各位大爺覺得可靠性測試有沒有必要做？
2016-07-07 17:25:55
問題，加以修改后再進(jìn)行下一步驟的測試。通過提高產(chǎn)品的可操作界限及破壞界限，從而達(dá)到提升可靠性的目的。2、HASS應(yīng)用HASS的目的是要在極短的時間內(nèi)發(fā)現(xiàn)批量生產(chǎn)的成品是否存在生產(chǎn)質(zhì)量上的隱患，該試驗(yàn)包括
2015-08-04 17:38:43
測試專家開發(fā)了《電子產(chǎn)品可靠性測試實(shí)務(wù)》培訓(xùn)課程。本課程涉及測試項(xiàng)目的選擇、測試用例設(shè)計(jì)、測試標(biāo)準(zhǔn)、測試儀器和測試工裝設(shè)計(jì)、測試管理、可測試性設(shè)計(jì)等幾方面的內(nèi)容，適用于項(xiàng)目經(jīng)理、系統(tǒng)工程師、測試
2011-03-28 22:33:18
可靠性試驗(yàn)分類方法及試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 1.如可靠性測試以環(huán)境條件來劃分,可分為包括各種應(yīng)力條件下的模擬試驗(yàn)和現(xiàn)場試驗(yàn);2.可靠性試驗(yàn)以試驗(yàn)項(xiàng)目劃分，可分為環(huán)境試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)、加速試驗(yàn)和各種特殊試驗(yàn);3.
2017-01-20 09:59:00
和電子輔料等可靠性應(yīng)用場景方面具有專業(yè)的檢測、分析和試驗(yàn)能力，可為各研究院所、高校、企業(yè)提供產(chǎn)品的可靠性檢測、失效分析、老化測試等一體化服務(wù)。本中心目前擁有各類可靠性檢測分析儀器，其中包括
2018-06-04 16:13:50
固有的可靠性因素，而且還取決于用戶所選擇的工作條件、實(shí)裝條件、環(huán)境及其它各種使用條件等。使用不當(dāng)是造成失效的主要原因之一。通過對系統(tǒng)設(shè)計(jì)、裝配、調(diào)試、測試、試驗(yàn)和保管等各方面的使用要求，盡量做到保持器件
2011-11-24 16:28:03
設(shè)計(jì)(使用冗余技術(shù))，使用故障診斷技術(shù)等。可靠性主要包括電路可靠性及元器件的選型有必要時用一定儀器檢測。可靠性試驗(yàn)是對產(chǎn)品進(jìn)行可靠性調(diào)查、分析和評價的一種手段。試驗(yàn)結(jié)果為故障分析、研究采取的糾正措施
2015-08-04 11:04:27
測試檢驗(yàn)的人員）；電子企業(yè)的質(zhì)量工程師（經(jīng)理），采購工程師（經(jīng)理），可靠性工程師（經(jīng)理），和設(shè)計(jì)人員（側(cè)重于了解電子組件可靠性設(shè)計(jì)）。五、課程提綱： 第一章《電子元器件選型與可靠性應(yīng)用》1、器件選型
2010-08-27 08:25:03
，就首先要對完成各項(xiàng)工作所制定的工作標(biāo)準(zhǔn)，明確控制參數(shù)或項(xiàng)目，制定驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)或容許偏差范圍。最有效的控制是激勵工作人員能自覺根據(jù)工作標(biāo)準(zhǔn)和控制要求進(jìn)行自我控制，這將比來自外部的各種控制更有效。2．可靠性
2009-05-24 16:49:57
可靠性是我們在開展電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)過程中常常繞不開的問題。例如，客戶需要我們提供相關(guān)的可靠性預(yù)計(jì)報告，客戶需要我們的產(chǎn)品提供相應(yīng)的可靠性試驗(yàn)報告，或者企業(yè)內(nèi)部需要控制產(chǎn)品質(zhì)量，制定了一系列的可靠性工作
2017-12-08 10:47:19
