,85度幾個(gè)等級(jí),時(shí)間一般都是4個(gè)小時(shí)。根據(jù)老化試驗(yàn)產(chǎn)品的多少分為2種方法測(cè)試。
2019-04-23 15:10:57
21779 PCBA測(cè)試一般根據(jù)客戶(hù)的測(cè)試方案制定具體的測(cè)試流程,基本的PCBA測(cè)試流程如下:程序燒錄→ICT測(cè)試→FCT測(cè)試→老化測(cè)試。
2019-05-23 17:00:33
17182 老化測(cè)試的主要目的是通過(guò)高溫、低溫、高低溫變化以及電功率等綜合作用,來(lái)模擬產(chǎn)品的日常使用環(huán)境,暴露出PCBA的缺陷,比如焊接不良,元器件參數(shù)不匹配,以及調(diào)試過(guò)程中造成的故障,以便剔除和改善,對(duì)無(wú)缺陷的PCBA板將起到穩(wěn)定參數(shù)的作用。
2019-05-23 17:08:31
18694 將處于環(huán)境溫度下的PCBA板放入處于同一溫度下的熱老化設(shè)備內(nèi),PCBA板處于運(yùn)行狀態(tài)。
2019-05-23 17:11:30
9357 PCBA測(cè)試主要形式:ICT測(cè)試、FCT測(cè)試、老化測(cè)試、疲勞測(cè)試、惡劣環(huán)境下的測(cè)試五中形式。
2019-09-05 16:51:02
1025 PCBA測(cè)試主要包括ICT測(cè)試、FCT測(cè)試、老化測(cè)試、疲勞測(cè)試、惡劣環(huán)境下測(cè)試這五種形式。
2019-10-01 17:38:00
6973 。在幾種測(cè)試和檢查技術(shù)中,一種是老化測(cè)試方法。這是什么方法?如何用這種技術(shù)測(cè)試電路板?所有這些問(wèn)題必須在您腦海中浮現(xiàn)。這個(gè)問(wèn)題的答案以及老化測(cè)試的詳細(xì)說(shuō)明都在這篇文章中。請(qǐng)繼續(xù)閱讀以了解更多信息。 究竟是什么老化測(cè)試? 專(zhuān)用集
2020-10-20 19:36:17
6966 。接下來(lái)就與大家介紹PCBA測(cè)試的主要流程。 一、PCBA測(cè)試主要包括哪些測(cè)試 根據(jù)不同的產(chǎn)品以及不同的客戶(hù)要求,PCBA測(cè)試會(huì)有所不同,總的來(lái)說(shuō),PCBA測(cè)試主要包括ICT在線(xiàn)測(cè)試、FCT功能測(cè)試、老化測(cè)試。 二、PCBA測(cè)試的流程 PCBA測(cè)試一般根據(jù)客戶(hù)的測(cè)試方案制定具體的測(cè)試
2021-03-18 11:05:11
15468 控制的標(biāo)準(zhǔn),目前涉及到粉末噴涂鋁型材耐候性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)有Qualicoat,AAMA 2604,AAMA 2604,AAMA 2605,GB 5237.4,BS6496等。
2021-09-28 09:30:12
924 激光器在實(shí)際的老化工程中,如果采用周期式的測(cè)試,也會(huì)存在很多外界影響因素,主要是溫度不穩(wěn)定,設(shè)備測(cè)量和控制不穩(wěn)定,設(shè)備的可靠性和電源失效。
2021-04-03 14:44:00
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ISO 23741標(biāo)準(zhǔn)為使用氙燈老化試驗(yàn)箱的用戶(hù)提供了一種標(biāo)準(zhǔn)量化的方法,用于量化氙燈老化測(cè)試中對(duì)試樣進(jìn)行水噴淋的噴水量。ISO 23741標(biāo)準(zhǔn)適用于任何氙燈老化試驗(yàn)箱,無(wú)論是轉(zhuǎn)鼓式還是平板式。
2021-09-27 17:43:21
443 更加反應(yīng)出開(kāi)關(guān)電源的使用情況,會(huì)比我們正常情況下使用的環(huán)境更加惡劣,標(biāo)準(zhǔn)更加嚴(yán)格。而且老化測(cè)試也是開(kāi)關(guān)電源廠(chǎng)家在保證開(kāi)關(guān)電源的品質(zhì)、市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力以及開(kāi)關(guān)電源價(jià)格高低的一種必須擁有的手段。那么開(kāi)關(guān)電源經(jīng)過(guò)老...
2021-10-21 19:21:02
25 Vcsel失效性分析和老化對(duì)比,VCSEL失效性分析測(cè)試方案
2021-12-03 17:38:24
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深成科技:深圳鋰電池分選機(jī)為什么要做老化試驗(yàn)及測(cè)試?
