鎖相環(huán)性能度量標準包括品質(zhì)因數(shù)、噪聲基底、閃爍噪聲模型。

一個理想鎖相振蕩器的相位噪聲主要取決于以下因素：

a.VCO的頻率和鑒相器；

b.VCO的靈敏度kvco、VCO和參考振蕩器相位噪聲曲線;

c.電荷泵電流、環(huán)路濾波器和環(huán)路帶寬；

d.工作模式：整數(shù)、小數(shù)調(diào)制樣式。

(1)PLL相位噪聲

鎖相環(huán)對輸出相位噪聲的貢獻可以用PLL噪聲基底及PLL閃爍噪聲（又叫1/f噪聲）的品質(zhì)因數(shù)來表征，見下式（1）：

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（3）品質(zhì)因數(shù)的計算方法

品質(zhì)因數(shù)（FOM）本質(zhì)上是PLL和VCO的歸一化噪聲參數(shù)，它有助于快速評估PLL在所要求的VCO、頻偏及鑒相器頻率下的性能水平。一般來說，合成器在閉環(huán)帶寬內(nèi)以PLL IC噪聲為主；在環(huán)路帶寬外（在遠離載頻的頻偏）以VCO開環(huán)相位噪聲為主。

因此，通過將環(huán)路帶寬設(shè)置為PLL相位噪聲曲線與VCO自由運行相位噪聲曲線相交點對應(yīng)的頻率值【即PLL相位噪聲曲線與VCO開環(huán)相位噪聲曲線相交于一點，環(huán)路帶寬等于該點對應(yīng)的頻率】，來快速評估PLL的閉環(huán)性能。

品質(zhì)因數(shù)在估計噪聲參數(shù)時也有用，這些噪聲參數(shù)會輸入到閉環(huán)設(shè)計工具（比如Hittite PLL Design），Hittite PLL Design工具能夠給出關(guān)于閉環(huán)相位噪聲的更準確評估，以及PLL環(huán)路濾波器的元件值。

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