當(dāng)組件上板后進(jìn)行一系列的可靠性驗(yàn)證，可靠性驗(yàn)證過程中產(chǎn)品失效時，透過板階整合失效分析能快速將失效接口找出，宜特協(xié)助客戶厘清真因后能快速改版重新驗(yàn)證來達(dá)到產(chǎn)品通過驗(yàn)證并如期上市。 透過板階整合失效分析
2018-08-28 16:32:38
如果基于GaN的HEMT可靠性的標(biāo)準(zhǔn)化測試方法迫在眉睫，那么制造商在幫助同時提供高質(zhì)量GaN器件方面正在做什么？ GaN高電子遷移率晶體管（HEMT）由于其極高的耐高溫性和高功率密度而在半導(dǎo)體行業(yè)中
2020-09-23 10:46:20
qualification recipe）即可。由于長期的業(yè)界經(jīng)驗(yàn)和可靠性模型的驗(yàn)證，人們現(xiàn)在可以接受將基于標(biāo)準(zhǔn)的測試用于硅材料的做法，不過也有例外的情況。功率金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管
2018-09-10 14:48:19
的問題，可靠性解決的是一段時間以后的問題。Quality的問題解決方法往往比較直接，設(shè)計(jì)和制造單位在產(chǎn)品生產(chǎn)出來后，通過簡單的測試就可以知道產(chǎn)品性能是否達(dá)到SPEC的要求，這種測試在IC的設(shè)計(jì)和制造單位就可以
2019-11-23 09:59:07
、15min關(guān)的循環(huán)測試到壽命終了，對LED產(chǎn)品的測量顯然不現(xiàn)實(shí)。因此有必要對LED產(chǎn)品采用加速老化壽命試驗(yàn)[1]，同時，也應(yīng)當(dāng)測試LED的熱學(xué)特性、環(huán)境耐候性、電磁兼容抗擾度等與壽命和可靠性密切相關(guān)
2015-08-04 17:42:14
LabVIEW開發(fā)的測試環(huán)境要如何驗(yàn)證自身的可靠性呢？這個環(huán)境是用來測試汽車儀表用的，可是不能保證環(huán)境自身的可靠性，那么測試的結(jié)果也就沒有意義了。請高人指點(diǎn)下~！！
2017-09-26 08:07:49
可靠性是另一關(guān)注的重點(diǎn)。目前，環(huán)球儀器SMT工藝實(shí)驗(yàn)室正在進(jìn)行的另一個項(xiàng)目就是堆疊裝配可靠性研究。從目前采用跌落測試的研究結(jié)果來看，失效主要發(fā)生在兩層元件之間的連接。位置主要集中在元件角落處
2018-09-06 16:24:30
本文就SiC-MOSFET的可靠性進(jìn)行說明。這里使用的僅僅是ROHM的SiC-MOSFET產(chǎn)品相關(guān)的信息和數(shù)據(jù)。另外，包括MOSFET在內(nèi)的SiC功率元器件的開發(fā)與發(fā)展日新月異，如果有不明之處或希望
2018-11-30 11:30:41
進(jìn)行半導(dǎo)體元器件的評估時，電氣/機(jī)械方面的規(guī)格和性能當(dāng)然是首先要考慮的，而可靠性也是非常重要的因素。尤其是功率元器件是以處理較大功率為前提的，更需要具備充分的可靠性。SiC-SBD的可靠性SiC作為
2018-11-30 11:50:49
費(fèi)舍爾科技有限公司，專注與環(huán)境與可靠性試驗(yàn)設(shè)備的研發(fā)、生產(chǎn)與銷售，產(chǎn)品有：鹽霧試驗(yàn)箱、高低溫（交變）濕熱試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、紫外光耐氣候試驗(yàn)箱、氙燈耐氣候試驗(yàn)箱、臭氧老化試驗(yàn)箱、熱老化試驗(yàn)
2008-09-22 16:46:32
知道這些基本元器件、部件的可靠性和由其構(gòu)成的系統(tǒng)的可靠性的關(guān)系。 描述基本元器件、部件的可靠性的基本數(shù)據(jù)可由生產(chǎn)廠家提供、或通過試驗(yàn)獲得、或通過實(shí)際觀察的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)或經(jīng)驗(yàn)得到。基本元器件、部件的可靠性