2022-01-05 16:41:06
677 變頻電源老化測(cè)試到底重不重要呢?很多人可能會(huì)覺(jué)得這個(gè)老化測(cè)試應(yīng)該不測(cè)也是沒(méi)關(guān)系的吧,這不是一個(gè)人大的問(wèn)題,沒(méi)什么關(guān)系的。但還是在一些專(zhuān)業(yè)性能上來(lái)講的話(huà),其實(shí)變頻電源測(cè)試是非常重要的,今天中港
2022-01-07 14:06:06
8 深圳市深成科技有限公司鋰電池分選機(jī)老化試驗(yàn)及測(cè)試是什么?
2022-04-07 11:35:43
1254 新型寬帶隙半導(dǎo)體(如碳化硅和氮化鎵)在市場(chǎng)上的擴(kuò)散對(duì)傳統(tǒng)的老化和測(cè)試系統(tǒng)提出了挑戰(zhàn),因?yàn)槁闫叽缭絹?lái)越小,并且組件可以承受更高的電壓和溫度。 老化試驗(yàn)箱和環(huán)境試驗(yàn)箱在測(cè)試半導(dǎo)體器件和模塊方面發(fā)揮
2022-07-29 17:31:28
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電子連接器的設(shè)計(jì)過(guò)程需要各種嚴(yán)格的測(cè)試程序,而老化測(cè)試是常用的過(guò)程之一。老化測(cè)試可以測(cè)試電子連接器的實(shí)際耐用性和各種元素。這篇文章康瑞連接器廠(chǎng)家主要給大家分享電子連接器老化測(cè)試效果。
2022-09-22 13:56:10
2099 提到“老化”我們第一時(shí)間可能會(huì)想到生銹的鋼材,腐朽的樹(shù)木,那么你知道嗎我們?nèi)粘I钍褂玫碾娮赢a(chǎn)品中的電子元器件也會(huì)老化,這些電子元器件一部分是因?yàn)楣に囍圃爝^(guò)程中可能存在的一系列缺陷,如表面沾污、引線(xiàn)
2022-11-28 16:58:52
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隨著半導(dǎo)體電子技術(shù)的進(jìn)步,老化測(cè)試已成為保證產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵流程。除了半導(dǎo)體元件外,PCB、IC 和處理器部件也都需要在老化條件下進(jìn)行測(cè)試。本篇文章納米軟件Namisoft小編將帶大家分享一下關(guān)于芯片
2023-01-13 10:50:51
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大功率半導(dǎo)體激光器在出廠(chǎng)前需要在高溫和電流等極端條件下進(jìn)行壽命和可靠性測(cè)試。但我們?cè)?b class="flag-6" style="color: red">測(cè)試中通常會(huì)面臨一些問(wèn)題,針對(duì)千瓦級(jí)大功率半導(dǎo)體激光器,普賽斯推出國(guó)產(chǎn)化極優(yōu)性?xún)r(jià)比大功率激光器老化測(cè)試系統(tǒng)解決方案.設(shè)備可擴(kuò)展至4層結(jié)構(gòu),每層設(shè)計(jì)若干路,每路支持1-16只激光器芯片的串聯(lián)老化。
2023-02-22 14:04:21
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電路板高溫老化房是對(duì)PCBA板進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間的通電測(cè)試,模擬用戶(hù)使用,保持其長(zhǎng)時(shí)間工作并觀(guān)察其是否出現(xiàn)任何失效故障,檢測(cè)一些不易發(fā)現(xiàn)的缺陷,以及檢驗(yàn)產(chǎn)品的使用壽命,可確保產(chǎn)品的穩(wěn)定性,只有經(jīng)過(guò)老化測(cè)試
2023-03-01 13:14:49
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要制造電參數(shù)符合要求的晶體是容易的,要制造老化率小的產(chǎn)品則不容易。不只是成品工序,半成品晶片的質(zhì)量也會(huì)影響老化,可以說(shuō),老化是整個(gè)工廠(chǎng)工藝,制造水平的集中體現(xiàn)。1.老化與頻率老化的原因很復(fù)雜。一般
2022-04-22 10:29:15
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嚴(yán)格的測(cè)試,老化測(cè)試就是其中之一。高溫試驗(yàn)箱老化測(cè)試的模塊電源可以保證產(chǎn)品質(zhì)量,使用戶(hù)在使用過(guò)程中降低故障概率,延長(zhǎng)使用壽命。在生產(chǎn)模塊電源的過(guò)程中,有些問(wèn)題是肉眼
2023-04-25 16:12:44
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嚴(yán)格的測(cè)試,老化測(cè)試就是其中之一。高溫試驗(yàn)箱老化測(cè)試的模塊電源可以保證產(chǎn)品質(zhì)量,使用戶(hù)在使用過(guò)程中降低故障概率,延長(zhǎng)使用壽命。在生產(chǎn)模塊電源的過(guò)程中,有些問(wèn)題是肉眼
2023-05-12 11:25:30
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老化測(cè)試座是對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定運(yùn)行測(cè)試的設(shè)備,具有以下幾個(gè)優(yōu)勢(shì):
2023-07-01 16:38:24
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老化測(cè)試最終的目的是預(yù)測(cè)產(chǎn)品的使用壽命,為生產(chǎn)商評(píng)估或預(yù)測(cè)試所生產(chǎn)的產(chǎn)品耐用性的好壞!