2016-09-03 15:47:58
、軍事、電子等軍工工業(yè)，隨后逐漸擴(kuò)展到民用工業(yè)。60年代，隨著航空航天工業(yè)的迅速發(fā)展，可靠性設(shè)計(jì)和試驗(yàn)方法被接受和應(yīng)用于航空電子系統(tǒng)中，可靠性工程得到迅速發(fā)展！1965年，美國頒發(fā)了《系統(tǒng)與設(shè)備
2020-07-03 11:09:11
1952年3月便提出了具有深遠(yuǎn)影響的建議；研究成果首先應(yīng)用于航天、軍事、電子等軍工工業(yè)，隨后逐漸擴(kuò)展到民用工業(yè)。60年代，隨著航空航天工業(yè)的迅速發(fā)展，可靠性設(shè)計(jì)和試驗(yàn)方法被接受和應(yīng)用于航空電子系統(tǒng)中
2020-07-03 11:18:02
基于行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)、國家標(biāo)準(zhǔn)的可靠性測試方法企業(yè)設(shè)計(jì)的可靠性測試方法
2021-03-08 07:55:20
、可靠性驗(yàn)收試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)。可靠性六大實(shí)驗(yàn)的分工與職責(zé)不同，各有所能，為人們服務(wù)的目的、對象、適用時機(jī)都不同（見下表）。名字職責(zé)目的適用對象適用時機(jī)環(huán)境應(yīng)力篩選ESS發(fā)現(xiàn)和排除不良元器件、制造工藝
2019-07-23 18:29:15
軍用電子元器件二篩，二次篩選試驗(yàn)，進(jìn)口元器件可靠性篩選試驗(yàn)
按性質(zhì)分類：
（1）檢查篩選：顯微鏡檢查、紅外線非破壞檢查、X射線非破壞性檢查。
（2）密封性篩選：液浸檢漏、氦質(zhì)譜檢漏、放射性示蹤檢漏
2023-06-08 09:17:22
單片GaN器件集成驅(qū)動功率轉(zhuǎn)換的效率、密度和可靠性
2023-06-21 09:59:28
；可靠性測試記錄。 (2)最大的系統(tǒng)集成最大的系統(tǒng)集成可以最大限度簡化系統(tǒng)構(gòu)成，有助于減少系統(tǒng)硬件失誤概率。最大的系統(tǒng)集成應(yīng)具備：依靠器件解決的思想；單片機(jī)選擇實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)的最大包容；0EM 的支持。 2．
2021-01-11 09:34:49
可靠性設(shè)計(jì)是單片機(jī)應(yīng)甩系統(tǒng)設(shè)計(jì)必不可少的設(shè)計(jì)內(nèi)容。本文從現(xiàn)代電子系統(tǒng)的可靠性出發(fā)，詳細(xì)論述了單片機(jī)應(yīng)用系統(tǒng)的可靠性特點(diǎn)。提出了芯片選擇、電源設(shè)計(jì)、PCB制作、噪聲失敏控制、程序失控回復(fù)等集合硬件系統(tǒng)
2021-02-05 07:57:48
`疊層電感磁珠可靠性實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目有哪些？`
2011-10-16 19:34:50
。G.Cassanelli對大功率白光LED的早期突然失效進(jìn)行了試驗(yàn)分析，認(rèn)為電極Ag與封裝材料中的硫磺反應(yīng)生成Ag2S，從而增大電阻以至完全開路造成器件的失效。從可靠性的一般觀點(diǎn)認(rèn)為，在LED器件中觀察到的大部分失效機(jī)制
2011-08-19 08:41:03
為了FPGA保證設(shè)計(jì)可靠性, 需要重點(diǎn)關(guān)注哪些方面？
2019-08-20 05:55:13
如何克服ACS測試系統(tǒng)和SMU的可靠性測試挑戰(zhàn)？
2021-05-11 06:11:18
摘 要 本文針對目前嵌入式軟件設(shè)計(jì)可靠性測試用例的手段主要依靠手工分析，沿用傳統(tǒng)的軟件測試用例設(shè)計(jì)方法進(jìn)行，不能夠滿足可靠性測試用例設(shè)計(jì)的基本要求的問題，設(shè)計(jì)了一套行之有效的可靠性測試用例自動生成
2021-10-27 06:10:28
什么是微波功率晶體管？如何提高微波功率晶體管可靠性？
2021-04-06 09:46:57
如何采用功率集成模塊設(shè)計(jì)出高能效、高可靠性的太陽能逆變器？
2021-06-17 06:22:27
。因此，硬件可靠性設(shè)計(jì)在保證元器件可靠性的基礎(chǔ)上，既要考慮單一控制單元的可靠性設(shè)計(jì)，更要考慮整個控制系統(tǒng)的可靠性設(shè)計(jì)。
2021-01-25 07:13:16
當(dāng)今社會，市場競爭日益激烈，品牌企業(yè)之間競爭的焦點(diǎn)不僅局限在產(chǎn)品的功能與外觀，產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性越來越受到市場和客戶的重視。安博檢測股份近年來加大對環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的投入，配備了各種環(huán)境測試設(shè)備。通過
2018-12-04 18:12:47
提高PCB設(shè)備可靠性的技術(shù)措施：方案選擇、電路設(shè)計(jì)、電路板設(shè)計(jì)、結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、元器件選用、制作工藝等多方面著手，具體措施如下： （1）簡化方案設(shè)計(jì)。方案設(shè)計(jì)時，在確保設(shè)備滿足技術(shù)、性能指標(biāo)的前提下，應(yīng)盡
2018-09-21 14:49:10
強(qiáng)度測試、彎曲測試等，將傳統(tǒng)對于電子元器件著重于電性與環(huán)境溫濕度關(guān)聯(lián)度的試驗(yàn)范疇，擴(kuò)展到應(yīng)力與機(jī)構(gòu)，做一個先期驗(yàn)證。為了滿足車用「板階(Board Level)」客戶需求，建置相關(guān)設(shè)備能良，并結(jié)合車用芯片與車用系統(tǒng)，可提供您完整的可靠性驗(yàn)證環(huán)境。
2018-09-06 16:56:38
)，都在考驗(yàn)著汽車電子產(chǎn)品的可靠性。本文簡單整理出汽車電子產(chǎn)品相關(guān)的環(huán)境可靠性試驗(yàn)條件，以提供給廣大客戶參考。 目前世界范圍內(nèi)，針對汽車電子產(chǎn)品有很多環(huán)境可靠性測試方面的要求及標(biāo)準(zhǔn)，而常用的標(biāo)準(zhǔn)主要有ISO
2016-02-23 21:22:20
幫幫忙。一般汽車車燈的可靠性標(biāo)準(zhǔn)要求是怎么樣的？像高溫測試是測多少度多久的。像前大燈和霧燈，尾燈這類的
2014-05-05 23:27:49
試驗(yàn)，電壓暫降測試，騷擾功率試驗(yàn)，電磁抗擾試驗(yàn)室，射頻測試，電磁場輻射試驗(yàn)，抗繞度試驗(yàn)，電瞬態(tài)干擾試驗(yàn)，插入損耗試驗(yàn)等。
可靠性試驗(yàn)/可靠性測試：
可靠性強(qiáng)化試驗(yàn)，加速壽命試驗(yàn)（halt），環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)（ess），可靠性驗(yàn)收試驗(yàn)，可靠性鑒定試驗(yàn)，可靠性增長試驗(yàn)。
2023-05-23 15:55:57
滿足電工電子產(chǎn)品型式試驗(yàn)項(xiàng)目要求，致力于為各電氣產(chǎn)業(yè)廠商提供專業(yè)可靠的電工電子產(chǎn)品可靠性測試、改進(jìn)服務(wù)。 測試中心遵循CNAS-CL01/ISO 17025《檢測和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室能力認(rèn)可準(zhǔn)》建立科學(xué)規(guī)范