2023-07-04 15:56:59
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“半導(dǎo)體激光器是光收發(fā)模塊核心器件,其穩(wěn)定性直接影響模塊的產(chǎn)品質(zhì)量,CoC老化測(cè)試是一種有效的剔除早期CoC產(chǎn)品失效的篩選方法。聯(lián)訊儀器CoC老化測(cè)試設(shè)備通過(guò)控制老化溫度,老化電流,老化時(shí)長(zhǎng)等測(cè)試
2023-07-20 00:00:00
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PCBA(PrintedCircuitBoardAssembly,印刷電路板組裝)是現(xiàn)代電子產(chǎn)品中的核心組成部分。為確保其穩(wěn)定性、可靠性及長(zhǎng)期性能,老化測(cè)試成為其生產(chǎn)流程中的一個(gè)關(guān)鍵環(huán)節(jié)。本文
2023-10-11 09:36:21
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芯片老化測(cè)試的目的是為了評(píng)估芯片長(zhǎng)期在各種環(huán)境下工作的壽命、性能及可靠性,以確保芯片及系統(tǒng)的工作穩(wěn)定性。往期我們分享了芯片老化測(cè)試的內(nèi)容及注意事項(xiàng),今天我們將分享如何用納米軟件半導(dǎo)體老化測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試芯片老化。
2023-10-16 15:49:32
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開(kāi)關(guān)電源老化測(cè)試是檢測(cè)電源長(zhǎng)期穩(wěn)定性和可靠性的重要測(cè)試方法。通過(guò)模擬開(kāi)關(guān)電源在實(shí)際工作環(huán)境(如高負(fù)荷、高溫等)中的長(zhǎng)時(shí)間使用,來(lái)驗(yàn)證其性能、穩(wěn)定性和可靠性。
2023-11-06 15:08:18
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開(kāi)關(guān)電源老化測(cè)試是檢測(cè)電源長(zhǎng)期穩(wěn)定性和可靠性的重要測(cè)試方法。
2023-11-07 11:30:56
663 芯片的老化試驗(yàn)及可靠性如何測(cè)試? 芯片的老化試驗(yàn)及可靠性測(cè)試是評(píng)估芯片性能和使用壽命的關(guān)鍵步驟。老化試驗(yàn)旨在模擬芯片在長(zhǎng)期使用過(guò)程中可能遭遇的各種環(huán)境和應(yīng)激,并確定芯片的可靠性和耐久性。本文將詳細(xì)
2023-11-09 09:12:01
1121 如何用集成電路芯片測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試芯片老化? 集成電路芯片老化測(cè)試系統(tǒng)是一種用于評(píng)估芯片長(zhǎng)期使用后性能穩(wěn)定性的測(cè)試設(shè)備。隨著科技的進(jìn)步和電子產(chǎn)品的廣泛應(yīng)用,人們對(duì)芯片的可靠性要求日益增高,因此老化測(cè)試
2023-11-10 15:29:05
680 高溫老化測(cè)試,就如同電子產(chǎn)品的“煉獄”之旅。在這個(gè)過(guò)程中,產(chǎn)品被放置在一個(gè)模擬高溫惡劣環(huán)境的特殊設(shè)備——高溫老化試驗(yàn)箱中。試驗(yàn)箱能夠精確地控制溫度和濕度,以達(dá)到加速產(chǎn)品老化的效果。通過(guò)觀(guān)測(cè)產(chǎn)品在這種極端環(huán)境下的性能表現(xiàn),工程師們可以評(píng)估其長(zhǎng)期使用的可靠性和潛在問(wèn)題。
2023-12-22 17:21:03
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逆變器是一種將直流電轉(zhuǎn)換為交流電的電子設(shè)備,廣泛應(yīng)用于太陽(yáng)能發(fā)電、風(fēng)能發(fā)電等領(lǐng)域。在逆變器的生產(chǎn)過(guò)程中,老化測(cè)試是一個(gè)非常重要的環(huán)節(jié)。老化測(cè)試是指在一定的時(shí)間內(nèi),對(duì)逆變器進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間的運(yùn)行測(cè)試,以模擬
2024-03-07 14:28:20
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為了檢測(cè)和確保電源模塊在不同溫度和惡劣環(huán)境下的工作性能,高低溫老化測(cè)試是不可或缺的測(cè)試步驟。高低溫老化測(cè)試是電子產(chǎn)品制造過(guò)程中的重要一環(huán),電源模塊高低溫老化測(cè)試就是為了檢測(cè)電源模塊在高溫和低溫下是否可以正常工作。
2024-03-08 11:00:31
122 電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《Hast老化試驗(yàn)測(cè)試.pdf》資料免費(fèi)下載
2024-03-13 15:42:38
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評(píng)論