2016-01-18 10:42:33
淺談手機(jī)環(huán)境可靠性試驗(yàn) 本文關(guān)鍵字: 手機(jī) 環(huán)境可靠性 本文簡要介紹了手機(jī)環(huán)境可靠性試驗(yàn)的目的、內(nèi)容，在試驗(yàn)中容易出現(xiàn)的故障，指出了目前在手機(jī)環(huán)境可靠性測試中存在的問題。1 引言 隨著社會
2009-11-13 22:31:55
，壓力，太陽輻射，砂塵，淋雨等。受試產(chǎn)品應(yīng)根據(jù)其未來的使用環(huán)境條件及受影響程度對試驗(yàn)項(xiàng)目進(jìn)行甄選，一般應(yīng)考察10個以上環(huán)境應(yīng)力。而可靠性試驗(yàn)由于要進(jìn)行綜合模擬，只將綜合環(huán)境應(yīng)力（溫度，濕度，振動）與電
2022-01-13 14:03:37
不同的產(chǎn)品，為了達(dá)到不同的目的，可以選擇不同的可靠性試驗(yàn)方法。可靠性試驗(yàn)有多種分類方法.1. 如以環(huán)境條件來劃分,可分為包括各種應(yīng)力條件下的模擬試驗(yàn)和現(xiàn)場試驗(yàn)；2. 以試驗(yàn)項(xiàng)目劃分，可分為環(huán)境試驗(yàn)、壽命
2015-08-04 17:34:26
電子產(chǎn)品的可靠性試驗(yàn)，不看肯定后悔
2021-05-12 06:11:07
不同以及原材料及工藝流程不同時，其失效機(jī)理就不一定相同，因而可靠性篩選的條件也應(yīng)有所不同。因此，必須針對各種具體產(chǎn)品進(jìn)行大量的可靠性試驗(yàn)和篩選摸底試驗(yàn)，從而掌握產(chǎn)品失效機(jī)理與篩選項(xiàng)目間的關(guān)系。元器件篩選方案
2016-11-17 22:41:33
情況下的穩(wěn)定運(yùn)行能力以評估可靠性。測試方法a、額定電壓輸入，用雙蹤示波器測試輸入電壓波形合過壓保護(hù)信號，輸入電壓從限功率點(diǎn)加5v跳變?yōu)?00v，從示波器上讀出過壓保護(hù)前300v的周期數(shù)n，作為以下試驗(yàn)
2018-10-30 14:55:06
，器件環(huán)境受到機(jī)箱內(nèi)其他器件散熱的影響，一般器件環(huán)境溫度比整機(jī)環(huán)境溫度要高。第二，大家能回想到本次演講開頭的第三個問題，詳情查閱《器件環(huán)境溫度與負(fù)荷特性曲線的常見錯誤》。誤區(qū)5：電子可靠性跟機(jī)械、軟件
2016-11-14 19:59:32
`電路可靠性設(shè)計(jì)與測試 [hide][/hide]`
2011-07-25 09:06:47
就可以做設(shè)計(jì)呢，難道僅僅是因?yàn)槲覀兊腻e誤不會死人？于是，針對這個現(xiàn)象，專門開發(fā)了《電路可靠性設(shè)計(jì)與元器件選型》這門培訓(xùn)課程，為一線的產(chǎn)品開發(fā)工程師、質(zhì)量工程師、技術(shù)管理者、測試工程師等提供針對性的思維
2010-04-26 22:05:30
就可以做設(shè)計(jì)呢，難道僅僅是因?yàn)槲覀兊腻e誤不會死人？于是，針對這個現(xiàn)象，專門開發(fā)了《電路可靠性設(shè)計(jì)與元器件選型》這門培訓(xùn)課程，為一線的產(chǎn)品開發(fā)工程師、質(zhì)量工程師、技術(shù)管理者、測試工程師等提供針對性的思維
2010-04-26 22:11:44
就可以做設(shè)計(jì)呢，難道僅僅是因?yàn)槲覀兊腻e誤不會死人？于是，針對這個現(xiàn)象，專門開發(fā)了《電路可靠性設(shè)計(jì)與元器件選型》這門培訓(xùn)課程，為一線的產(chǎn)品開發(fā)工程師、質(zhì)量工程師、技術(shù)管理者、測試工程師等提供針對性的思維
2010-04-26 22:20:16
更多的人參與進(jìn)來，更廣泛的理解和應(yīng)用。2、電路可靠性設(shè)計(jì)規(guī)范電路可靠性設(shè)計(jì)規(guī)范包括降額設(shè)計(jì)（降額參數(shù)和降額因子）、熱設(shè)計(jì)（熱設(shè)計(jì)計(jì)算、熱設(shè)計(jì)測試、熱器件選型）、電路安全性設(shè)計(jì)規(guī)范、EMC
2010-04-26 22:16:16
泛的理解和應(yīng)用。2、電路可靠性設(shè)計(jì)規(guī)范電路可靠性設(shè)計(jì)規(guī)范包括降額設(shè)計(jì)（降額參數(shù)和降額因子）、熱設(shè)計(jì)（熱設(shè)計(jì)計(jì)算、熱設(shè)計(jì)測試、熱器件選型）、電路安全性設(shè)計(jì)規(guī)范、EMC設(shè)計(jì)、PCB設(shè)計(jì)（布局布線、接地
2010-04-26 22:18:35
設(shè)計(jì)呢，難道僅僅是因?yàn)槲覀兊腻e誤不會死人？于是，針對這個現(xiàn)象，專門開發(fā)了《電路可靠性設(shè)計(jì)與元器件選型》這門培訓(xùn)課程，為一線的產(chǎn)品開發(fā)工程師、質(zhì)量工程師、技術(shù)管理者、測試工程師等提供針對性的思維方法
2009-12-04 14:32:45
設(shè)計(jì)規(guī)范電路可靠性設(shè)計(jì)規(guī)范包括降額設(shè)計(jì)（降額參數(shù)和降額因子）、熱設(shè)計(jì)（熱設(shè)計(jì)計(jì)算、熱設(shè)計(jì)測試、熱器件選型）、電路安全性設(shè)計(jì)規(guī)范、EMC設(shè)計(jì)、PCB設(shè)計(jì)（布局布線、接地、阻抗匹配、加工工藝）、可用性
2009-12-18 16:29:17
，設(shè)計(jì)時需要謹(jǐn)慎確認(rèn)該器件在我們電路中的靜態(tài)工作點(diǎn)。 誤區(qū)7：可維修性跟我無關(guān) 電子產(chǎn)品可靠性工作的目的是什么?是賺錢。賺錢靠什么?開源和節(jié)流，開源難，節(jié)流易，不要總想著從材料費(fèi)上省，材料費(fèi)省了，維修費(fèi)
2018-02-27 09:58:15
接插件）。現(xiàn)在狀態(tài)是PCB板基本功能都已測試都過。現(xiàn)在公司讓小弟做PCB板硬件可靠性方面的工作（證明電路板可靠度，如果不可靠的話找到薄弱環(huán)節(jié)）.現(xiàn)在電路板的數(shù)量不多（3-5塊），大批量做可靠性實(shí)驗(yàn)不太
2017-02-22 09:49:18
特性與產(chǎn)品在長時間、低應(yīng)力作用下表現(xiàn)出來的特性是一致的。對13種不同應(yīng)力的篩選結(jié)果調(diào)查表明， 溫度循環(huán)是最有效的篩選， 其次是隨機(jī)振動。因此， 將溫度試驗(yàn)平臺與振動試驗(yàn)平臺做為可靠性強(qiáng)化測試平臺（圖1）。 維庫PDF下載：硅壓力傳感器的可靠性強(qiáng)化試驗(yàn).rar
2018-11-05 15:37:57
我想問一下高速電路設(shè)計(jì)，是不是只要做好電源完整性分析和信號完整性分析，就可以保證系統(tǒng)的穩(wěn)定了。要想達(dá)到高的可靠性，要做好哪些工作啊？在網(wǎng)上找了好久，也沒有找到關(guān)于硬件可靠性的書籍。有經(jīng)驗(yàn)的望給點(diǎn)提示。
2015-10-23 14:47:17
（AEC-Q101）的要求提高到77片。HTRB、HVH3TRB、TC、AC/PCT、IOL、HTGB試驗(yàn)是驗(yàn)證器件可靠性的主要項(xiàng)目： HTRB（高溫反偏測試） HTRB是分立器件可靠性最重要的一個試驗(yàn)
2023-02-28 16:59:26
產(chǎn)品可靠性是指，在一定條件下產(chǎn)品無故障地執(zhí)行指定功能的能力或可能性。線束端子可靠性試驗(yàn)即是評估端子滿足電氣連接可靠性的能力。本文主要談?wù)劧俗?b class="flag-6" style="color: red">可靠性測試試驗(yàn)的具體內(nèi)容及意義。 端子可靠性試驗(yàn)涉及
2021-01-12 16:24:16
本帖最后由 testest 于 2020-5-17 20:51 編輯
芯片IC可靠性測試、靜電測試、失效分析芯片可靠性驗(yàn)證 ( RA)芯片級預(yù)處理(PC)& MSL試驗(yàn)
2020-05-17 20:50:12
芯片IC可靠性測試、靜電測試、失效分析芯片可靠性驗(yàn)證 ( RA)芯片級預(yù)處理(PC) & MSL試驗(yàn) 、J-STD-020 & JESD22-A113 ；高溫存儲試驗(yàn)(HTSL
2020-04-26 17:03:32
剛剛接觸PCBA可靠性，感覺和IC可靠性差異蠻大，也沒有找到相應(yīng)的測試標(biāo)準(zhǔn)。請問大佬們在做PCBA可靠性時是怎么做的，測試條件是根據(jù)什么設(shè)定？
2023-02-15 10:21:14
急求幫助 硬件設(shè)計(jì)說明中的可靠性設(shè)計(jì)包含哪些？現(xiàn)在需要整理項(xiàng)目的一些文檔，關(guān)于可靠性設(shè)計(jì)要提供哪些文檔一頭霧水，求前輩指點(diǎn)一下！不勝感激！
2020-04-08 03:04:58
車載電子設(shè)備可靠性測試標(biāo)準(zhǔn)及項(xiàng)目匯總一、綜述汽車的控制系統(tǒng)是以高端電子設(shè)備為基礎(chǔ)，因此電子控制設(shè)備的可靠性對整車的可靠性起主導(dǎo)作用。一般來說，使用環(huán)境會影響到電子設(shè)備和單元的耐久性以及操作性能。因此
2022-01-12 08:07:28
我選用的一款Nor FLASH芯片 ，型號 PC28F00BP30EF，工業(yè)級，適應(yīng)溫度為-40~85攝氏度，而由于項(xiàng)目要求，篩選試驗(yàn)低溫使用-45攝氏度進(jìn)行實(shí)驗(yàn)，實(shí)驗(yàn)正常，情況篩選完成后元器件的可靠性是否能夠得到保障？若篩選實(shí)驗(yàn)通過 ，后續(xù)不再超溫使用，是否存在問題？
2019-05-04 22:30:37
；C、功能要求應(yīng)用的環(huán)境，特別是溫度、濕度、腐蝕性等，決定了哪些自身的失效機(jī)理會發(fā)生作用，而連接器功能的要求，決定了怎樣的失效程度是允許的。 了解連接器的可靠性，一般會對連接器進(jìn)行各種測試，測試一般
2018-02-26 13:19:23
封裝可靠性最重要的可靠性測試，也是進(jìn)行器件壽命模型建立和壽命評估的根本。服務(wù)范圍車規(guī)級功率器件模塊及基于分立器件的等效特殊設(shè)計(jì)產(chǎn)品。檢測標(biāo)準(zhǔn)● DINENISO/
2024-01-29 22:46:02
服務(wù)范圍橫向科研技術(shù)?持和服務(wù)、軌道交通、核電、裝備領(lǐng)域板卡失效分析、可靠性壽命試驗(yàn)方案及可靠性提升方案開發(fā)與執(zhí)行。檢測項(xiàng)目基于壽命特征分析的板卡壽命及剩余壽命研究：l 板卡X-ray
2024-03-15 17:27:02
LED產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)與應(yīng)用
本文主要站在LED制造者或使用者的立場來探討對應(yīng)不同的使用環(huán)境與場所，較具有效益的可靠性試驗(yàn)項(xiàng)目以及這些試驗(yàn)的
2009-12-11 21:46:47
1338 本文闡述了一種電機(jī)用功率 VDMOS 器件的可靠性試驗(yàn)方案和試驗(yàn)過程。對不同驅(qū)動電壓下VDMOS器件所能承受的最人供電電壓進(jìn)行了測試，分別在輕、重負(fù)載下對器件進(jìn)行不同驅(qū)動電壓的電
2011-07-22 11:32:57
37 本文首先介紹了可靠性測試的概念與分類，其次介紹了壽命測試屬于可靠性測試及其作用，最后介紹了有效的壽命測試項(xiàng)目及壽命試驗(yàn)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。
2018-05-14 09:40:4616177 
技術(shù)條件規(guī)定的項(xiàng)目進(jìn)行可靠性試驗(yàn)。此外還需要逐批或按一定期限進(jìn)行可靠性抽樣試驗(yàn)。通過對產(chǎn)品的可靠性試驗(yàn)可以了解產(chǎn)品質(zhì)量的穩(wěn)定程度。若因原材料質(zhì)量較差或工藝流程失控等原因造成產(chǎn)品質(zhì)量下降，在產(chǎn)品的可靠性
2018-06-28 18:38:50718 端子線檢查一般涉及以下項(xiàng)目：插拔力試驗(yàn)、耐久性試驗(yàn)、絕緣電阻試驗(yàn)、振動試驗(yàn)、機(jī)械沖擊試驗(yàn)、冷熱沖擊試驗(yàn)、混合氣體腐蝕試驗(yàn)等。
端子線可靠性測試項(xiàng)目有哪些？
端子線的具體測試項(xiàng)目如下
2023-01-06 14:31:431172 
本測試設(shè)備可對大功率IGBT器件進(jìn)行功率循環(huán)耐久性試驗(yàn)，以確認(rèn)IGBT器件承受結(jié)溫波動的能力，通過試驗(yàn)前后各種電參數(shù)變化判斷IGBT器件內(nèi)部制造工藝可靠性及器件的使用壽命，用于研究電力電子
2023-02-23 09:48:244 功率器件可靠性
2023-08-07 14:51:532 ? 走進(jìn)龍騰實(shí)驗(yàn)室 功率器件可靠性試驗(yàn)測試項(xiàng)目系列專題（一） ? 可靠性實(shí)驗(yàn)室介紹 ? 龍騰半導(dǎo)體建有功率器件可靠性與應(yīng)用實(shí)驗(yàn)中心，專注于產(chǎn)品設(shè)計(jì)驗(yàn)證、參數(shù)檢測、可靠性驗(yàn)證、失效分析及應(yīng)用評估，公司
2023-09-12 10:23:45698 
電子元器件可靠性測試是保證元器件性能和質(zhì)量的一個重要測試項(xiàng)目，同時也是電子設(shè)備可靠性的基礎(chǔ)。常見的可靠性測試項(xiàng)目有機(jī)械沖擊測試、高溫存儲測試、溫度循壞測試、引線鍵合強(qiáng)度測試等。
2023-10-11 14:49:05350 
芯片的老化試驗(yàn)及可靠性如何測試？ 芯片的老化試驗(yàn)及可靠性測試是評估芯片性能和使用壽命的關(guān)鍵步驟。老化試驗(yàn)旨在模擬芯片在長期使用過程中可能遭遇的各種環(huán)境和應(yīng)激，并確定芯片的可靠性和耐久性。本文將詳細(xì)
2023-11-09 09:12:011122 可靠性測試是半導(dǎo)體器件測試的一項(xiàng)重要測試內(nèi)容，確保半導(dǎo)體器件的性能和穩(wěn)定性，保證其在各類環(huán)境長時間工作下的穩(wěn)定性。半導(dǎo)體可靠性測試項(xiàng)目眾多，測試方法多樣，常見的有高低溫測試、熱阻測試、機(jī)械沖擊測試、引線鍵合強(qiáng)度測試等。
2023-11-09 15:57:52748 
器件可靠性驗(yàn)證是GR-468最重要的一個項(xiàng)目，標(biāo)準(zhǔn)對光電子器件可靠性試驗(yàn)的執(zhí)行程序與主要項(xiàng)目（測試項(xiàng)，試驗(yàn)條件，樣本量等）進(jìn)行了說明。主要測試內(nèi)容分為器件性能測試、器件應(yīng)力測試和器件加速老化測試。
2023-11-10 17:47:27628 
半導(dǎo)體可靠性測試主要是為了評估半導(dǎo)體器件在實(shí)際使用過程中的可靠性和穩(wěn)定性。這些測試項(xiàng)目包括多種測試方法和技術(shù)，以確保產(chǎn)品的性能、質(zhì)量和可靠性滿足設(shè)計(jì)規(guī)格和用戶需求。下面是關(guān)于半導(dǎo)體可靠性測試的詳細(xì)
2023-12-20 17:09:04697
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